-
公开(公告)号：CN118190355A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410081523.7
申请日：2024-01-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种光束取样光栅的取样参数测量装置及方法，属于光束取样光栅的取样参数的测量，其目的在于提供一种既具备通用性和经济性，又能实现取样效率、取样角度和取样距离的取样参数测量装置及方法，其激光器输出的激光经一级扩束镜入射至第一分光镜后分成反射激光、透射激光，反射激光依次通过光束提升器、二级扩束镜后入射至光束取样光栅，光束取样光栅生成的“一级”衍射光入射至CCD相机；透射激光经反射镜入射至第二分光镜后生成再反射激光、再透射激光，再反射激光入射至第一积分球功率计，再透射激光经二维扫描反射镜组入射至光束取样光栅并产生的“零级”衍射光、“一级”衍射光分别入射至第三积分球功率计、第二积分球功率计。
-
公开(公告)号：CN108287061A
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201810052262.0
申请日：2018-01-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 巴荣声 , 李杰 , 丁磊 , 周信达 , 郑垠波 , 徐宏磊 , 陈波 , 李文洪 , 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 张霖 , 杨一 , 郑芳兰 , 于德强 , 马可 , 石振东 , 马骅 , 任寰 , 张保汉 , 景峰
CPC classification number: G01M11/0207 , G01N17/004
Abstract: 本发明公开了一种激光光学元件寿命检测和寿命概率测试方法及系统，旨在解决现有技术中的大口径光学器件寿命测试由于套用现有寿命测试方法而引起的测试结果置信度低与适用性低的问题，解决传统大口径光学器件损伤特性评价参数无法直接应用于光学系统可靠性评价的问题；本发明使用激光连续辐照通大口径光学器件，直至光学器件发生不可逆损伤，记录累计发次或累计时间；统计不同发次或时间对应的寿命概率；以发次或时间为自变量，对应的寿命概率为因变量，使用威布尔分布对函数进行数据拟合，获得大口径光学器件在特定激光参数作用下的寿命概率函数；获得更可靠的大口径光学器件的使用寿命；本发明适用于测试大口径光学元件的寿命。
-
公开(公告)号：CN105700321B
公开(公告)日：2018-02-16
申请号：CN201610242313.7
申请日：2016-04-18
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 郑芳兰 , 周信达 , 杨一 , 陈竹 , 张霖 , 石振东 , 原泉 , 马骅 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 马可 , 任寰 , 李文洪 , 于德强 , 巴荣声 , 郑垠波 , 袁静 , 丁磊 , 陈波 , 杨晓瑜
Abstract: 本发明公开了一种基于重建像强度方差的数字全息图在焦重建距离判断方法，属于光学精密测量技术领域中的数字全息图重建距离的自动化数值判断方法，其目的在于提供一种基于重建像强度方差的数字全息图在焦重建距离判断方法。本发明利用重建像强度的方差与重建像强度的平均值的比值对重建像的清晰程度进行判断、分析，并找到清晰的重建强度像及其所对应的数字全息图准确重建距离，该方法可实现对于数字全息图重建距离的自动化数值判断，提高对重建距离的测量精度及测量效率。
-
公开(公告)号：CN105717774A
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201610244237.3
申请日：2016-04-18
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 郑芳兰 , 郑垠波 , 杨一 , 陈竹 , 张霖 , 石振东 , 原泉 , 马骅 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 马可 , 任寰 , 李文洪 , 于德强 , 巴荣声 , 周信达 , 袁静 , 丁磊 , 陈波 , 杨晓瑜
CPC classification number: G03H1/0005 , G03H1/0443 , G03H2001/0038
Abstract: 本发明公开了一种彩色数字全息像的实时记录装置及方法，属于彩色数字全息像技术领域，解决现有技术中所使用的光路系统无法同时完成红光、绿光及蓝光数字全息图的记录；现有技术中彩色数字全息像的数值重建算法较为繁琐复杂，不利于彩色数字全息像的高效快速数值重建，不能满足对于动态彩色物体的实时全息记录与再现问题。本发明包括按光路依次放置的红、绿、蓝三色激光器Laser1～Laser3，分光棱镜BS1～BS8，反射镜M1～M8，可调衰减器Filter1～Filter6，直角三棱镜Prism1～Prism4，消色差显微物镜MO1～MO4，针孔PH1～PH4，消色差透镜L1～L4，计算机Computer，CCD相机和待测物体Object。本发明用于得到彩色数字全息像。
-
公开(公告)号：CN105092477A
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201510532249.1
申请日：2015-08-26
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种非线性厚光子学材料的光学非线性测量装置及测量方法，属于非线性光子学材料和非线性光学测量技术领域中非线性光子学材料的光学非线性测量装置和测量方法。本申请采用Tophat型激光脉冲作为探测光，根据待测样品厚度选择适当厚度的参考标准样品，分别对参考标准样品和待测样品进行Z扫描测量，调节入射光能量得到相同的归一化透过率峰谷值，再通过数据处理得到待测样品的非线性折射系数。本申请可适用于厚度超过瑞利长度的非线性光子学材料的光学非线性测量装置和测量方法。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119468978B
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202510066424.6
申请日：2025-01-16
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种光机组件面形在位检测装置及方法，属于光学精密检测技术领域，其目的在于解决现有技术中缺乏对光机组件进行在位监控装调过程中进行面形畸变检测的问题。装置中激光器产生的激光依次经光束隔离器、分光棱镜、准直镜A后入射至待测光机组件并产生反射，待测光机组件的反射光经准直镜A后入射至分光棱镜并产生反射，分光棱镜的反射光经由带孔光屏、准直镜B、相位板后入射至CCD相机；CCD相机与计算机系统连接，CCD相机记录的光斑图将被输入计算机系统，用于面形在位检测。该方法通过相位板对待测样品的反射光进行调制，采用基于光场衍射迭代的相位重构算法实现样品面形重构。其具有测量精度高、不需要参考平面、抗振能力强等优点。
-
公开(公告)号：CN105842248B
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN201610169105.9
申请日：2016-03-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种光学元件表面损伤阈值测试系统及其测试方法，涉及光学检测领域，包括按光路依次放置的激光器、液晶光阀、光束分束器、透镜一、测试样品、吸收陷阱、直视CCD、反射镜、能量卡计、透镜二和监视CCD，本发明的损伤阈值测试方法为通过建立液晶光阀与光斑近场的映射关系获得传递函数，将光斑中损伤点的坐标带入传递函数确定液晶光阀遮挡区域，当遮挡区域覆盖损伤点后计算局部通量，提高损伤阈值的计算精度。
-
公开(公告)号：CN106355613B
公开(公告)日：2019-06-28
申请号：CN201610786591.9
申请日：2016-08-31
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种基于最小二乘拟合迭代自动提取十字图形中心的方法，属于数字图像技术领域，解决现有技术中晶体锥光干涉图中的暗十字交叉区域较大，难以精确提取出十字图形中心位置的问题。本发明步骤如下：获取数字图像；将数字图像进行阈值分割或边缘提取，提取出暗十字区域；设置迭代的暗十字区域的初始坐标；以初始坐标为原点，将暗十字区域分割成横向和纵向两部分，对横向和纵向两部分进行加权最小二乘线性拟合，得到两者交点；求交点与初始坐标的距离，并将交点坐标赋值于初始坐标；将距离作为迭代收敛条件，若满足收敛条件则迭代终止，输出初始坐标作为中心坐标，否则重复迭代。本发明用于提取十字图形的中心。
-
公开(公告)号：CN106355613A
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201610786591.9
申请日：2016-08-31
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
CPC classification number: G06T7/0002
Abstract: 本发明公开了一种基于最小二乘拟合迭代自动提取十字图形中心的方法，属于数字图像技术领域，解决现有技术中晶体锥光干涉图中的暗十字交叉区域较大，难以精确提取出十字图形中心位置的问题。本发明步骤如下：获取数字图像；将数字图像进行阈值分割或边缘提取，提取出暗十字区域；设置迭代的暗十字区域的初始坐标；以初始坐标为原点，将暗十字区域分割成横向和纵向两部分，对横向和纵向两部分进行加权最小二乘线性拟合，得到两者交点；求交点与初始坐标的距离，并将交点坐标赋值于初始坐标；将距离作为迭代收敛条件，若满足收敛条件则迭代终止，输出初始坐标作为中心坐标，否则重复迭代。本发明用于提取十字图形的中心。
-
公开(公告)号：CN105066910A
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201510515313.5
申请日：2015-08-21
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 李东 , 刘勇 , 刘旭 , 姜宏振 , 张霖 , 郑芳兰 , 任寰 , 杨一 , 李文洪 , 石振东 , 于德强 , 巴荣声 , 马骅 , 原泉 , 周信达 , 郑垠波 , 杨晓瑜 , 柴立群 , 陈波
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明公开了一种电光晶体Z轴偏离角测量装置及测量方法，包括：按光路依次放置的激光器（101）、显微物镜（102）、针孔（103）、可调光阑（104）、准直透镜（105）、起偏器（106）、反射镜（107）、分束立方体（108）、光屏（109）、透镜一（110）、待测晶体（111）、透镜二（112）、检偏器（113）、成像透镜（114）、探测器（115）和计算机处理系统（116）；其中，起偏器（106）和检偏器（113）偏振方向垂直，透镜一（110）和透镜二（112）严格共轭，分束立方体（108）、反射镜（107）、待测晶体（111）和光屏（109）组成迈克尔逊干涉系统。通过利用迈克尔逊干涉原理实现晶体精密定位，采用图像匹配算法实现光轴出露点中心计算，完成电光晶体Z轴偏离角精密测量。相对于其他装置和方法具有测量精度高、测量方法简单、测量系统误差小和测量重复性好等优点。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
48
records
(took 0.066 seconds)
