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公开(公告)号：CN117249794A
公开(公告)日：2023-12-19
申请号：CN202311241508.6
申请日：2023-09-25
Applicant: 杭州电子科技大学
Abstract: 本发明公开了基于并联结构的关节臂坐标测量机测头及其姿态检测方法；该关节臂坐标测量机测头，包括基板、第一直线位移传感器、第二直线位移传感器、翻转盘、测杆和末端测球。第一直线位移传感器的一端与基板构成球面副。第一直线位移传感器的另一端与翻转盘构成球面副。第二直线位移传感器的一端与基板固定。第二直线位移传感器的另一端与翻转盘构成球面副；所述测杆的内端安装在翻转盘上；所述测杆的外端与末端测球固定。本发明利用六边形排布的六个第一直线位移传感器和位于中心位置的第二直线位移传感器的检测值获取测头的两轴翻转角度和伸缩量，从而在提高测头灵活性的同时实现坐标的精准采集。
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公开(公告)号：CN115790363A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202211357134.X
申请日：2022-11-01
Applicant: 杭州电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种脱离基准平面的平面度误差测量方法；该测量方法如下：一、使用两个非接触位移传感器相对于被测平面绕同一轴线旋转一周并采样，得到两个数据集；三、利用两个数据集的线性组合消除旋转的轴向误差，获得被测面的平面度误差。本发明采用两个位移传感器相对于被测平面沿同一轨迹旋转并采样后，利用自行推导的平面度误差处理的公式，对两个位移传感器的测量结果中耦合的轴向回转误差予以分离，从而在未提高机械结构精度的情况下得到精确的平面度误差，避免了高精度基准平面的使用，实现高效率、低成本和高精度的平面度误差测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115218791A
公开(公告)日：2022-10-21
申请号：CN202210842290.9
申请日：2022-07-18
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开了一种基于双探针的主轴回转误差测量方法。该方法如下：一、在被测主轴上同轴安装柱状样本。沿柱状样本径向布置探针装置；两个探针装置同时在轻敲模式下进行数据采集后，再同时在接触模式下进行数据采集。在轻敲模式的数据采集中，被测主轴转动多周，获取多组位移数据。在接触模式下，被测主轴转动一周，在被测主轴上留下刻划痕迹。二、根据位移数据计算主轴的倾角误差；三、根据刻划痕迹获得被测主轴的轴向误差。本发明通过探针刻划功能，得到径向位移数据以及刻划痕迹，配合相应的计算，能够同时测得被测主轴倾角误差、径向误差和轴向误差，由此能够精准评估被测主轴的回转精度。
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公开(公告)号：CN115431100B
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202211212019.3
申请日：2022-09-30
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: B23Q17/09
Abstract: 本发明公开了一种快速刀具伺服装置的切削力监测及位移控制系统，其应用于压电叠堆调节刀具背吃刀量的机床。该系统包括位移及切削力自感知模块、削力监控模块和反馈控制模块。位移及切削力自感知模块用于根据切削过程中压电叠堆的驱动电压和电荷信号获得刀具的位移值以及三向切削力；切削力监控模块用于根据输入的切削力构成三向切削力图谱；反馈控制模块用于将根据位移得到的反馈信号转化为控制电压，输出至压电驱动器，构成反馈控制。本发明在压电叠堆调节刀具背吃刀量的机床中利用压电自感知原理，使压电叠堆同时作为驱动器和传感器，无需引入额外力传感器和位移传感器即可完成径向切削力以及位移值的实时测量，有利于刀具系统的集成化。
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公开(公告)号：CN114608484A
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN202210320317.8
申请日：2022-03-29
Applicant: 杭州电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于PSD的主轴倾角误差测量方法及装置。该测量方法如下：一、在被测主轴上偏心安装两个激光器；两个激光器沿着被测主轴的径向对齐，且沿着主轴的轴向错开。并在主轴的端部外侧设置PSD传感器；PSD传感器能够检测两个激光器在被测主轴转动过程中的光斑轨迹。二、启动PSD传感器和两个激光器；主轴开始转动；PSD传感器分别记录两个激光器随主轴转动一周的光斑轨迹坐标。三、计算主轴倾角误差。本发明通过将两个激光器沿径向对齐，沿轴向错开安装，并通过PSD传感器记录两个激光器跟随主轴转动时的光斑轨迹，配合相应的计算，能够同时测得被测主轴倾角误差和径向跳动误差，由此能够精准评估被测主轴的回转精度。
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公开(公告)号：CN217453219U
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202220706007.5
申请日：2022-03-29
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: B23Q17/24
Abstract: 本实用新型公开了一种基于PSD的主轴回转误差测量装置；该主轴回转误差测量装置包括回转检测部分和光斑轨迹采集传感器。所述的回转检测部分包括检测轴、套环和激光器。套环滑动连接在检测轴的外侧。套环能够在检测轴轴线方向上的多个位置保持固定。套环的外端面与检测轴的外端面错开。两个激光器分别固定在检测轴、套环的外端面上。激光器射出的激光在光斑轨迹采集传感器的检测范围内。本实用新型的套环和检测轴上的激光器均能够在主轴转动中形成光斑轨迹，且套环的轴向位置能够调节，从而能够获得更多光斑轨迹；每条光斑轨迹均能够得到获得一组径向跳动误差数据，从而提高主轴回转误差的检测精度。
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公开(公告)号：CN217930170U
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202221846316.9
申请日：2022-07-18
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G01B11/00 , G01B11/27 , G01B9/02015
Abstract: 本实用新型公开了一种光学检测式主轴回转误差测量装置。该测量装置包括激光干涉仪、第一角锥反射镜、第二角锥反射镜和第一分光镜。所述的激光干涉仪、第一分光镜、第二角锥反射镜沿着被测主轴的轴线方向依次排列。测量过程中，第二角锥反射镜同轴固定安装在被测主轴的端部。第一角锥反射镜安装在第一分光镜的侧部。本实用新型在主轴的端部设置锥角反光镜，利用激光干涉原理测量主轴轴向误差，实现高精度测量仅对光学器件精度有较高要求，对检测安装部分的加工精度、安装精度的要求较低。此外，本实用新型仅在轴向检测的基础上增设了一组分光镜和PSD传感器，再未额外增设光源的情况下就同步实现了径向误差检测。
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