公开(公告)号：CN111323440A

公开(公告)日：2020-06-23

申请号：CN202010271639.9

申请日：2020-04-09

Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心

Inventor： 尚万里 ,  孙奥 ,  韦敏习 ,  杨国洪 ,  王峰 ,  施军 ,  肖沙里 ,  罗靖 ,  杨家敏 ,  江少恩

IPC: G01N23/20016

Abstract: 本发明提供了一种X射线衍射诊断系统，所述的系统包括光源、瞄准节、腔体、光阑、变锥面晶体、记录设备和光窗；光源中心与光阑中心、变锥面晶体中心在一条直线上，变锥面晶体面与记录设备的记录面垂直，瞄准节轴心与光源中心在一条直线上。本发明可实现高效率、高精度的X射线衍射诊断，且该系统方便靶室诊断设计和排布。因此，本发明可以实现高效率的X射线衍射诊断，不受复杂应用场景限制，具有广阔且重要的应用前景。

公开(公告)号：CN111443101A

公开(公告)日：2020-07-24

申请号：CN202010273067.8

申请日：2020-04-09

Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心

Inventor： 尚万里 ,  施军 ,  杨国洪 ,  孙奥 ,  韦敏习 ,  王峰 ,  肖沙里 ,  罗靖 ,  杨家敏 ,  江少恩

IPC: G01N23/20008

Abstract: 本发明提供了一种用于不同晶体X射线衍射效率的直接比对系统，该系统包括光源、瞄准节、腔体、光窗、含不同晶体的多路光路系统和记录设备，其中每一路光路系统包括一个光阑和一个晶体；光窗开在腔体一端的侧面上，方便光线进入腔体内部，光源和瞄准节位于腔体外部；多路光路系统和记录设备置于腔体内部。本发明的用于不同晶体X射线衍射效率的直接比对系统，采用同一光源，保证了多光路系统入射光线谱信号的一致性，采用了同一记录设备响应，保证了设备响应函数的一致性，本系统可同时检测多种不同晶体，提高了检测效率，用同一记录设备记录检测结果可以节省打靶资源。因此，本发明可以实现不同晶体X射线衍射效率得直接对比探测，不受复杂应用场景限制，具有广阔且重要的应用前景。

公开(公告)号：CN111678600A

公开(公告)日：2020-09-18

申请号：CN202010792710.8

申请日：2020-08-10

Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心

Inventor： 尚万里 ,  韦敏习 ,  孙奥 ,  杨国洪 ,  施军 ,  罗靖 ,  车兴森 ,  侯立飞 ,  杜华冰 ,  张文海 ,  杨轶濛 ,  曹磊峰 ,  王峰 ,  杨家敏 ,  江少恩 ,  张保汉

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02

Abstract: 本发明提供了一种平响应的霍尔晶体，所述的平响应霍尔晶体由变化弧长、变化收光立体角、变化曲率半径的特殊锥面晶体构成。该晶体由一系列弧带紧密连接组成，相邻弧带的长度、收光立体角、曲率半径连续变化。光源发射光不同的入射波长对应于晶体不同的弧带，在晶体弧带上进行衍射分光，经过晶体反射后成像到记录设备上。本发明通过不同弧带弧长、收光立体角、曲率半径的特殊设计，实现晶体和记录设备对不同波长入射光的光谱响应效率一致，达到平响应的效果。本发明的晶体结构能够实现光源不同波长发射光的光谱响应一致，不受入射光波长的影响，具有广阔的应用前景。

公开(公告)号：CN111678600B

公开(公告)日：2020-10-30

申请号：CN202010792710.8

申请日：2020-08-10

Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心

Inventor： 尚万里 ,  韦敏习 ,  孙奥 ,  杨国洪 ,  施军 ,  罗靖 ,  车兴森 ,  侯立飞 ,  杜华冰 ,  张文海 ,  杨轶濛 ,  曹磊峰 ,  王峰 ,  杨家敏 ,  江少恩 ,  张保汉

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02

Abstract: 本发明提供了一种平响应的霍尔晶体，所述的平响应霍尔晶体由变化弧长、变化收光立体角、变化曲率半径的特殊锥面晶体构成。该晶体由一系列弧带紧密连接组成，相邻弧带的长度、收光立体角、曲率半径连续变化。光源发射光不同的入射波长对应于晶体不同的弧带，在晶体弧带上进行衍射分光，经过晶体反射后成像到记录设备上。本发明通过不同弧带弧长、收光立体角、曲率半径的特殊设计，实现晶体和记录设备对不同波长入射光的光谱响应效率一致，达到平响应的效果。本发明的晶体结构能够实现光源不同波长发射光的光谱响应一致，不受入射光波长的影响，具有广阔的应用前景。