半导体装置
    13.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN109983571A

    公开(公告)日:2019-07-05

    申请号:CN201680090921.9

    申请日:2016-11-21

    Abstract: 目的在于提供减少残留在接合材料内部的孔洞,可靠性高的半导体装置。半导体装置具备半导体芯片(1)、绝缘基板(3)、金属基座板(4)、树脂部(6)以及凸块(10)。半导体芯片(1)具有凹形状的翘曲。在绝缘基板(3)通过接合而搭载有半导体芯片(1)。在金属基座板(4)安装有绝缘基板(3),且金属基座板(4)具有散热性。树脂部(6)将绝缘基板(3)及半导体芯片(1)进行封装。凸块(10)配置于半导体芯片(1)和绝缘基板(3)之间的接合部。半导体芯片(1)的凹形状的翘曲量为大于或等于1μm且小于所述凸块的高度。

    半导体装置
    14.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109119379A

    公开(公告)日:2019-01-01

    申请号:CN201810643210.0

    申请日:2018-06-21

    Abstract: 目的是针对半导体装置提供通过对接合材料收缩所引起的冷却板翘曲进行抑制,从而能够抑制冷却性能降低的技术。半导体装置(100)具备:冷却板(11),具备在绝缘体之上配置的电路图案;冷却板(12),与冷却板(11)相对地配置,具备在绝缘体上配置的电路图案;半导体芯片(15),由接合材料接合在冷却板(11)的电路图案和冷却板(12)的电路图案之间;以及壳体(13),对冷却板(11)及冷却板(12)的外周部进行保持,且收容冷却板(11)及冷却板(12)的一部分和半导体芯片,半导体芯片搭载于冷却板(11)和冷却板(12)之间的半导体芯片搭载部(11a、12a),壳体的与半导体芯片搭载部及其周边对应的部分的上下宽度比壳体的其它部分的上下宽度大。

    半导体装置及半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN118974898A

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202280094438.3

    申请日:2022-04-08

    Abstract: 目的在于提供能够减少半导体装置的孔洞的技术。半导体装置具有镀膜、半导体元件和间隔件。半导体元件设置于镀膜的上方。间隔件包含第1导线凸块。间隔件在镀膜与半导体元件之间设置间隙。第1导线凸块的下表面不与镀膜接触,或者第1导线凸块的下表面中的位于比镀膜的外周部更靠外侧处的一部分不与镀膜接触。

    功率半导体装置及功率半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN111066142A

    公开(公告)日:2020-04-24

    申请号:CN201780094087.5

    申请日:2017-08-25

    Abstract: 本发明的目的在于,对于功率半导体装置,抑制封装树脂的裂纹和半导体装置的翘曲。本发明的功率半导体装置具有:半导体元件(4、6);端子(9),其与所述半导体元件(4、6)的上表面接合;框体(14),其将半导体元件(4、6)以及端子(9)收容;以及封装树脂,其在框体(14)内将半导体元件(4、6)以及端子(9)封装,封装树脂具有:第1封装树脂(21),其至少将半导体元件(4、6)覆盖;以及第2封装树脂(22),其形成于第1封装树脂(21)的上方,在半导体元件(4、6)的工作温度下,第1封装树脂(21)与第2封装树脂(22)相比线膨胀系数小,第1封装树脂(21)与端子(9)之间的线膨胀系数之差比第2封装树脂(22)与端子(9)之间的线膨胀系数之差小。

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