电光晶体Z轴偏离角测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN105066910A

    公开(公告)日:2015-11-18

    申请号:CN201510515313.5

    申请日:2015-08-21

    Abstract: 本发明公开了一种电光晶体Z轴偏离角测量装置及测量方法,包括:按光路依次放置的激光器(101)、显微物镜(102)、针孔(103)、可调光阑(104)、准直透镜(105)、起偏器(106)、反射镜(107)、分束立方体(108)、光屏(109)、透镜一(110)、待测晶体(111)、透镜二(112)、检偏器(113)、成像透镜(114)、探测器(115)和计算机处理系统(116);其中,起偏器(106)和检偏器(113)偏振方向垂直,透镜一(110)和透镜二(112)严格共轭,分束立方体(108)、反射镜(107)、待测晶体(111)和光屏(109)组成迈克尔逊干涉系统。通过利用迈克尔逊干涉原理实现晶体精密定位,采用图像匹配算法实现光轴出露点中心计算,完成电光晶体Z轴偏离角精密测量。相对于其他装置和方法具有测量精度高、测量方法简单、测量系统误差小和测量重复性好等优点。

    电光晶体Z轴偏离角测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN105066910B

    公开(公告)日:2017-06-30

    申请号:CN201510515313.5

    申请日:2015-08-21

    Abstract: 本发明公开了一种电光晶体Z轴偏离角测量装置及测量方法,包括:按光路依次放置的激光器(101)、显微物镜(102)、针孔(103)、可调光阑(104)、准直透镜(105)、起偏器(106)、反射镜(107)、分束立方体(108)、光屏(109)、透镜一(110)、待测晶体(111)、透镜二(112)、检偏器(113)、成像透镜(114)、探测器(115)和计算机处理系统(116);其中,起偏器(106)和检偏器(113)偏振方向垂直,透镜一(110)和透镜二(112)严格共轭,分束立方体(108)、反射镜(107)、待测晶体(111)和光屏(109)组成迈克尔逊干涉系统。通过利用迈克尔逊干涉原理实现晶体精密定位,采用图像匹配算法实现光轴出露点中心计算,完成电光晶体Z轴偏离角精密测量。相对于其他装置和方法具有测量精度高、测量方法简单、测量系统误差小和测量重复性好等优点。

    高时间分辨X射线成像测量仪器
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117554395A

    公开(公告)日:2024-02-13

    申请号:CN202311525231.X

    申请日:2023-11-16

    Abstract: 本发明公开了一种高时间分辨X射线成像测量仪器,包括收光成像模块、X射线光学转换模块、干涉模块、压缩记录模块以及控制处理模块。不仅能够实现X射线的高时间分辨成像测量,而且不同于传统的X射线条纹相机和X射线分幅相机,该高时间分辨X射线成像测量仪器放置于靶室内部的器件均为非电子光学元件,易受辐射干扰的光学条纹相机和控制处理模块能够放置于远离靶室的位置,中间的信号转化及传递均为光学过程,因此该高时间分辨X射线成像测量仪器不仅能够对X射线进行高时空分辨成像,还具有极佳的抗辐射性能。

Patent Agency Ranking