一种基于共聚焦的航天器结构变形监测系统

    公开(公告)号:CN112964194B

    公开(公告)日:2023-05-02

    申请号:CN202110405879.8

    申请日:2021-04-15

    Abstract: 本申请提供一种基于共聚焦的航天器结构变形监测系统,包括用于为被测产品提供高低温环境的高低温试验箱;所述高低温试验箱的两侧对称安装有平行光学玻璃;所述高低温试验箱的外部与两个所述平行光学玻璃相对应的位置分别设有共聚焦测量装置;所述共聚焦测量装置用于向所述被测产品发射入射光,并测量经所述被测产品反射回来的反射光的波长。本申请提供的基于共聚焦的航天器结构变形监测系统,结构简单,操作简便,对光源稳定性要求不高,测量精度可以到微米级,变形测量范围可达几十毫米。

    一种基于斜向观测镜面法方向的测量方法和系统

    公开(公告)号:CN114646261B

    公开(公告)日:2023-09-19

    申请号:CN202210248765.1

    申请日:2022-03-14

    Abstract: 本申请公开了一种基于斜向观测镜面法方向的测量方法和系统,所述方法包括以下步骤:建立全局坐标系;在全局坐标系下,朝向被测镜面且沿其非法线矢量方向发射光源,形成入射光路,获取所述入射光路在所述全局坐标系下的矢量方向,记为N2;接收被测镜面反射出的光源,形成反射光路,获取反射光路在所述全局坐标系下的矢量方向,记为N3;计算入射光路与反射光路的矢量方向之和,得到被测镜面法线矢量方向N1。解决了被测镜面法线矢量方向遮挡导致无法实施测量的难题,拓宽了电子经纬仪的使用范围,减少了被测设备的安装布局限制,降低了被测设备在某些工况下的测量难度。

    航天器装配精度受重力和温度影响的补偿方法

    公开(公告)号:CN104197839B

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201410514480.3

    申请日:2014-09-29

    Abstract: 本发明公开了一种基于基准立方镜的航天器装配精度受重力和温度影响的补偿方法,包括进行重力变形影响补偿时,采用经纬仪布站的方式,分别在加装配重块前后测量零重力基准镜相对于参考基准镜的姿态角度矩阵,计算得到扭曲矩阵,根据扭曲矩阵对安装设备后测量得到的姿态矩阵进行修正;还包括进行温度变形影响补偿时,通过在不同温度下测量被测设备上的基准立方镜相对于参考基准立方镜的姿态角度矩阵,最后根据得到的矩阵与温度数据,拟合得到修正函数,航天器在太空运行时,根据在轨温度、修正函数以及20℃时重力补偿后的初始安装矩阵,可以对温度变形进行修正得到在轨安装姿态矩阵。

    基于图像识别的经纬仪自动准直方法

    公开(公告)号:CN103604411A

    公开(公告)日:2014-02-26

    申请号:CN201310553352.5

    申请日:2013-11-08

    CPC classification number: G01C1/04

    Abstract: 本发明公开了一种基于图像识别的自动经纬仪准直测量方法,其测量设备由内置驱动马达的电子经纬仪、微型测量相机和固定工装组成,通过微型测量相机对电子经纬仪进行自动准直测量的引导,标定图像平面坐标系与经纬仪目镜十字丝观测坐标系间的转换关系以及标定焦距处于准直观测状态下电子经纬仪偏转角度量与微型测量相机像素数量的关系,自动提取准直返回光和电子经纬仪目镜十字丝和偏差关系并直到准直。本发明采用的基于图像识别的经纬仪自动准直方法,由图像记录和分析的方法替代传统的人眼观测的方法,保证了在长时间测量情况下的测量稳定性,提高了测量的工作效率。

    航天器密封舱在轨压差环境舱内设备精度补偿方法

    公开(公告)号:CN113804429B

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202111261905.0

    申请日:2021-10-28

    Abstract: 本发明公开了航天器密封舱在轨压差环境舱内设备精度补偿装置,包括密封舱舱体与密封舱堵盖,所述密封舱堵盖横向外侧面固定连接有专用透视装置,所述密封舱堵盖横向内侧面固定连接有舱内设备A,所述舱内设备A的精测光路通过专用透视装置且与专用透视装置的轴线平行,所述密封舱舱体纵向一侧面固定连接有舱外设备B,所述密封舱舱体外部分别架设有经纬仪T1,经纬仪T2、经纬仪T3与经纬仪T4。本发明中,根据姿态角的变化,对常压时的舱内设备A测量值进行补偿修正,并通过修正后的值,指挥操作人员对设备A的安装精度进行调整,满足了密封舱舱内设备在轨精度的保证,是现行精测在轨精度补偿的关键技术突破,且操作简单,便于操作。

Patent Agency Ranking