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公开(公告)号：CN113030139B
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN202110598913.8
申请日：2021-05-31
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N23/20008 , G01N23/205
Abstract: 本发明提供了一种新型晶体及紧凑型成像装置，所述晶体包括晶体水平段和晶体倾斜段，所述晶体水平段和晶体倾斜段相连接，二者分别对两种不同波长的光衍射分光。所述成像装置包括晶体、光源S及记录设备；所述晶体包括水平段和倾斜段，所述水平段和倾斜段分别对光源S发射的两种不同波长的入射光进行衍射，其中不同波长的入射光经过晶体反射后成像在记录设备的不同位置；所述记录设备记录面与晶体水平段上表面所在方向垂直、且布置于靠近晶体倾斜段末端侧的位置。本发明通过对晶体尺寸进行特殊设计以改变入射光轨迹，缩短了不同波长反射X光入射到记录面的相对距离，减少记录设备尺寸、节省诊断成本，具有广阔且重要的应用前景。
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公开(公告)号：CN111323440A
公开(公告)日：2020-06-23
申请号：CN202010271639.9
申请日：2020-04-09
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N23/20016
Abstract: 本发明提供了一种X射线衍射诊断系统，所述的系统包括光源、瞄准节、腔体、光阑、变锥面晶体、记录设备和光窗；光源中心与光阑中心、变锥面晶体中心在一条直线上，变锥面晶体面与记录设备的记录面垂直，瞄准节轴心与光源中心在一条直线上。本发明可实现高效率、高精度的X射线衍射诊断，且该系统方便靶室诊断设计和排布。因此，本发明可以实现高效率的X射线衍射诊断，不受复杂应用场景限制，具有广阔且重要的应用前景。
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公开(公告)号：CN109799612B
公开(公告)日：2020-03-31
申请号：CN201910199410.6
申请日：2019-03-15
Applicant: 重庆大学 , 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了曲面反射镜制造方法及变曲率半径点光源线聚焦成像系统。本发明借助曲面反射镜的反射曲面将点光源产生的发散光线进行垂直于光路方向的线聚焦，提供了一种更适合应用、结构简单的变曲率半径点光源线聚焦成像系统，其结构巧妙、易于现场布局仪器，可用于X射线的线聚焦检测，解决了现有技术中设计及布局检测仪器困难的问题，为核聚变实验的聚爆靶丸在线检测提供了新的仪器。
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公开(公告)号：CN111678600A
公开(公告)日：2020-09-18
申请号：CN202010792710.8
申请日：2020-08-10
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明提供了一种平响应的霍尔晶体，所述的平响应霍尔晶体由变化弧长、变化收光立体角、变化曲率半径的特殊锥面晶体构成。该晶体由一系列弧带紧密连接组成，相邻弧带的长度、收光立体角、曲率半径连续变化。光源发射光不同的入射波长对应于晶体不同的弧带，在晶体弧带上进行衍射分光，经过晶体反射后成像到记录设备上。本发明通过不同弧带弧长、收光立体角、曲率半径的特殊设计，实现晶体和记录设备对不同波长入射光的光谱响应效率一致，达到平响应的效果。本发明的晶体结构能够实现光源不同波长发射光的光谱响应一致，不受入射光波长的影响，具有广阔的应用前景。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116337902A
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN202310321906.2
申请日：2023-03-29
Applicant: 重庆大学 , 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N23/20008 , G01N23/207
Abstract: 本发明公开一种宽频谱范围与高光谱分辨的X射线聚焦检测系统，用于对光源发出的X射线衍射后进行检测，包括衍射晶体以及检测器，所述衍射晶体表面具有衍射面，所述衍射面能够将所述光源发射并辐射至衍射面的X射线全部衍射后被检测器检测；本发明从源头上解决传统平面晶体X射线收集效率低、柱面或锥面晶体X射线谱分辨率低、球面晶体测谱范围窄的技术问题，使其同时具备高谱分辨率、高收集效率、宽测谱范围的特点，从而实现X射线在多个能点的聚焦测谱功能，减弱对整个X射线光谱检测系统中光源放置位置的限制。
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公开(公告)号：CN113030139A
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN202110598913.8
申请日：2021-05-31
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N23/20008 , G01N23/205
Abstract: 本发明提供了一种新型晶体及紧凑型成像装置，所述晶体包括晶体水平段和晶体倾斜段，所述晶体水平段和晶体倾斜段相连接，二者分别对两种不同波长的光衍射分光。所述成像装置包括晶体、光源S及记录设备；所述晶体包括水平段和倾斜段，所述水平段和倾斜段分别对光源S发射的两种不同波长的入射光进行衍射，其中不同波长的入射光经过晶体反射后成像在记录设备的不同位置；所述记录设备记录面与晶体水平段上表面所在方向垂直、且布置于靠近晶体倾斜段末端侧的位置。本发明通过对晶体尺寸进行特殊设计以改变入射光轨迹，缩短了不同波长反射X光入射到记录面的相对距离，减少记录设备尺寸、节省诊断成本，具有广阔且重要的应用前景。
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公开(公告)号：CN111678600B
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN202010792710.8
申请日：2020-08-10
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明提供了一种平响应的霍尔晶体，所述的平响应霍尔晶体由变化弧长、变化收光立体角、变化曲率半径的特殊锥面晶体构成。该晶体由一系列弧带紧密连接组成，相邻弧带的长度、收光立体角、曲率半径连续变化。光源发射光不同的入射波长对应于晶体不同的弧带，在晶体弧带上进行衍射分光，经过晶体反射后成像到记录设备上。本发明通过不同弧带弧长、收光立体角、曲率半径的特殊设计，实现晶体和记录设备对不同波长入射光的光谱响应效率一致，达到平响应的效果。本发明的晶体结构能够实现光源不同波长发射光的光谱响应一致，不受入射光波长的影响，具有广阔的应用前景。
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公开(公告)号：CN111443101A
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN202010273067.8
申请日：2020-04-09
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N23/20008
Abstract: 本发明提供了一种用于不同晶体X射线衍射效率的直接比对系统，该系统包括光源、瞄准节、腔体、光窗、含不同晶体的多路光路系统和记录设备，其中每一路光路系统包括一个光阑和一个晶体；光窗开在腔体一端的侧面上，方便光线进入腔体内部，光源和瞄准节位于腔体外部；多路光路系统和记录设备置于腔体内部。本发明的用于不同晶体X射线衍射效率的直接比对系统，采用同一光源，保证了多光路系统入射光线谱信号的一致性，采用了同一记录设备响应，保证了设备响应函数的一致性，本系统可同时检测多种不同晶体，提高了检测效率，用同一记录设备记录检测结果可以节省打靶资源。因此，本发明可以实现不同晶体X射线衍射效率得直接对比探测，不受复杂应用场景限制，具有广阔且重要的应用前景。
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公开(公告)号：CN109799612A
公开(公告)日：2019-05-24
申请号：CN201910199410.6
申请日：2019-03-15
Applicant: 重庆大学 , 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了曲面反射镜制造方法及变曲率半径点光源线聚焦成像系统。本发明借助曲面反射镜的反射曲面将点光源产生的发散光线进行垂直于光路方向的线聚焦，提供了一种更适合应用、结构简单的变曲率半径点光源线聚焦成像系统，其结构巧妙、易于现场布局仪器，可用于X射线的线聚焦检测，解决了现有技术中设计及布局检测仪器困难的问题，为核聚变实验的聚爆靶丸在线检测提供了新的仪器。
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