一种基于三层胶的金属剥离方法

    公开(公告)号:CN112271133A

    公开(公告)日:2021-01-26

    申请号:CN202011026789.X

    申请日:2020-09-25

    Abstract: 本发明公开一种基于三层胶的金属剥离方法,包括以下步骤:选择基片并清洗;在基片顶面旋涂第一光刻胶层;根据金属版图图形,在第一光刻胶层上进行图形曝光、显影;旋涂LOR胶层;在LOR胶层顶面旋涂第二光刻胶层;根据金属版图图形,在第二光刻胶层上进行图形曝光、显影;同时显影去除相对应的LOR胶层区域,使基片顶面的图形区域暴露;第二光刻胶层的图形内切小于第一光刻胶层的图形内切;溅射金属Pt,在基片顶面的图形区域得到金属图形;采用超声浸泡和剥离工艺,对剩余的第一光刻胶层、LOR胶层与第二光刻胶层同时剥离;该方法能够用于高精度线宽控制的金属图形化,提高金属线宽的均匀性,提高良率,且工艺简单。

    一种抗干扰MEMS器件的制备方法

    公开(公告)号:CN110683509B

    公开(公告)日:2022-12-02

    申请号:CN201910793476.8

    申请日:2019-08-27

    Abstract: 本发明公开一种抗干扰MEMS器件的制备方法,包括以下步骤:S1、在衬底层晶圆制备隔离槽;S2、在隔离槽内填充绝缘介质层与隔离介质层,形成垂直引线;S3、在感应电极结构层晶圆制备感应电极中心锚点及硅支撑柱;S4、将步骤S2与步骤S3得到的晶圆相键合;S5、在可动敏感结构层晶圆制备可动结构中心锚点;S6、将步骤S5与步骤S4得到的晶圆相键合,再光刻与刻蚀形成可动敏感结构以及感应电极;S7、制备盖帽;S8、将步骤S7与步骤S4得到的晶圆相键合;S9、制备接触孔;S10、在接触孔处制备用于引线键合的PAD点;本方法得到的MEMS器件能够降低外界干扰对器件性能的影响,且加工工艺简单。

    一种具有应力释放功能的双端固支板式MEMS结构

    公开(公告)号:CN110668391A

    公开(公告)日:2020-01-10

    申请号:CN201910793511.6

    申请日:2019-08-27

    Abstract: 本发明公开一种具有应力释放功能的双端固支板式MEMS结构,包括相互键合的衬底层与可动结构层,衬底层顶部中心设有空腔,衬底层顶部设有环形隔离槽,环形隔离槽位于空腔外周,环形隔离槽与空腔之间形成环形固定锚点;可动结构层包含可动结构外框,可动结构外框内设有双端固支板结构,可动结构外框与双端固支板结构之间形成环形应力释放槽,环形应力释放槽与环形隔离槽相对应;环形固定锚点对双端固支板结构形成支撑;双端固支板结构的四角与可动结构外框的四个内角之间分别对应设有应力释放连接梁;本发明在保证传感器谐振频率不降低的情况下极大地减小了传感器对热应力的敏感度。

    一种具有应力释放功能的双端固支板式MEMS结构

    公开(公告)号:CN110668391B

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN201910793511.6

    申请日:2019-08-27

    Abstract: 本发明公开一种具有应力释放功能的双端固支板式MEMS结构,包括相互键合的衬底层与可动结构层,衬底层顶部中心设有空腔,衬底层顶部设有环形隔离槽,环形隔离槽位于空腔外周,环形隔离槽与空腔之间形成环形固定锚点;可动结构层包含可动结构外框,可动结构外框内设有双端固支板结构,可动结构外框与双端固支板结构之间形成环形应力释放槽,环形应力释放槽与环形隔离槽相对应;环形固定锚点对双端固支板结构形成支撑;双端固支板结构的四角与可动结构外框的四个内角之间分别对应设有应力释放连接梁;本发明在保证传感器谐振频率不降低的情况下极大地减小了传感器对热应力的敏感度。

    一种抗干扰MEMS器件的制备方法

    公开(公告)号:CN110683509A

    公开(公告)日:2020-01-14

    申请号:CN201910793476.8

    申请日:2019-08-27

    Abstract: 本发明公开一种抗干扰MEMS器件的制备方法,包括以下步骤:S1、在衬底层晶圆制备隔离槽;S2、在隔离槽内填充绝缘介质层与隔离介质层,形成垂直引线;S3、在感应电极结构层晶圆制备感应电极中心锚点及硅支撑柱;S4、将步骤S2与步骤S3得到的晶圆相键合;S5、在可动敏感结构层晶圆制备可动结构中心锚点;S6、将步骤S5与步骤S4得到的晶圆相键合,再光刻与刻蚀形成可动敏感结构以及感应电极;S7、制备盖帽;S8、将步骤S7与步骤S4得到的晶圆相键合;S9、制备接触孔;S10、在接触孔处制备用于引线键合的PAD点;本方法得到的MEMS器件能够降低外界干扰对器件性能的影响,且加工工艺简单。

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