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公开(公告)号：CN117329982A
公开(公告)日：2024-01-02
申请号：CN202311255805.6
申请日：2023-09-27
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明利用激光散斑干涉技术与激光剪切散斑干涉技术的特点，通过光路复用实现形变与应变的同步测量，系统结构简单、操作方便，实现了同一目标区域的形变与应变同步原位测量；将Sym4小波函数作为基函数，结合正余弦变换，用于包裹相位图的噪声滤波，不需要进行迭代计算、设定掩膜形状及尺寸等，保留相位跃变信息的同时提高了滤波效率。在小波分解中，根据实际测量结果计算得到散斑抑制指数，从而确定了Sym4小波函数的最佳小波分解层数；根据散斑图中的噪声水平与小波分解层数确定噪声阈值，计算获得滤波处理后的小波系数，有助于提高噪声滤波效果，扩大该滤波方法的适用范围。
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公开(公告)号：CN111060516B
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN201911259313.8
申请日：2019-12-10
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 , 合肥知常光电科技有限公司
Abstract: 一种光学元件亚表面缺陷的多通道原位检测装置及检测方法，用于玻璃等光学元件缺陷测试。该装置包括由荧光共聚焦成像系统、荧光寿命成像系统、光热吸收成像系统三个通道构成，可一次性实现光学元件亚表面微纳缺陷几何形态、光致荧光、光热吸收特性的原位测试。本发明具有装置结构紧凑、检测通用性强、稳定性高的特点，适用于亚表面缺陷的高灵敏度无损检测。
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公开(公告)号：CN109540926A
公开(公告)日：2019-03-29
申请号：CN201910085710.1
申请日：2019-01-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/958
Abstract: 本发明公开了一种(D)KDP晶体体损伤性能高精度测量装置及测量方法，涉及(D)KDP晶体体损伤测量技术领域，本发明先通过层析的方法获得高功率纳秒激光脉冲作用后晶体体损伤点基础数据，解决损伤点重复统计、背景光消除、二值化等问题并采用图像矩算法求出每个散射点的质心后，再通过重构算法获得体损伤点三维分布，进而可以高精度获得晶体体损伤密度ppd、体损伤点几何尺寸分布pps和晶体体损伤点三维分布等3个体损伤表征参数，本发明具有测量精度高、晶体体损伤表征更加全面的优点。
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公开(公告)号：CN108802056A
公开(公告)日：2018-11-13
申请号：CN201810964806.0
申请日：2018-08-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
CPC classification number: G01N21/88 , G01N21/01 , G01N21/8851 , G01N2021/0112 , G01N2021/8887
Abstract: 一种光学元件位相型缺陷测量装置及检测方法。该装置包括：光源，沿光源的光束传播方向依次放置样品台、显微放大系统、分光系统和探测系统。本发明具有装置简单、成本低、操作方便等优点，可测量光学元件位相型缺陷。
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公开(公告)号：CN114136976B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202111314941.9
申请日：2021-11-08
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 一种偏振同轴照明激光剪切散斑干涉测量系统及其测量方法，包括参数标定模块、偏振同轴照明成像模块、剪切干涉探测模块、控制采集处理模块等，用于实现应变与离面形变的测量。本系统可根据样品目标区域的实际测量范围，结合静态或动态加载情况，现场调节并精确标定系统的测量视场与剪切量，从而调节应变测量动态范围与检测灵敏度，并应用时间移相或空间载波相位提取方法，实现应变与离面形变的动态高速或静态高精度测量，系统操作方便，实用性强，测量精度高。此外，本发明采用偏振同轴照明方式，提高了光能利用率与成像质量，实现大视场、高亮度、高均匀性的照明与高质量探测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114324329B
公开(公告)日：2023-10-31
申请号：CN202111588367.6
申请日：2021-12-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/84 , G01N21/88 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本发明公开了光学元件强激光损伤特性的无损检测与评价方法，旨在解决现有技术不能通过无损检测评价光学元件激光损伤特性的难题。本发明包括：通过实验获得光学元件的无损检测数据以及强激光作用下发生损伤的激光参数；将无损检测数据与损伤测试结果作为特征量，使用深度学习方法，根据无损检测数据、激光参数及损伤测试结果，获得光学元件激光损伤特性的检测评价模型；将待检测的光学元件进行无损检测，将获得的无损检测数据和激光参数作为检测评价模型的输入量，从而获得该光学元件的激光损伤特性检测结果，实现强激光损伤特性的无损检测与评价。
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公开(公告)号：CN111829757B
公开(公告)日：2022-01-28
申请号：CN202010678889.4
申请日：2020-07-15
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 一种光学元件激光诱导损伤特征瞬态测量装置及测量方法。该装置包括光源、第一分光镜、第二分光镜、第一反射镜、第二反射镜、光束整形滤波系统、偏振延迟控制系统、样品台、损伤特征在线测量系统、能量控制系统、聚焦系统、光束质量诊断系统、光闸、光阱、计算机；本发明将强激光光束分束，一部分作为损伤测试光束，一部分作为探测光束，采用偏振延迟控制系统，调节探测光束与损伤测试光束的间隔时间，结合损伤特征在线测量系统，在脉冲激光作用后不同时刻探测光学元件被辐照区域的相位信息及光强信息，获得损伤区域三维形貌及透过率分布的相对变化量。
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公开(公告)号：CN111829757A
公开(公告)日：2020-10-27
申请号：CN202010678889.4
申请日：2020-07-15
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 一种光学元件激光诱导损伤特征瞬态测量装置及测量方法。该装置包括光源、第一分光镜、第二分光镜、第一反射镜、第二反射镜、光束整形滤波系统、偏振延迟控制系统、样品台、损伤特征在线测量系统、能量控制系统、聚焦系统、光束质量诊断系统、光闸、光阱、计算机；本发明将强激光光束分束，一部分作为损伤测试光束，一部分作为探测光束，采用偏振延迟控制系统，调节探测光束与损伤测试光束的间隔时间，结合损伤特征在线测量系统，在脉冲激光作用后不同时刻探测光学元件被辐照区域的相位信息及光强信息，获得损伤区域三维形貌及透过率分布的相对变化量。
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公开(公告)号：CN111060516A
公开(公告)日：2020-04-24
申请号：CN201911259313.8
申请日：2019-12-10
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 , 合肥知常光电科技有限公司
Abstract: 一种光学元件亚表面缺陷的多通道原位检测装置及检测方法，用于玻璃等光学元件缺陷测试。该装置包括由荧光共聚焦成像系统、荧光寿命成像系统、光热吸收成像系统三个通道构成，可一次性实现光学元件亚表面微纳缺陷几何形态、光致荧光、光热吸收特性的原位测试。本发明具有装置结构紧凑、检测通用性强、稳定性高的特点，适用于亚表面缺陷的高灵敏度无损检测。
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公开(公告)号：CN110174245A
公开(公告)日：2019-08-27
申请号：CN201910534941.6
申请日：2019-06-20
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 一种光学元件激光诱导损伤阈值自动化测试装置和测试方法。该装置主要包括：激光器、多波长光路切换模块、电动光闸、能量调节模块、激光参数采集模块、样品控制模块、损伤诊断模块、计算机等。该装置用于测量光学元件激光诱导零概率损伤阈值，本发明可实现脉冲激光波长1064纳米、532纳米、355纳米测试光路的自动切换、测试流程的自动控制、激光参数的自动采集、损伤自动诊断等功能，保证测试条件的稳定性，大幅度提高了测试效率。
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