可用于模型训练的扫描自由基传感器

    公开(公告)号:CN118355469A

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN202280080533.8

    申请日:2022-11-08

    Abstract: 在实施例中,描述了一种具有可延伸探针的等离子体处理工具。在实施例中,所述等离子体处理工具包括腔室和用于支撑基板的基座。在实施例中,边缘环包围基座的周边。另外,提供了位于探针的末端处的传感器。在实施例中,探针被配置为在基座之上延伸。

    脉冲序列退火方法和设备

    公开(公告)号:CN107123597B

    公开(公告)日:2021-04-27

    申请号:CN201610912283.6

    申请日:2008-11-10

    Abstract: 本发明通常描述用来在衬底的期望区域上执行退火工艺的设备和方法。在一个实施例中,利用闪光灯或激光设备,将脉冲电磁能量供给到衬底上。该脉冲可以是从约1纳秒到约10毫秒长,并且每个脉冲具有比熔化衬底材料需要的能量小的能量。脉冲之间的能量间隔通常足够长,以允许由每个脉冲给予的能量完全消散。由此,每个脉冲实现一个微退火循环。脉冲可以被一次性供给到整个衬底上,或者一次性供给到衬底的一部分上。此外实施例提供了一种用来供电辐射组件的设备,和用来检测衬底上的脉冲的效果的设备。

    在激光处理系统中的周围层气流分布

    公开(公告)号:CN106229264B

    公开(公告)日:2019-10-25

    申请号:CN201610621466.2

    申请日:2011-07-29

    Abstract: 本发明公开一种用于使半导体基板退火的方法及设备。设备具有退火能量源及基板支撑件以及遮蔽构件,所述遮蔽构件设置于退火能量源与基板支撑件之间。遮蔽构件为实质平坦构件,所述实质平坦构件具有比在基板支撑件上处理的基板大的尺寸,窗覆盖所述实质平坦构件中的中心开口。中心开口具有气体入口门及气体出口门,所述气体入口门及气体出口门各自分别与气体入口气室及气体出口气室流体连通。连接构件设置于中心开口附近,且所述连接构件将窗固持于中心开口上方。连接构件中的连接开口分别经由气体入口导管及气体出口导管与气体入口气室及气体出口气室流体连通,所述气体入口导管及气体出口导管穿过连接构件形成。

    经由激光衍射测量3D半导体结构的温度的设备及方法

    公开(公告)号:CN107421642A

    公开(公告)日:2017-12-01

    申请号:CN201710285969.1

    申请日:2012-11-08

    Abstract: 本发明的实施例大致上涉及用以测量及监控基板的温度的设备及方法,所述基板上具有三维(3D)特征结构。设备包含光源、聚焦透镜及发射率计,所述光源用以照射基板,所述基板上具有3D特征结构,所述聚焦透镜用以聚集且聚焦反射光,所述发射率计用以检测聚焦的所述反射光的发射率。设备亦包含光束分光器及成像装置。成像装置提供反射光的衍射图案的放大图像。方法包含以光照射基板,所述基板上具有3D特征结构,且以聚焦透镜聚焦反射光。然后聚焦光导向传感器且测量基板的发射率。反射光亦可入射成像装置,以产生反射光的衍射图案的放大图像。

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