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公开(公告)号:CN101252118B
公开(公告)日:2011-01-19
申请号:CN200810081232.9
申请日:2008-02-20
Applicant: 瑞萨电子株式会社
Inventor: 松井聪
IPC: H01L23/538 , H01L23/488 , H01L23/498 , H01L21/60 , H01L21/48
CPC classification number: H01L25/0657 , H01L21/486 , H01L23/147 , H01L23/49827 , H01L23/60 , H01L2224/0554 , H01L2224/05573 , H01L2224/13025 , H01L2224/16 , H01L2224/16145 , H01L2224/16146 , H01L2224/16225 , H01L2224/16235 , H01L2224/17181 , H01L2225/06513 , H01L2225/06517 , H01L2225/06541 , H01L2225/06572 , H01L2924/00014 , H01L2924/01078 , H01L2924/12032 , H01L2924/12044 , H01L2924/13091 , H01L2924/15311 , H01L2924/3011 , H01L2924/00 , H01L2224/05599 , H01L2224/0555 , H01L2224/0556
Abstract: 本发明涉及一种半导体器件,包括:由半导体制成的硅内插器;以及第一半导体芯片,安装在该硅内插器的一个表面上。该半导体器件设置有:贯通电极,穿通该硅内插器,而且具有与该硅内插器绝缘的侧面;以及布线,用于将该贯通电极的一端与该硅内插器相连。该贯通电极连接到设置在该第一半导体芯片上的电源布线或者GND布线。
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公开(公告)号:CN101599477B
公开(公告)日:2012-10-10
申请号:CN200910146024.7
申请日:2009-06-05
Applicant: 瑞萨电子株式会社
IPC: H01L23/52 , H01L23/485 , H01L21/60 , H01L21/768
Abstract: 本发明提供一种半导体装置及制造该半导体装置的方法。在该半导体装置中,贯通孔被形成在基板中,并且位于导电性图案下方。绝缘层位于贯通孔的底表面处。导电性图案位于基板的一个表面侧。位于贯通孔与导电性图案之间的绝缘层中形成开口图案,其中从开口图案的外周到贯通孔的中心轴的距离r3比贯通孔中的距离r1小。通过提供开口图案,在贯通孔的底表面处暴露导电性图案。凸块位于基板的背表面侧,并且与贯通电极一体地形成。
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公开(公告)号:CN1976014B
公开(公告)日:2011-03-23
申请号:CN200610163649.0
申请日:2006-12-01
Applicant: 瑞萨电子株式会社
IPC: H01L23/48 , H01L23/538 , H01L25/065 , H01L21/60 , H01L21/768
CPC classification number: H01L25/0657 , H01L21/76898 , H01L23/3128 , H01L23/481 , H01L23/562 , H01L23/642 , H01L25/50 , H01L2221/68345 , H01L2223/6622 , H01L2224/16145 , H01L2224/16225 , H01L2224/32225 , H01L2224/73204 , H01L2225/06513 , H01L2225/06517 , H01L2225/06524 , H01L2225/06541 , H01L2225/06572 , H01L2924/01046 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/10155 , H01L2924/15311 , H01L2924/181 , H01L2924/00 , H01L2924/00012
Abstract: 一种半导体器件,包括:互连构件,第一半导体芯片,第二半导体芯片,树脂层,无机绝缘层和通孔电极。第一半导体芯片以面向下的方式安装在互连构件上。树脂层覆盖第一半导体芯片的侧表面。无机绝缘层与第一半导体芯片的后表面接触,且直接覆盖该后表面。而且,无机绝缘层在树脂层之上延伸。通孔电极穿过无机绝缘层和第一半导体芯片的半导体衬底。以面向下的方式在无机绝缘层上安装第二半导体芯片,该无机绝缘层覆盖最上层中的第一半导体芯片的背表面。
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