半导体装置的制造方法
    32.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1873950B

    公开(公告)日:2010-06-23

    申请号:CN200610088624.9

    申请日:2006-05-31

    CPC classification number: H01L27/1266 H01L27/1214

    Abstract: 提供一种低成本和薄厚度的薄膜集成电路,不像常规玻璃基板或单晶硅基板,该薄膜集成电路适于大规模生产,以及一种薄膜集成电路装置或具有该薄膜集成电路的IC芯片的结构和工艺。半导体装置的制造方法包括以下步骤:在硅基板的一个表面上形成第一绝缘薄膜、在该第一绝缘薄膜上形成至少具有两个薄膜集成电路的层、形成覆盖该具有薄膜集成电路的层的树脂层、形成覆盖该树脂层的薄膜、研磨硅基板的形成具有薄膜集成电路的层的一个表面的背面,并抛光硅基板的研磨的表面。

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