公开(公告)号：CN110683509B

公开(公告)日：2022-12-02

申请号：CN201910793476.8

申请日：2019-08-27

Applicant: 华东光电集成器件研究所

Inventor： 王鹏 ,  张胜兵 ,  包星晨 ,  吴梦茹 ,  吕杰

IPC: B81C1/00 ,  B81B7/00 ,  B81B7/02

Abstract: 本发明公开一种抗干扰MEMS器件的制备方法，包括以下步骤：S1、在衬底层晶圆制备隔离槽；S2、在隔离槽内填充绝缘介质层与隔离介质层，形成垂直引线；S3、在感应电极结构层晶圆制备感应电极中心锚点及硅支撑柱；S4、将步骤S2与步骤S3得到的晶圆相键合；S5、在可动敏感结构层晶圆制备可动结构中心锚点；S6、将步骤S5与步骤S4得到的晶圆相键合，再光刻与刻蚀形成可动敏感结构以及感应电极；S7、制备盖帽；S8、将步骤S7与步骤S4得到的晶圆相键合；S9、制备接触孔；S10、在接触孔处制备用于引线键合的PAD点；本方法得到的MEMS器件能够降低外界干扰对器件性能的影响，且加工工艺简单。

公开(公告)号：CN110683509A

公开(公告)日：2020-01-14

申请号：CN201910793476.8

申请日：2019-08-27

Applicant: 华东光电集成器件研究所

Inventor： 王鹏 ,  张胜兵 ,  包星晨 ,  吴梦茹 ,  吕杰

IPC: B81C1/00 ,  B81B7/00 ,  B81B7/02

Abstract: 本发明公开一种抗干扰MEMS器件的制备方法，包括以下步骤：S1、在衬底层晶圆制备隔离槽；S2、在隔离槽内填充绝缘介质层与隔离介质层，形成垂直引线；S3、在感应电极结构层晶圆制备感应电极中心锚点及硅支撑柱；S4、将步骤S2与步骤S3得到的晶圆相键合；S5、在可动敏感结构层晶圆制备可动结构中心锚点；S6、将步骤S5与步骤S4得到的晶圆相键合，再光刻与刻蚀形成可动敏感结构以及感应电极；S7、制备盖帽；S8、将步骤S7与步骤S4得到的晶圆相键合；S9、制备接触孔；S10、在接触孔处制备用于引线键合的PAD点；本方法得到的MEMS器件能够降低外界干扰对器件性能的影响，且加工工艺简单。