半导体装置的制造方法
    11.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102446777B

    公开(公告)日:2014-12-24

    申请号:CN201110297639.7

    申请日:2011-09-30

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够避免上下模具咬住引线框架并且防止模塑树脂向引线框架的端子附着的半导体装置的制造方法。其特征在于,具有如下工序:将引线框架放置在下模具的凹陷部分;使所述下模具和上模具重合,利用使所述引线框架滑动的单元,使所述引线框架向所述下模具的凹陷部分以及所述上模具的凹陷部分的侧面即形成有进行树脂注入的浇口的注入面的方向滑动;由所述下模具和所述上模具进行合模,利用在所述上模具上所形成的突起压溃所述引线框架的端部,在所述浇口的左右形成对所述注入面和所述引线框架之间进行填埋的伸出部;从所述浇口注入模塑树脂。

    半导体装置
    14.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN116264200A

    公开(公告)日:2023-06-16

    申请号:CN202211574121.8

    申请日:2022-12-08

    Abstract: 获得成品率高、容易制造的半导体装置。在半导体芯片(1)的第1主面形成有第1主电极(10)和第1控制电极焊盘(15)。在半导体芯片(1)的第2主面形成有第2主电极(29)和第2控制电极焊盘(31)。第2主电极(29)和第2控制电极焊盘(31)分别接合到绝缘基板(36)的第1金属图案(39)以及第2金属图案(40)。第1导线(42)以及第2导线(43)的键合部在俯视观察时与第2主电极(29)或第2控制电极焊盘(31)的接合部重叠。第1金属图案(39)以及第2金属图案(40)的厚度小于等于0.2mm。

    半导体装置的制造方法
    15.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105225971B

    公开(公告)日:2018-12-04

    申请号:CN201510363009.3

    申请日:2015-06-26

    Abstract: 本发明涉及半导体装置的制造方法。能够抑制树脂进入筒状电极内,而不会不必要地增加部件个数,且不会不必要地对部件造成损伤。为此,在基板(1)的一个主表面上安装半导体芯片(2)和筒状电极(3)。以至少使上述筒状电极(3)的与安装至基板(1)的一个端部(11)相反侧的另一个端部(12)露出的方式,利用树脂材料(4)对基板(1)、半导体芯片(2)以及筒状电极(3)进行封装。在上述封装的工序之后形成开口(17),该开口(17)从筒状电极(3)的另一个端部(12)连通至筒状电极(3)内的空腔部(14)。在进行形成上述开口(17)的工序前,筒状电极(3)的另一个端部(12)被封堵住。

    半导体装置的制造方法
    19.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102446777A

    公开(公告)日:2012-05-09

    申请号:CN201110297639.7

    申请日:2011-09-30

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种能够避免上下模具咬住引线框架并且防止模塑树脂向引线框架的端子附着的半导体装置的制造方法。其特征在于,具有如下工序:将引线框架放置在下模具的凹陷部分;使所述下模具和上模具重合,利用使所述引线框架滑动的单元,使所述引线框架向所述下模具的凹陷部分以及所述上模具的凹陷部分的侧面即形成有进行树脂注入的浇口的注入面的方向滑动;由所述下模具和所述上模具进行合模,利用在所述上模具上所形成的突起压溃所述引线框架的端部,在所述浇口的左右形成对所述注入面和所述引线框架之间进行填埋的伸出部;从所述浇口注入模塑树脂。

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