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公开(公告)号：CN108303239A
公开(公告)日：2018-07-20
申请号：CN201810052233.4
申请日：2018-01-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 巴荣声 , 李杰 , 丁磊 , 周信达 , 郑垠波 , 徐宏磊 , 陈波 , 李文洪 , 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 张霖 , 杨一 , 郑芳兰 , 于德强 , 马可 , 石振东 , 马骅 , 任寰 , 张保汉 , 景峰
Abstract: 本发明公开了一种激光光学元件使用寿命加速测试和预计方法，旨在解决现有技术中无法获取大口径光学元件在任意通量照射下使用寿命的问题；本发明包括：以发次或时间为自变量，以对应的寿命概率为因变量拟合获得大口径光学元件特定激光参数下的寿命概率函数；改变设定参数的照射激光的辐照通量获得不同辐照通量下的大口径光学元件寿命概率曲线，对函数进行数据拟合获得特定寿命概率下的寿命通量函数；本发明可以对激光光学元件使用寿命进行加速测试，缩短测试时间，应用本发明测试结果可以获得特定通量下的大口径光学元件使用寿命，应用经典可靠性理论对激光系统中的激光大口径光学元件进行可靠性分析与预计；本发明适用于大口径光学器件寿命测试领域。
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公开(公告)号：CN105066910B
公开(公告)日：2017-06-30
申请号：CN201510515313.5
申请日：2015-08-21
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 李东 , 刘勇 , 刘旭 , 姜宏振 , 张霖 , 郑芳兰 , 任寰 , 杨一 , 李文洪 , 石振东 , 于德强 , 巴荣声 , 马骅 , 原泉 , 周信达 , 郑垠波 , 杨晓瑜 , 柴立群 , 陈波
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明公开了一种电光晶体Z轴偏离角测量装置及测量方法，包括：按光路依次放置的激光器（101）、显微物镜（102）、针孔（103）、可调光阑（104）、准直透镜（105）、起偏器（106）、反射镜（107）、分束立方体（108）、光屏（109）、透镜一（110）、待测晶体（111）、透镜二（112）、检偏器（113）、成像透镜（114）、探测器（115）和计算机处理系统（116）；其中，起偏器（106）和检偏器（113）偏振方向垂直，透镜一（110）和透镜二（112）严格共轭，分束立方体（108）、反射镜（107）、待测晶体（111）和光屏（109）组成迈克尔逊干涉系统。通过利用迈克尔逊干涉原理实现晶体精密定位，采用图像匹配算法实现光轴出露点中心计算，完成电光晶体Z轴偏离角精密测量。相对于其他装置和方法具有测量精度高、测量方法简单、测量系统误差小和测量重复性好等优点。
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公开(公告)号：CN117961262A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202311103942.8
申请日：2023-08-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 洪伟 , 魏列宁 , 郑万国 , 雷向阳 , 朱启华 , 柴向旭 , 粟敬钦 , 蒋晓东 , 周松 , 周信达 , 刘红婕 , 郑垠波 , 周维民 , 张智猛 , 黄进 , 崔波 , 孟令彪
Abstract: 本发明属于激光预处理技术领域，具体涉及一种非线性光学晶体的激光预处理方法。本发明采用光子能量为Eg/2～Eg的激光对非线性光学晶体进行辐照，Eg为晶体的禁带宽度。本发明基于双光子吸收的激光预处理方法比基于三光子吸收的激光预处理的效率有极大提高。由实施例、对比例及现有技术对比，结果表明，本发明采用比355nm弱很多的266nm的激光，在激光功率密度只有0.13GW/cm2的条件下，比预处理前的零概率体损伤阈值提升120％。而且本发明基于双光子吸收的KDP晶体激光预处理除了具有比三光子吸收激光预处理更高的预处理效率外，还有比三光子吸收激光预处理在提升晶体体损伤阈值上更大的潜力。
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公开(公告)号：CN108802056B
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN201810964806.0
申请日：2018-08-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 一种光学元件位相型缺陷测量装置及检测方法。该装置包括：光源，沿光源的光束传播方向依次放置样品台、显微放大系统、分光系统和探测系统。本发明具有装置简单、成本低、操作方便等优点，可测量光学元件位相型缺陷。
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公开(公告)号：CN116256367A
公开(公告)日：2023-06-13
申请号：CN202310161735.1
申请日：2023-02-24
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种光学元件表面损伤密度高精度局域映射测量系统及方法，涉及光学元件的表面损伤密度高精度测量，其目的在于解决现有技术中拼接后光斑非均匀性分布影响测试精度的问题。本申请通过建立激光靶面辐照光斑与光学元件之间的坐标映射变换关系，实现光学元件损伤点与激光靶面局域光斑的空间映射；再计算并记录每个局部区域的局部通量、损伤点数目以及局部区域内包含的像素点数目，并计算每个通量区间的损伤密度，创新性地以本申请中的“光学元件损伤点局域通量”替代现有技术中的“整个光斑的平均通量”，实现光学元件损伤点与激光靶面局域光斑的空间映射，有效缓解光斑非均匀分布对表面损伤密度测量精度的影响。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109540926B
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN201910085710.1
申请日：2019-01-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/958
Abstract: 本发明公开了一种KDP或DKDP晶体体损伤性能高精度测量装置及测量方法，涉及KDP或DKDP晶体体损伤测量技术领域，本发明先通过层析的方法获得高功率纳秒激光脉冲作用后晶体体损伤点基础数据，解决损伤点重复统计、背景光消除、二值化等问题并采用图像矩算法求出每个散射点的质心后，再通过重构算法获得体损伤点三维分布，进而可以高精度获得晶体体损伤密度ppd、体损伤点几何尺寸分布pps和晶体体损伤点三维分布等3个体损伤表征参数，本发明具有测量精度高、晶体体损伤表征更加全面的优点。
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公开(公告)号：CN108303239B
公开(公告)日：2020-10-23
申请号：CN201810052233.4
申请日：2018-01-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 巴荣声 , 李杰 , 丁磊 , 周信达 , 郑垠波 , 徐宏磊 , 陈波 , 李文洪 , 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 张霖 , 杨一 , 郑芳兰 , 于德强 , 马可 , 石振东 , 马骅 , 任寰 , 张保汉 , 景峰
Abstract: 本发明公开了一种激光光学元件使用寿命加速测试和预计方法，旨在解决现有技术中无法获取大口径光学元件在任意通量照射下使用寿命的问题；本发明包括：以发次或时间为自变量，以对应的寿命概率为因变量拟合获得大口径光学元件特定激光参数下的寿命概率函数；改变设定参数的照射激光的辐照通量获得不同辐照通量下的大口径光学元件寿命概率曲线，对函数进行数据拟合获得特定寿命概率下的寿命通量函数；本发明可以对激光光学元件使用寿命进行加速测试，缩短测试时间，应用本发明测试结果可以获得特定通量下的大口径光学元件使用寿命，应用经典可靠性理论对激光系统中的激光大口径光学元件进行可靠性分析与预计；本发明适用于大口径光学器件寿命测试领域。
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公开(公告)号：CN108007381B
公开(公告)日：2019-12-03
申请号：CN201711206265.7
申请日：2017-11-27
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01B11/24
Abstract: 一种光学元件激光诱导损伤三维形貌在线测量装置及检测方法。该装置包括：光源系统，沿光源的光束传播方向依次放置样品台、显微放大系统、分光系统和探测器系统。本发明具有装置简单、成本低、操作方便等优点，可在线测量光学元件损伤点的三维形貌以及测量损伤增长的动态过程。
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公开(公告)号：CN108007381A
公开(公告)日：2018-05-08
申请号：CN201711206265.7
申请日：2017-11-27
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01B11/24
Abstract: 一种光学元件激光诱导损伤三维形貌在线测量装置及检测方法。该装置包括：光源系统，沿光源的光束传播方向依次放置样品台、显微放大系统、分光系统和探测器系统。本发明具有装置简单、成本低、操作方便等优点，可在线测量光学元件损伤点的三维形貌以及测量损伤增长的动态过程。
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公开(公告)号：CN105067229A
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201510560872.8
申请日：2015-09-06
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 张霖 , 任寰 , 杨一 , 石振东 , 陈波 , 马骅 , 原泉 , 姜宏振 , 李东 , 刘勇 , 刘旭 , 马玉荣 , 杨晓瑜 , 柴立群 , 巴荣生 , 郑垠波 , 周信达
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种基于组合透镜法的光栅尺三探头焦距测量装置及测量方法，属于光学精密测量技术领域中的基于组合透镜法测试焦距的测量装置和测量方法，其目的在于提供一种基于组合透镜法的光栅尺三探头焦距测量装置及测量方法。该测量装置和测量方法可实现在标准透镜参数未尽知的情况下的焦距测量；极大缩短了待测透镜的空间测量长度，可实现大口径近轴焦距检测；利用干涉条纹和光栅尺探头准确定位标准透镜以及组合透镜焦点位置，减小了球差的影响；将常规组合透镜方法中两透镜顶点之间的距离检测转换为标准透镜移动距离的检测，简化了测量方法并有效的提高了该距离值的检测可靠性。本方法具有测量精度高、重复性好、测量简单便捷等优点。
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