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公开(公告)号：CN113670196A
公开(公告)日：2021-11-19
申请号：CN202110843765.1
申请日：2021-07-26
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种无标准棒的精密主轴径向跳动测量方法及装置。目前，主轴径向跳动测量常使用标准棒，会在测量系统中引入圆度误差和安装偏心误差。该精密主轴径向跳动测量装置包括激光器安装圆盘、激光器和CMOS传感器。激光器安装圆盘固定在主轴端面上。所述的激光器安装在激光器安装圆盘上。所述的CMOS传感器平面垂直于主轴轴线，且设置在激光器安装圆盘的外侧。本发明通过CMOS传感器与跟随主轴转动的激光器相配合，能够直接获取主轴的径向跳动，测量过程中不需要使用标准棒，故能够避免常用测量方法所需要的偏心误差分离和圆度误差分离技术环节，提高了测量效率。
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公开(公告)号：CN115218792A
公开(公告)日：2022-10-21
申请号：CN202210843354.7
申请日：2022-07-18
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开了一种基于光学原理的主轴回转误差测量方法及装置。该主轴回转误差测量方法如下：一、构建坐标系；二、利用光干涉原理测量主轴的轴向误差，将轴向误差测量的试验光中分出一束射向PSD，获得径向误差。本发明在主轴的端部设置锥角反光镜，利用激光干涉原理测量主轴轴向误差，该方式测得的轴向误差不受径向误差的影响，受倾角误差的影响也可以忽略，大大降低了轴向误差结算的复杂度，并提高了检测精度。此外，在检测轴向和径向误差的同时，本发明利用环形反射镜和激光自准直仪同步检测倾角误差，并利用测到倾角误差的数值，对径向误差中由主轴倾角变化带来的测量误差进行分离，提高了径向误差的检测精准性。
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公开(公告)号：CN114608484B
公开(公告)日：2024-05-17
申请号：CN202210320317.8
申请日：2022-03-29
Applicant: 杭州电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于PSD的主轴倾角误差测量方法及装置。该测量方法如下：一、在被测主轴上偏心安装两个激光器；两个激光器沿着被测主轴的径向对齐，且沿着主轴的轴向错开。并在主轴的端部外侧设置PSD传感器；PSD传感器能够检测两个激光器在被测主轴转动过程中的光斑轨迹。二、启动PSD传感器和两个激光器；主轴开始转动；PSD传感器分别记录两个激光器随主轴转动一周的光斑轨迹坐标。三、计算主轴倾角误差。本发明通过将两个激光器沿径向对齐，沿轴向错开安装，并通过PSD传感器记录两个激光器跟随主轴转动时的光斑轨迹，配合相应的计算，能够同时测得被测主轴倾角误差和径向跳动误差，由此能够精准评估被测主轴的回转精度。
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公开(公告)号：CN114166117B
公开(公告)日：2024-05-17
申请号：CN202111384447.X
申请日：2021-11-18
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种基于机器视觉的主轴径向跳动测量方法。该方法如下：一、在被测主轴上安装光靶标。二、被测主轴带动靶标上安装的两个发光点旋转，相机记录下发光点的轨迹图像。三、获得两个圆轨迹的圆心位置和最小二乘圆半径。四、获得被测主轴在不同相位的回转误差。本发明不仅能测出主轴的径向跳动范围，还利用测量靶标上两个相互错开90°的光斑旋转形成的圆轨迹，计算出被测主轴在周转中处于任意相位时的横向与纵向跳动，实现了对被测主轴转动过程中径向跳动的精准测量；此外，本发明舍弃了常用主轴径向跳动测量装置所使用的标准棒，从而避免了常用测量方法所需要的繁杂的误差分离计算。
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公开(公告)号：CN113670196B
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN202110843765.1
申请日：2021-07-26
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种无标准棒的精密主轴径向跳动测量方法及装置。目前，主轴径向跳动测量常使用标准棒，会在测量系统中引入圆度误差和安装偏心误差。该精密主轴径向跳动测量装置包括激光器安装圆盘、激光器和CMOS传感器。激光器安装圆盘固定在主轴端面上。所述的激光器安装在激光器安装圆盘上。所述的CMOS传感器平面垂直于主轴轴线，且设置在激光器安装圆盘的外侧。本发明通过CMOS传感器与跟随主轴转动的激光器相配合，能够直接获取主轴的径向跳动，测量过程中不需要使用标准棒，故能够避免常用测量方法所需要的偏心误差分离和圆度误差分离技术环节，提高了测量效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115218791A
公开(公告)日：2022-10-21
申请号：CN202210842290.9
申请日：2022-07-18
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开了一种基于双探针的主轴回转误差测量方法。该方法如下：一、在被测主轴上同轴安装柱状样本。沿柱状样本径向布置探针装置；两个探针装置同时在轻敲模式下进行数据采集后，再同时在接触模式下进行数据采集。在轻敲模式的数据采集中，被测主轴转动多周，获取多组位移数据。在接触模式下，被测主轴转动一周，在被测主轴上留下刻划痕迹。二、根据位移数据计算主轴的倾角误差；三、根据刻划痕迹获得被测主轴的轴向误差。本发明通过探针刻划功能，得到径向位移数据以及刻划痕迹，配合相应的计算，能够同时测得被测主轴倾角误差、径向误差和轴向误差，由此能够精准评估被测主轴的回转精度。
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公开(公告)号：CN114166117A
公开(公告)日：2022-03-11
申请号：CN202111384447.X
申请日：2021-11-18
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种基于机器视觉的主轴径向跳动测量方法。该方法如下：一、在被测主轴上安装光靶标。二、被测主轴带动靶标上安装的两个发光点旋转，相机记录下发光点的轨迹图像。三、获得两个圆轨迹的圆心位置和最小二乘圆半径。四、获得被测主轴在不同相位的回转误差。本发明不仅能测出主轴的径向跳动范围，还利用测量靶标上两个相互错开90°的光斑旋转形成的圆轨迹，计算出被测主轴在周转中处于任意相位时的横向与纵向跳动，实现了对被测主轴转动过程中径向跳动的精准测量；此外，本发明舍弃了常用主轴径向跳动测量装置所使用的标准棒，从而避免了常用测量方法所需要的繁杂的误差分离计算。
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公开(公告)号：CN114608484A
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN202210320317.8
申请日：2022-03-29
Applicant: 杭州电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于PSD的主轴倾角误差测量方法及装置。该测量方法如下：一、在被测主轴上偏心安装两个激光器；两个激光器沿着被测主轴的径向对齐，且沿着主轴的轴向错开。并在主轴的端部外侧设置PSD传感器；PSD传感器能够检测两个激光器在被测主轴转动过程中的光斑轨迹。二、启动PSD传感器和两个激光器；主轴开始转动；PSD传感器分别记录两个激光器随主轴转动一周的光斑轨迹坐标。三、计算主轴倾角误差。本发明通过将两个激光器沿径向对齐，沿轴向错开安装，并通过PSD传感器记录两个激光器跟随主轴转动时的光斑轨迹，配合相应的计算，能够同时测得被测主轴倾角误差和径向跳动误差，由此能够精准评估被测主轴的回转精度。
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公开(公告)号：CN215810670U
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN202121705239.0
申请日：2021-07-26
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种无标准棒的精密主轴径向跳动测量装置。目前，主轴径向跳动测量常使用标准棒，会在测量系统中引入圆度误差和安装偏心误差。本实用新型包括安装圆盘、滑移调节夹具、激光器和CMOS传感器。滑移调节夹具安装在安装圆盘外侧面，且能够沿安装圆盘的径向调节位置并锁止。滑移调节夹具上设置装夹部。装夹部上固定有激光器。激光器的激光发射方向与安装圆盘的轴线平行。安装圆盘的外侧设置有CMOS传感器。本实用新型通过CMOS传感器与跟随主轴转动的激光器相配合，能够获取主轴上一点的转动轨迹，进而能够推导出主轴的径向跳动；测量过程中不需要使用标准棒，避免了常用测量方法所需要的偏心误差分离和圆度误差分离技术环节。
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公开(公告)号：CN217453219U
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202220706007.5
申请日：2022-03-29
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: B23Q17/24
Abstract: 本实用新型公开了一种基于PSD的主轴回转误差测量装置；该主轴回转误差测量装置包括回转检测部分和光斑轨迹采集传感器。所述的回转检测部分包括检测轴、套环和激光器。套环滑动连接在检测轴的外侧。套环能够在检测轴轴线方向上的多个位置保持固定。套环的外端面与检测轴的外端面错开。两个激光器分别固定在检测轴、套环的外端面上。激光器射出的激光在光斑轨迹采集传感器的检测范围内。本实用新型的套环和检测轴上的激光器均能够在主轴转动中形成光斑轨迹，且套环的轴向位置能够调节，从而能够获得更多光斑轨迹；每条光斑轨迹均能够得到获得一组径向跳动误差数据，从而提高主轴回转误差的检测精度。
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