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公开(公告)号:CN100438025C
公开(公告)日:2008-11-26
申请号:CN200410062094.1
申请日:2004-07-05
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: H01L25/065 , H01L25/07 , H01L25/18 , H01L21/50
CPC classification number: H01L25/0657 , H01L23/3121 , H01L24/73 , H01L2224/05554 , H01L2224/16 , H01L2224/16225 , H01L2224/32145 , H01L2224/32225 , H01L2224/48091 , H01L2224/48227 , H01L2224/49171 , H01L2224/49173 , H01L2224/73204 , H01L2224/73265 , H01L2224/92125 , H01L2224/92247 , H01L2225/0651 , H01L2225/06517 , H01L2225/06555 , H01L2225/06582 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/10253 , H01L2924/15311 , H01L2924/181 , H01L2924/3025 , H01L2924/00014 , H01L2924/00 , H01L2924/00012
Abstract: 一种包括具有电极焊盘的基板(10),通过第1粘接层(11)倒装片安装在基板上的第1半导体芯片(12),通过第2粘接层(13)搭载在第1半导体芯片的上段、具有电极焊盘的第2半导体芯片(14),电连接第2半导体芯片的电极焊盘与基板的电极焊盘的金属线(15),以及密封第1和第2半导体芯片、金属线的模制树脂(16);第1粘接层在第1半导体芯片的外边缘形成倒角的半导体装置。第1半导体芯片使其中心轴偏离基板的中心轴地配置,该偏离使第1半导体芯片向与倒角突出第1半导体芯片的外边缘的长度为最大的一边相对的边偏移地设置。抑制由粘接剂形成的倒角产生的影响,使装置小型化并提高批量生产性。
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公开(公告)号:CN101404270A
公开(公告)日:2009-04-08
申请号:CN200810092713.X
申请日:2008-04-10
Applicant: 松下电器产业株式会社
Inventor: 赤星年隆
IPC: H01L23/488 , H01L23/13 , H01L23/31 , H01L21/50 , H01L21/56 , H01L21/78 , H01L21/48 , H01L21/302
CPC classification number: H01L24/97 , H01L2224/45144 , H01L2224/48227 , H01L2224/97 , H01L2924/1515 , H01L2924/15311 , H01L2224/85 , H01L2924/00
Abstract: 本发明揭示一种半导体器件及其制造方法和半导体基板。为了将半导体器件进行一次成型,在半导体基板中,在表面具有第1电极组,在背面具有与外部电极端子连接的第2电极组,同时具有多个半导体元件安装区域203,沿着划分多个半导体元件安装区域203的划分线202,在该划分线202上的表面侧形成凹下部分205。
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公开(公告)号:CN1835230A
公开(公告)日:2006-09-20
申请号:CN200610068170.9
申请日:2006-03-17
Applicant: 松下电器产业株式会社
Inventor: 赤星年隆
IPC: H01L25/00 , H01L23/36 , H01L23/488
CPC classification number: H01L2224/16225 , H01L2224/73253 , H01L2924/15311
Abstract: 本发明揭示一种叠层型半导体装置,在第2半导体基板(5)的背面上,形成以安装在与该背面侧相邻近的半导体装置(3)上的第1半导体元件(1)接触的状态配置的放热用的金属图案(12),在半导体基板(2、5)周边附近的地方,形成贯通厚度方向传递热量的贯通路径(14、15),在所述半导体基板(5)的背面,使贯通路径(14)与放热用的金属图案(12)连接,设置跨越半导体装置(3、6)之间的焊锡珠(11),利用该焊锡珠(11)使传递到半导体装置(6)的金属图案(12)的热量传递到与设置该金属图案(12)的半导体装置(6)的背面侧邻近的半导体装置3的贯通路径(15)。
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公开(公告)号:CN100487904C
公开(公告)日:2009-05-13
申请号:CN200610067959.2
申请日:2006-03-14
Applicant: 松下电器产业株式会社
Inventor: 赤星年隆
IPC: H01L27/146 , H01L23/498 , H01L21/50
CPC classification number: H01L27/14618 , H01L27/14683 , H01L31/0203 , H01L2224/16 , H04N5/2257
Abstract: 在埋设于基座(2)中的金属配线(7)上形成有在基座(2)上面的内部端子部(8)与外部端子部(9)之间的部位露出的金属露出部(12)。由此,在外部端子部(9)上未装设焊球的场合,即使在制造途中的工序中析出物从密封树脂沿基座(2)的上面流出的场合,也能利用金属露出部(12)阻挡该析出物而起到防波堤的作用,能防止析出物覆盖在外部端子部(9)上。
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公开(公告)号:CN1835246A
公开(公告)日:2006-09-20
申请号:CN200610067959.2
申请日:2006-03-14
Applicant: 松下电器产业株式会社
Inventor: 赤星年隆
IPC: H01L27/146 , H01L23/498 , H01L21/50
CPC classification number: H01L27/14618 , H01L27/14683 , H01L31/0203 , H01L2224/16 , H04N5/2257
Abstract: 在埋设于基座(2)中的金属配线(7)上形成有在基座(2)上面的内部端子部(8)与外部端子部(9)之间的部位露出的金属露出部(12)。由此,在外部端子部(9)上未装设焊球的场合,即使在制造途中的工序中析出物从密封树脂沿基座(2)的上面流出的场合,也能利用金属露出部(12)阻挡该析出物而起到防波堤的作用,能防止析出物覆盖在外部端子部(9)上。
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公开(公告)号:CN1622328A
公开(公告)日:2005-06-01
申请号:CN200410095625.7
申请日:2004-11-26
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: H01L25/065 , H01L25/04 , H01L25/07 , H01L25/18
CPC classification number: H01L24/97 , H01L24/73 , H01L24/92 , H01L25/0657 , H01L2224/05571 , H01L2224/05573 , H01L2224/16145 , H01L2224/16225 , H01L2224/32145 , H01L2224/32225 , H01L2224/45144 , H01L2224/48227 , H01L2224/4824 , H01L2224/484 , H01L2224/49171 , H01L2224/73204 , H01L2224/73215 , H01L2224/73253 , H01L2224/73257 , H01L2224/73265 , H01L2224/97 , H01L2225/0651 , H01L2225/06517 , H01L2225/06572 , H01L2225/06586 , H01L2924/00014 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01015 , H01L2924/01019 , H01L2924/01023 , H01L2924/01033 , H01L2924/01074 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/01082 , H01L2924/1515 , H01L2924/15311 , H01L2924/15787 , H01L2924/1815 , H01L2924/19107 , H01L2224/85 , H01L2224/81 , H01L2224/83 , H01L2924/00 , H01L2924/00012 , H01L2224/92247 , H01L2224/05599
Abstract: 本发明揭示一种半导体器件及其制造方法,通过小片接合材料(7)使第一半导体元件(3)和第二半导体元件(8)粘接,在一侧的表面上有第三电极(2)和在另一侧的表面的周围部分有第四电极(12)的半导体载体上(1),利用倒装接合使所述第一半导体元件(3)的所述第一电极(6a)和所述第三电极(2)接合,利用引线接合通过金属细线(10)使第二半导体元件8的焊盘9和半导体载体(1)的第四电极(12)连接,将绝缘密封树脂(13)填入所述半导体载体(1)和第二半导体元件(8)之间的第一半导体元件(3)的周围及金属细线(10)的布线部,将该密封充填区域(13)的外形尺寸做成和第二半导体元件(8)几乎相同。
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公开(公告)号:CN1577841A
公开(公告)日:2005-02-09
申请号:CN200410062094.1
申请日:2004-07-05
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: H01L25/065 , H01L25/07 , H01L25/18 , H01L21/50
CPC classification number: H01L25/0657 , H01L23/3121 , H01L24/73 , H01L2224/05554 , H01L2224/16 , H01L2224/16225 , H01L2224/32145 , H01L2224/32225 , H01L2224/48091 , H01L2224/48227 , H01L2224/49171 , H01L2224/49173 , H01L2224/73204 , H01L2224/73265 , H01L2224/92125 , H01L2224/92247 , H01L2225/0651 , H01L2225/06517 , H01L2225/06555 , H01L2225/06582 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/10253 , H01L2924/15311 , H01L2924/181 , H01L2924/3025 , H01L2924/00014 , H01L2924/00 , H01L2924/00012
Abstract: 一种包括具有电极焊盘的基板(10),通过第1粘接层(11)倒装片安装在基板上的第1半导体芯片(12),通过第2粘接层(13)搭载在第1半导体芯片的上段、具有电极焊盘的第2半导体芯片(14),电连接第2半导体芯片的电极焊盘与基板的电极焊盘的金属线(15),以及密封第1和第2半导体芯片、金属线的模制树脂(16);第1粘接层在第1半导体芯片的外边缘形成倒角的半导体装置。第1半导体芯片使其中心轴偏离基板的中心轴地配置,该偏离使第1半导体芯片向与倒角突出第1半导体芯片的外边缘的长度为最大的一边相对的边偏移地设置。抑制由粘接剂形成的倒角产生的影响,使装置小型化并提高批量生产性。
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