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公开(公告)号：CN110097597B
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN201910376664.0
申请日：2019-05-05
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种目标物的系列X光像的坐标对应方法。该方法包括下列步骤：a.记录目标物的系列X光像，将每幅X光像中的各记录单元记录的X光强度求和，获得每幅X光总强度，得到A；b.将每幅X光像中的各记录单元的X光强度与对应的二维坐标相乘，并求和，得到B；c.C=B/A，得出每幅X光像的光强重心坐标；d.利用系列X光像中的每幅X光像的光强重心坐标相对应的属性，给出系列X光像中的每幅X光像的二维坐标对应关系。该方法能够实现不同观测方位的各幅X光像坐标精确对应，定量化分析不同时间段的各幅X光像坐标时间演化，坐标对应精度达到成像系统空间分辨水平，在惯性约束聚变、实验室天体物理或高能量密度物理中具有广阔且重要应用前景。
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公开(公告)号：CN104111488A
公开(公告)日：2014-10-22
申请号：CN201310495797.2
申请日：2013-10-22
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G02B5/18
Abstract: 本发明公开了一种具有单级衍射特性的反射式波带片设计及制造方法。这种反射式波带片包括：透明衬底；在前述的透明衬底上形成多个高反射率的圆形基元；前述的圆形基元位于反射式波带片的椭圆环内随机分布且不相交；圆形基元的半径随着椭圆环宽度大小而变化，对于位于第n-1与n(n＞1的整数)环之间的基元半径范围为[rnmax，rnmin]，其中rnmax＝(an-an-1)／2，rnmin＝(bn-bn-1)／2，式中的an为第n环线的长轴，bn为第n环线的短轴。本发明的反射式波带片仅具有0级和正负1级衍射，可有效的抑制高级衍射，消除谐波污染；同时，本发明的反射式波带片具有二值化结构特征，易于制作实现。本发明的具有单级衍射特性的反射式波带片集色散、聚焦和高次谐波抑制于一身的特点，表明其可以用作软X射线光源聚焦、单色化和光谱分析等前沿科学的光学元件。
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公开(公告)号：CN114724735A
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN202210644250.3
申请日：2022-06-09
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开一种ICF中X射线图像信息准在线读取系统和读取方法，采用了原子级图像存储原理实现了X射线图像亚微米级记录；并且由于记录信号无衰减，不受可见光、紫外光、强电磁脉冲、高中子产额干扰，标定可控简便，实现了定量化记录，达到辐射剂量测定标准；所采用的准在线读取方式使数据采集效率高仅需10mins以内，另外记录器件可大面积（50mm～200mm）制备与使用。因此本发明具有广阔且重要的应用前景。
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公开(公告)号：CN114721033A
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN202210650124.9
申请日：2022-06-10
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开一种基于X射线针孔成像原理的探测设备的瞄准方法和装置，瞄准方法包括以下步骤：S1：通过支撑调节机构将可出射4π全空间发散光的光纤头放置于待探测目标位置中心；S2：所述光纤头出射的激光进入探测设备的X射线记录器件的针孔后形成光斑，并照射于探测设备的灵敏面；S3：通过指向调节机构调节探测设备的方位，使得所述光斑覆盖所述探测设备的灵敏面；S4：将光纤头替换为探测目标，瞄准完成。本发明采用主、被动瞄准相结合的方式，实现了省时简便地瞄准，节省90%以上瞄准时间；且采用了激光穿过针孔引导瞄准的直接方式，因而瞄准精度高，精度由100um提升至10um，提升了1个数量级，因此本发明具有广阔且重要的应用前景。
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公开(公告)号：CN111678600B
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN202010792710.8
申请日：2020-08-10
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明提供了一种平响应的霍尔晶体，所述的平响应霍尔晶体由变化弧长、变化收光立体角、变化曲率半径的特殊锥面晶体构成。该晶体由一系列弧带紧密连接组成，相邻弧带的长度、收光立体角、曲率半径连续变化。光源发射光不同的入射波长对应于晶体不同的弧带，在晶体弧带上进行衍射分光，经过晶体反射后成像到记录设备上。本发明通过不同弧带弧长、收光立体角、曲率半径的特殊设计，实现晶体和记录设备对不同波长入射光的光谱响应效率一致，达到平响应的效果。本发明的晶体结构能够实现光源不同波长发射光的光谱响应一致，不受入射光波长的影响，具有广阔的应用前景。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113267519B
公开(公告)日：2022-07-15
申请号：CN202110543365.9
申请日：2021-05-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种飞片撞击起爆炸药瞬态过程测试装置，包括测试舱，所述测试舱两侧同轴地连接有前飞行管道和后飞行管道，前飞行管道连接有X射线发生装置，后飞行管道通过连接法兰连接有门控相机，所述连接法兰内设有X射线闪烁体，能够将后飞行管道自测试腔体引出的X射线转换为可见光，并被门控相机拍摄成像；所述测试装置还包括同步模块，该同步模块分别与X射线发生装置、金属桥箔和门控相机电性连接，能够在X射线发生装置发射X射线时，向金属桥箔和门控相机发出同步信号，控制金属桥箔产生电爆炸以及门控相机拍照。本发明利用X射线和门控相机实现飞片撞击起爆炸药的瞬态微观过程进行探测，具有控制方便，安全性好等优点。
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公开(公告)号：CN111982344A
公开(公告)日：2020-11-24
申请号：CN202010823065.1
申请日：2020-08-17
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种激光惯性约束聚变热斑高空间分辨探测系统及方法，其中系统包括竖直设置且反射面正对的平响应球面物镜Ⅰ和平响应球面物镜Ⅱ、水平设置且反射面竖直朝上的复合平响应球面物镜Ⅲ、水平设置且反射面竖直朝上平响应选能平面镜Ⅰ和平响应选能平面镜Ⅱ、成像板和激光磷屏分析仪。计算方法主要以读取数据并根据轫致辐射原理，直接通过单能像的强度比以获得电子温度和密度。主要通过双KB镜通道系统消除视场差异的影响，并利用通道及平面镜的平响应，确保反射率一致，根据轫致辐射原理进行电子温度和密度的绝对值计算，计算过程更简单，结果更可靠，并能求解绝对的热斑电子密度值，具有广阔且重要的应用前景。
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公开(公告)号：CN110097597A
公开(公告)日：2019-08-06
申请号：CN201910376664.0
申请日：2019-05-05
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种目标物的系列X光像的坐标对应方法。该方法包括下列步骤：a.记录目标物的系列X光像，将每幅X光像中的各记录单元记录的X光强度求和，获得每幅X光总强度，得到A；b.将每幅X光像中的各记录单元的X光强度与对应的二维坐标相乘，并求和，得到B；c.C=B/A，得出每幅X光像的光强重心坐标；d.利用系列X光像中的每幅X光像的光强重心坐标相对应的属性，给出系列X光像中的每幅X光像的二维坐标对应关系。该方法能够实现不同观测方位的各幅X光像坐标精确对应，定量化分析不同时间段的各幅X光像坐标时间演化，坐标对应精度达到成像系统空间分辨水平，在惯性约束聚变、实验室天体物理或高能量密度物理中具有广阔且重要应用前景。
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公开(公告)号：CN108303239A
公开(公告)日：2018-07-20
申请号：CN201810052233.4
申请日：2018-01-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 巴荣声 , 李杰 , 丁磊 , 周信达 , 郑垠波 , 徐宏磊 , 陈波 , 李文洪 , 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 张霖 , 杨一 , 郑芳兰 , 于德强 , 马可 , 石振东 , 马骅 , 任寰 , 张保汉 , 景峰
Abstract: 本发明公开了一种激光光学元件使用寿命加速测试和预计方法，旨在解决现有技术中无法获取大口径光学元件在任意通量照射下使用寿命的问题；本发明包括：以发次或时间为自变量，以对应的寿命概率为因变量拟合获得大口径光学元件特定激光参数下的寿命概率函数；改变设定参数的照射激光的辐照通量获得不同辐照通量下的大口径光学元件寿命概率曲线，对函数进行数据拟合获得特定寿命概率下的寿命通量函数；本发明可以对激光光学元件使用寿命进行加速测试，缩短测试时间，应用本发明测试结果可以获得特定通量下的大口径光学元件使用寿命，应用经典可靠性理论对激光系统中的激光大口径光学元件进行可靠性分析与预计；本发明适用于大口径光学器件寿命测试领域。
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公开(公告)号：CN112414563A
公开(公告)日：2021-02-26
申请号：CN202011286298.9
申请日：2020-11-17
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J5/52
Abstract: 本发明公开了一种黑体辐射源辐射温度的探测方法，包括以下步骤，步骤1)、采用两通道探测设备对黑体辐射源的辐射温度进行探测，并直接获取两通道探测设备的两个探测通道的响应系数二维分布，设两个探测通道的响应系数二维分布分别为η1和η2，获得响应系数的比值二维分布为k，k＝η1/η2；步骤2)、黑体辐射源发出的X射线分别同时穿过两个探测通道，两通道探测设备的两个探测通道分别同时记录X射线穿过其中形成的两幅单能X射线像，两幅单能X射线像对应的黑体辐射源发出的X射线频率为ν1和ν2；步骤3)、利用黑体辐射标准公式，求解关于辐射温度T二维分布的一元方程。通过本方法能够减少标定工作并提高探测效率。
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