半导体封装和图像传感器

    公开(公告)号:CN109585471B

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN201811107072.0

    申请日:2018-09-21

    Abstract: 本发明构思涉及一种半导体封装和图像传感器。一种半导体封装包括:封装基板;设置在封装基板上的图像传感器;以及接合层,其设置在封装基板与图像传感器之间并包括第一区域和第二区域,第二区域具有比第一区域的弹性模量低的弹性模量,并设置在第一区域的周边。

    半导体封装及其制造方法

    公开(公告)号:CN110581107A

    公开(公告)日:2019-12-17

    申请号:CN201910484072.0

    申请日:2019-06-04

    Abstract: 一种半导体封装包括:下基板;连接基板,耦合到下基板,所述连接基板具有围绕空腔的横向部分以及横向部分的顶表面上的第一导电图案;下基板上的下半导体芯片,所述下半导体芯片位于连接基板的空腔中,所述下半导体芯片包括下半导体芯片的顶表面上的第二导电图案;接合构件,将第一导电图案和第二导电图案彼此连接;以及第一导电图案和第二导电图案上的顶部封装。

    半导体封装
    4.
    发明公开
    半导体封装 审中-实审

    公开(公告)号:CN108206172A

    公开(公告)日:2018-06-26

    申请号:CN201711344807.7

    申请日:2017-12-15

    Abstract: 一种半导体封装包括:第一衬底,包括第一上部接垫,所述第一上部接垫位于所述第一衬底的顶表面上;第二衬底,包括第二上部接垫,所述第二上部接垫位于所述第二衬底的顶表面上,所述第二上部接垫的节距小于所述第一上部接垫的节距;以及第一半导体芯片,位于以下两者上并电连接到以下两者:(i)所述第一上部接垫中的至少一个以及(ii)所述第二上部接垫中的至少一个。本发明概念的一些示例性实施例可为半导体封装提供高可靠性。

    图像传感器封装以及封装

    公开(公告)号:CN108091661A

    公开(公告)日:2018-05-29

    申请号:CN201710614432.5

    申请日:2017-07-25

    Abstract: 一种图像传感器封装以及封装。图像传感器封装包括:图像传感器芯片,位在封装衬底上;逻辑芯片,位在所述封装衬底上并与所述图像传感器芯片垂直地重叠;以及存储器芯片,位在所述封装衬底上并与所述图像传感器芯片及逻辑芯片垂直地重叠。所述逻辑芯片处理从所述图像传感器芯片输出的像素信号。所述存储器芯片经由导电线电连接到所述图像传感器芯片,并存储从所述图像传感器芯片输出的所述像素信号与由所述逻辑芯片处理的像素信号中的至少一个。所述存储器芯片经由所述导电线接收从所述图像传感器芯片输出的所述像素信号并经由所述图像传感器芯片与所述导电线接收由所述逻辑芯片处理的所述像素信号。

    光子计数检测器以及光子计数和检测方法

    公开(公告)号:CN103083029A

    公开(公告)日:2013-05-08

    申请号:CN201210427967.9

    申请日:2012-10-31

    CPC classification number: G01T1/18 G01T1/247 G01T1/29 G01T1/366

    Abstract: 提供一种光子计数检测器以及光子计数和检测方法。所述光子计数检测器包括:读出电路,被构造为对入射到传感器的多能辐射中的光子计数,其中,针对多能辐射的多个能带中的每个能带对光子计数,读出电路分别与多能辐射照射到的区域的像素对应,每个读出电路被构造为对多能辐射的多个能带中的一个预定能带中的光子计数,一部分读出电路被构造为对多能辐射的除了多个能带中的一个预定能带以外的至少一个能带中的光子计数。

    半导体封装件
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108735770B

    公开(公告)日:2024-02-23

    申请号:CN201810310753.0

    申请日:2018-04-09

    Abstract: 本发明公开了一种半导体封装件,其包括:衬底上的第一半导体芯片;第二半导体芯片,其位于衬底上并且与第一半导体装置间隔开;模制层,其位于衬底上并且覆盖第一半导体芯片的侧部和第二半导体芯片的侧部;以及图像传感器单元,其位于第一半导体芯片、第二半导体芯片和模制层上。图像传感器单元电连接至第一半导体芯片。

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