-
公开(公告)号：CN108303239B
公开(公告)日：2020-10-23
申请号：CN201810052233.4
申请日：2018-01-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 巴荣声 , 李杰 , 丁磊 , 周信达 , 郑垠波 , 徐宏磊 , 陈波 , 李文洪 , 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 张霖 , 杨一 , 郑芳兰 , 于德强 , 马可 , 石振东 , 马骅 , 任寰 , 张保汉 , 景峰
Abstract: 本发明公开了一种激光光学元件使用寿命加速测试和预计方法，旨在解决现有技术中无法获取大口径光学元件在任意通量照射下使用寿命的问题；本发明包括：以发次或时间为自变量，以对应的寿命概率为因变量拟合获得大口径光学元件特定激光参数下的寿命概率函数；改变设定参数的照射激光的辐照通量获得不同辐照通量下的大口径光学元件寿命概率曲线，对函数进行数据拟合获得特定寿命概率下的寿命通量函数；本发明可以对激光光学元件使用寿命进行加速测试，缩短测试时间，应用本发明测试结果可以获得特定通量下的大口径光学元件使用寿命，应用经典可靠性理论对激光系统中的激光大口径光学元件进行可靠性分析与预计；本发明适用于大口径光学器件寿命测试领域。
-
公开(公告)号：CN108303239A
公开(公告)日：2018-07-20
申请号：CN201810052233.4
申请日：2018-01-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 巴荣声 , 李杰 , 丁磊 , 周信达 , 郑垠波 , 徐宏磊 , 陈波 , 李文洪 , 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 张霖 , 杨一 , 郑芳兰 , 于德强 , 马可 , 石振东 , 马骅 , 任寰 , 张保汉 , 景峰
Abstract: 本发明公开了一种激光光学元件使用寿命加速测试和预计方法，旨在解决现有技术中无法获取大口径光学元件在任意通量照射下使用寿命的问题；本发明包括：以发次或时间为自变量，以对应的寿命概率为因变量拟合获得大口径光学元件特定激光参数下的寿命概率函数；改变设定参数的照射激光的辐照通量获得不同辐照通量下的大口径光学元件寿命概率曲线，对函数进行数据拟合获得特定寿命概率下的寿命通量函数；本发明可以对激光光学元件使用寿命进行加速测试，缩短测试时间，应用本发明测试结果可以获得特定通量下的大口径光学元件使用寿命，应用经典可靠性理论对激光系统中的激光大口径光学元件进行可靠性分析与预计；本发明适用于大口径光学器件寿命测试领域。
-
公开(公告)号：CN105066910B
公开(公告)日：2017-06-30
申请号：CN201510515313.5
申请日：2015-08-21
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 李东 , 刘勇 , 刘旭 , 姜宏振 , 张霖 , 郑芳兰 , 任寰 , 杨一 , 李文洪 , 石振东 , 于德强 , 巴荣声 , 马骅 , 原泉 , 周信达 , 郑垠波 , 杨晓瑜 , 柴立群 , 陈波
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明公开了一种电光晶体Z轴偏离角测量装置及测量方法，包括：按光路依次放置的激光器（101）、显微物镜（102）、针孔（103）、可调光阑（104）、准直透镜（105）、起偏器（106）、反射镜（107）、分束立方体（108）、光屏（109）、透镜一（110）、待测晶体（111）、透镜二（112）、检偏器（113）、成像透镜（114）、探测器（115）和计算机处理系统（116）；其中，起偏器（106）和检偏器（113）偏振方向垂直，透镜一（110）和透镜二（112）严格共轭，分束立方体（108）、反射镜（107）、待测晶体（111）和光屏（109）组成迈克尔逊干涉系统。通过利用迈克尔逊干涉原理实现晶体精密定位，采用图像匹配算法实现光轴出露点中心计算，完成电光晶体Z轴偏离角精密测量。相对于其他装置和方法具有测量精度高、测量方法简单、测量系统误差小和测量重复性好等优点。
-
公开(公告)号：CN108287061A
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201810052262.0
申请日：2018-01-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 巴荣声 , 李杰 , 丁磊 , 周信达 , 郑垠波 , 徐宏磊 , 陈波 , 李文洪 , 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 张霖 , 杨一 , 郑芳兰 , 于德强 , 马可 , 石振东 , 马骅 , 任寰 , 张保汉 , 景峰
CPC classification number: G01M11/0207 , G01N17/004
Abstract: 本发明公开了一种激光光学元件寿命检测和寿命概率测试方法及系统，旨在解决现有技术中的大口径光学器件寿命测试由于套用现有寿命测试方法而引起的测试结果置信度低与适用性低的问题，解决传统大口径光学器件损伤特性评价参数无法直接应用于光学系统可靠性评价的问题；本发明使用激光连续辐照通大口径光学器件，直至光学器件发生不可逆损伤，记录累计发次或累计时间；统计不同发次或时间对应的寿命概率；以发次或时间为自变量，对应的寿命概率为因变量，使用威布尔分布对函数进行数据拟合，获得大口径光学器件在特定激光参数作用下的寿命概率函数；获得更可靠的大口径光学器件的使用寿命；本发明适用于测试大口径光学元件的寿命。
-
公开(公告)号：CN105700321B
公开(公告)日：2018-02-16
申请号：CN201610242313.7
申请日：2016-04-18
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 郑芳兰 , 周信达 , 杨一 , 陈竹 , 张霖 , 石振东 , 原泉 , 马骅 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 马可 , 任寰 , 李文洪 , 于德强 , 巴荣声 , 郑垠波 , 袁静 , 丁磊 , 陈波 , 杨晓瑜
Abstract: 本发明公开了一种基于重建像强度方差的数字全息图在焦重建距离判断方法，属于光学精密测量技术领域中的数字全息图重建距离的自动化数值判断方法，其目的在于提供一种基于重建像强度方差的数字全息图在焦重建距离判断方法。本发明利用重建像强度的方差与重建像强度的平均值的比值对重建像的清晰程度进行判断、分析，并找到清晰的重建强度像及其所对应的数字全息图准确重建距离，该方法可实现对于数字全息图重建距离的自动化数值判断，提高对重建距离的测量精度及测量效率。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105717774A
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201610244237.3
申请日：2016-04-18
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 郑芳兰 , 郑垠波 , 杨一 , 陈竹 , 张霖 , 石振东 , 原泉 , 马骅 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 马可 , 任寰 , 李文洪 , 于德强 , 巴荣声 , 周信达 , 袁静 , 丁磊 , 陈波 , 杨晓瑜
CPC classification number: G03H1/0005 , G03H1/0443 , G03H2001/0038
Abstract: 本发明公开了一种彩色数字全息像的实时记录装置及方法，属于彩色数字全息像技术领域，解决现有技术中所使用的光路系统无法同时完成红光、绿光及蓝光数字全息图的记录；现有技术中彩色数字全息像的数值重建算法较为繁琐复杂，不利于彩色数字全息像的高效快速数值重建，不能满足对于动态彩色物体的实时全息记录与再现问题。本发明包括按光路依次放置的红、绿、蓝三色激光器Laser1～Laser3，分光棱镜BS1～BS8，反射镜M1～M8，可调衰减器Filter1～Filter6，直角三棱镜Prism1～Prism4，消色差显微物镜MO1～MO4，针孔PH1～PH4，消色差透镜L1～L4，计算机Computer，CCD相机和待测物体Object。本发明用于得到彩色数字全息像。
-
公开(公告)号：CN104816889A
公开(公告)日：2015-08-05
申请号：CN201510171769.4
申请日：2015-04-13
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明提供了一种保持光学元件100级洁净度的方法及包装设备，保持光学元件100级洁净度的方法包括如下步骤，先将维护光学元件100级洁净度进行超声波清洗并烘干；然后在100级洁净度的环境中用优级乙醇进行擦拭去水，并压缩空气吹拂；最后使用洁净薄膜将包装设备密封。实现该方法的设备包括洁净薄膜、保持光学元件100级洁净度的包装设备。本发明的方法和设备，适用于需要改变洁净环境存放，但又需要保持其原洁净等级和表面等级要求的光学元件，操作简单，不需要额外的操作工具，不受光学元件的形状和规格限制，即节省光学元件再次洁净的时间损耗和风险，又延长了光学元件的使用寿命，保证了研究实验的持续性和延展性。
-
公开(公告)号：CN110542687A
公开(公告)日：2019-12-06
申请号：CN201910592894.0
申请日：2019-07-02
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种微观元件外观缺陷的检测装置，包括：二自由度微动平台，用于装载、调整待测微观元件；图像采集装置，其用于拍摄待测微观元件并获得待测微观元件的表面图像；图像数据处理与运动控制单元，用于获取、分析表面图像以及确定待测微观元件表面是否具有外观缺陷，和用于控制二自由度微动台和图像采集装置；图像采集装置包括：架体，设于架体上的工业相机、照明单元，以及转动连接于架体上、具有一与工业相机对应的拍摄工位、设有高倍率大数值孔径镜头、以及设有低倍率宽视场镜头的镜头转换器。本发明还公开了一种微观元件外观缺陷检测方法。本发明解决了现有技术中使用高倍镜检测微观元件外观缺陷时难以快速定位微观元件中心的问题。
-
公开(公告)号：CN106355613B
公开(公告)日：2019-06-28
申请号：CN201610786591.9
申请日：2016-08-31
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种基于最小二乘拟合迭代自动提取十字图形中心的方法，属于数字图像技术领域，解决现有技术中晶体锥光干涉图中的暗十字交叉区域较大，难以精确提取出十字图形中心位置的问题。本发明步骤如下：获取数字图像；将数字图像进行阈值分割或边缘提取，提取出暗十字区域；设置迭代的暗十字区域的初始坐标；以初始坐标为原点，将暗十字区域分割成横向和纵向两部分，对横向和纵向两部分进行加权最小二乘线性拟合，得到两者交点；求交点与初始坐标的距离，并将交点坐标赋值于初始坐标；将距离作为迭代收敛条件，若满足收敛条件则迭代终止，输出初始坐标作为中心坐标，否则重复迭代。本发明用于提取十字图形的中心。
-
公开(公告)号：CN106355613A
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201610786591.9
申请日：2016-08-31
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
CPC classification number: G06T7/0002
Abstract: 本发明公开了一种基于最小二乘拟合迭代自动提取十字图形中心的方法，属于数字图像技术领域，解决现有技术中晶体锥光干涉图中的暗十字交叉区域较大，难以精确提取出十字图形中心位置的问题。本发明步骤如下：获取数字图像；将数字图像进行阈值分割或边缘提取，提取出暗十字区域；设置迭代的暗十字区域的初始坐标；以初始坐标为原点，将暗十字区域分割成横向和纵向两部分，对横向和纵向两部分进行加权最小二乘线性拟合，得到两者交点；求交点与初始坐标的距离，并将交点坐标赋值于初始坐标；将距离作为迭代收敛条件，若满足收敛条件则迭代终止，输出初始坐标作为中心坐标，否则重复迭代。本发明用于提取十字图形的中心。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
28
records
(took 0.041 seconds)
