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公开(公告)号：CN115790363A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202211357134.X
申请日：2022-11-01
Applicant: 杭州电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种脱离基准平面的平面度误差测量方法；该测量方法如下：一、使用两个非接触位移传感器相对于被测平面绕同一轴线旋转一周并采样，得到两个数据集；三、利用两个数据集的线性组合消除旋转的轴向误差，获得被测面的平面度误差。本发明采用两个位移传感器相对于被测平面沿同一轨迹旋转并采样后，利用自行推导的平面度误差处理的公式，对两个位移传感器的测量结果中耦合的轴向回转误差予以分离，从而在未提高机械结构精度的情况下得到精确的平面度误差，避免了高精度基准平面的使用，实现高效率、低成本和高精度的平面度误差测量。
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公开(公告)号：CN114166117A
公开(公告)日：2022-03-11
申请号：CN202111384447.X
申请日：2021-11-18
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种基于机器视觉的主轴径向跳动测量方法。该方法如下：一、在被测主轴上安装光靶标。二、被测主轴带动靶标上安装的两个发光点旋转，相机记录下发光点的轨迹图像。三、获得两个圆轨迹的圆心位置和最小二乘圆半径。四、获得被测主轴在不同相位的回转误差。本发明不仅能测出主轴的径向跳动范围，还利用测量靶标上两个相互错开90°的光斑旋转形成的圆轨迹，计算出被测主轴在周转中处于任意相位时的横向与纵向跳动，实现了对被测主轴转动过程中径向跳动的精准测量；此外，本发明舍弃了常用主轴径向跳动测量装置所使用的标准棒，从而避免了常用测量方法所需要的繁杂的误差分离计算。
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公开(公告)号：CN115709398A
公开(公告)日：2023-02-24
申请号：CN202211456454.0
申请日：2022-11-21
Applicant: 杭州电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种位移传感器和球杆仪结合的机床空间误差测量装置及方法。该测量装置包括行星轮系结构、第一非接触位移传感器、第二非接触位移传感器、第三非接触位移传感器、第四非接触位移传感器、第一基准板、第二基准板和中心支座。行星轮系结构包括第一转盘、连接架、安装盘和第二转盘。本发明利用绕圆轨迹运动的两个位移传感器消除了基准板的平面度误差；又通过两组形成行星轮系的双位移传感器相结合，消除了轴承转动中的轴向误差带来的影响，分离出机床Z轴误差。同时，配合球杆仪本发明能够精准地获得机床的三维误差。由于本发明能够消除基准板的平面度误差影响，故本发明对基准板的平面度要求较低，降低了机床空间误差测量的成本。
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公开(公告)号：CN113670196A
公开(公告)日：2021-11-19
申请号：CN202110843765.1
申请日：2021-07-26
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种无标准棒的精密主轴径向跳动测量方法及装置。目前，主轴径向跳动测量常使用标准棒，会在测量系统中引入圆度误差和安装偏心误差。该精密主轴径向跳动测量装置包括激光器安装圆盘、激光器和CMOS传感器。激光器安装圆盘固定在主轴端面上。所述的激光器安装在激光器安装圆盘上。所述的CMOS传感器平面垂直于主轴轴线，且设置在激光器安装圆盘的外侧。本发明通过CMOS传感器与跟随主轴转动的激光器相配合，能够直接获取主轴的径向跳动，测量过程中不需要使用标准棒，故能够避免常用测量方法所需要的偏心误差分离和圆度误差分离技术环节，提高了测量效率。
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公开(公告)号：CN113770806B
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN202111026242.4
申请日：2021-09-02
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: B23Q17/00
Abstract: 本发明公开了一种基于双球杆仪的机床几何误差分离方法。现有利用球杆仪获得机床的各单项误差的过程繁琐，需要对球杆仪进行三次安装，效率较低，且会引入误差。本发明将双球杆仪测量装置倾斜安装，并对应规划了倾斜的机床几何误差测量路径。该测量路径为与水平面有夹角的空间圆形，通过机床三个线性轴同时联动完成，这意味着使用双球杆仪装置可以通过该路径在一次测量中获取机床三个线性轴的所有几何误差信息。相比于现有机床误差信息获得方法，本发明可以提高机床几何误差的采集效率，并避免了多次安装所带来的其他误差。此外，本发明避免了多次测量时的误差相互耦合，相比于现有的误差分离方法，提高了机床各单项误差的分离准确性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113770806A
公开(公告)日：2021-12-10
申请号：CN202111026242.4
申请日：2021-09-02
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: B23Q17/00
Abstract: 本发明公开了一种基于双球杆仪的机床几何误差分离方法。现有利用球杆仪获得机床的各单项误差的过程繁琐，需要对球杆仪进行三次安装，效率较低，且会引入误差。本发明将双球杆仪测量装置倾斜安装，并对应规划了倾斜的机床几何误差测量路径。该测量路径为与水平面有夹角的空间圆形，通过机床三个线性轴同时联动完成，这意味着使用双球杆仪装置可以通过该路径在一次测量中获取机床三个线性轴的所有几何误差信息。相比于现有机床误差信息获得方法，本发明可以提高机床几何误差的采集效率，并避免了多次安装所带来的其他误差。此外，本发明避免了多次测量时的误差相互耦合，相比于现有的误差分离方法，提高了机床各单项误差的分离准确性。
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公开(公告)号：CN113199303A
公开(公告)日：2021-08-03
申请号：CN202110401381.4
申请日：2021-04-14
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: B23Q17/00
Abstract: 本发明公开了一种球杆仪与电容位移传感器组合测量机床三维误差的方法。只使用球杆仪难以测量机床主轴运动的三维误差。本发明将基座固定在机床工作台上；同步旋转台的一端通过轴承支承在基座上；球座一固定在基座上，球座二固定在同步旋转台上；夹具固定在同步旋转台的另一端；三个电容位移传感器通过夹具固定在机床主轴上；令机床主轴作圆弧插补运动，利用三个电容位移传感器测量机床主轴的径向误差及轴向误差，利用球杆仪测量同步旋转台的偏心误差，计算得到主轴三维误差。本发明实现机床三维方向的误差测量，且测量精度高，可实现在一定径向范围内对机床误差进行连续性测量。
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公开(公告)号：CN114166117B
公开(公告)日：2024-05-17
申请号：CN202111384447.X
申请日：2021-11-18
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种基于机器视觉的主轴径向跳动测量方法。该方法如下：一、在被测主轴上安装光靶标。二、被测主轴带动靶标上安装的两个发光点旋转，相机记录下发光点的轨迹图像。三、获得两个圆轨迹的圆心位置和最小二乘圆半径。四、获得被测主轴在不同相位的回转误差。本发明不仅能测出主轴的径向跳动范围，还利用测量靶标上两个相互错开90°的光斑旋转形成的圆轨迹，计算出被测主轴在周转中处于任意相位时的横向与纵向跳动，实现了对被测主轴转动过程中径向跳动的精准测量；此外，本发明舍弃了常用主轴径向跳动测量装置所使用的标准棒，从而避免了常用测量方法所需要的繁杂的误差分离计算。
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公开(公告)号：CN113670196B
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN202110843765.1
申请日：2021-07-26
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种无标准棒的精密主轴径向跳动测量方法及装置。目前，主轴径向跳动测量常使用标准棒，会在测量系统中引入圆度误差和安装偏心误差。该精密主轴径向跳动测量装置包括激光器安装圆盘、激光器和CMOS传感器。激光器安装圆盘固定在主轴端面上。所述的激光器安装在激光器安装圆盘上。所述的CMOS传感器平面垂直于主轴轴线，且设置在激光器安装圆盘的外侧。本发明通过CMOS传感器与跟随主轴转动的激光器相配合，能够直接获取主轴的径向跳动，测量过程中不需要使用标准棒，故能够避免常用测量方法所需要的偏心误差分离和圆度误差分离技术环节，提高了测量效率。
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公开(公告)号：CN113199303B
公开(公告)日：2022-03-22
申请号：CN202110401381.4
申请日：2021-04-14
Applicant: 杭州电子科技大学
IPC: B23Q17/00
Abstract: 本发明公开了一种球杆仪与电容位移传感器组合测量机床三维误差的方法。只使用球杆仪难以测量机床主轴运动的三维误差。本发明将基座固定在机床工作台上；同步旋转台的一端通过轴承支承在基座上；球座一固定在基座上，球座二固定在同步旋转台上；夹具固定在同步旋转台的另一端；三个电容位移传感器通过夹具固定在机床主轴上；令机床主轴作圆弧插补运动，利用三个电容位移传感器测量机床主轴的径向误差及轴向误差，利用球杆仪测量同步旋转台的偏心误差，计算得到主轴三维误差。本发明实现机床三维方向的误差测量，且测量精度高，可实现在一定径向范围内对机床误差进行连续性测量。
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