一种基于散斑灰度分布特性综合参数的散斑质量评价方法

    公开(公告)号:CN116051529A

    公开(公告)日:2023-05-02

    申请号:CN202310101246.7

    申请日:2023-02-13

    Inventor: 陈永昕 甘晓川

    Abstract: 本发明公开一种基于散斑灰度分布特性综合参数的散斑质量评价方法,属于图像测量、光学测量相关技术领域。本发明使用由散斑图像平均灰度梯度、散斑图像信息熵、散斑图像自相关参数几个方面组成的散斑灰度分布特性综合参数对散斑图的质量进行综合评价。本发明对散斑图质量进行综合评价,考虑到的指标更多样、参数更全面,能够有效地改善使用如平均灰度梯度、信息熵等单一评价参数所导致的误判现象;本发明采用散斑图像自相关参数这一新参数,遍历整幅散斑图像,能够有效地综合考虑散斑图的对比度、随机度,筛选出高质量的散斑;本发明筛选出的高质量散斑,能够提高数字图像相关系统处理位移、应变的精度。

    一种轻量化气浮工作台
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114290082B

    公开(公告)日:2022-11-18

    申请号:CN202111521752.9

    申请日:2021-12-13

    Abstract: 本发明公开的一种轻量化气浮工作台,属于几何量领域。本发明主要由三部分组成,一是摩擦驱动组件,二是基础滑动组件,三是一维滑动工作台。本发明采用气吸附形式实现导向移动,沿大理石导轨方向实现一维运动,通过电机驱动摩擦轮,以摩擦驱动形式实现位移,实现整体工作台的初步定位,配合干涉仪等标准器测量值反馈实现±2μm重复精度;该装置还配置一维运动顶部主工作台,能够满足各种需要微调操作下的±1μm的手动微调精确定位。该装置具有行程大,整体负载低,运行精度高、可手动微调的特点,安装被测量件后能够实现光学器件的高直线度位移。本发明能够直接应用于大尺寸长度标准装置中移动滑台的构成,用于激光跟踪仪、干涉仪、标准钢卷尺等设备的校准。

    一种适用于轨道轮式结构的位移推进机构

    公开(公告)号:CN114313849A

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202210002959.3

    申请日:2022-01-04

    Abstract: 本发明公开的一种适用于轨道轮式结构的位移推进机构,属于几何量领域。本发明主要由平移推动组件、升降组件、摩擦位移定位组件三部分组成。本发明采用钢制结构的整体支撑座作为平移推动组件的主体结构,通过整体挂板与轨道相连接固定,搭载有可调整平面度的高精度导轨,能够有效保证运行精度;同时配置有大推力螺旋升降机,通过升降机挂板与支座挂板相固定安装在轨道内侧,结构集中在轨道内侧下方,节省安装空间,实现滑台沿轨道方向的单向位移,能够满足对轨道上滚轮的滚动位移要求。本发明具备适用设备种类多、运行稳定性好、运动速度可调、结构紧凑可靠、承载能力强、维修方便等优点,同时具备自动定位准确的功能。

    一种直升机桨叶自动测量装置

    公开(公告)号:CN113945164A

    公开(公告)日:2022-01-18

    申请号:CN202111197659.7

    申请日:2021-10-14

    Abstract: 本发明公开的一种直升机桨叶自动测量装置,属于制造业计量检测领域。本发明包括桨叶安装旋转组件、测量导向座组件、挠度测量组件、辅助支撑组件、扫描测量组件和数据采集及控制系统。桨叶安装旋转组件用于桨叶的定位安装与旋转;测量导向座组件用于挠度测量组件、扫描测量组件、辅助支撑组件的导向、支撑及通过齿轮齿条的运动驱动到达预设位置;辅助支撑组件用于桨叶的自动支撑,实现挠度测量时桨叶由支撑工况到自由工况的自动转化;扫描测量组件用于测量桨叶截面几何外形轮廓、前缘的数据。本发明能够实现截面几何轮廓、扭角、挥舞挠度、前缘直线度等参数非接触的测量,达到测量精度高、测量周期短、适应不同类型直升机桨叶自动测量的目标。

    一种全自动大尺寸测量设备现场校准装置

    公开(公告)号:CN106705838B

    公开(公告)日:2018-12-21

    申请号:CN201611098260.2

    申请日:2016-12-03

    Abstract: 本发明是一种全自动大尺寸测量设备现场校准装置,属于几何量领域。其利用干涉仪作为测长标准配合直线导轨给出直线方向上的任意两点间的标准长度;利用模块化的姿态调整机构配合带预紧的轴系通过双梯形丝杠推杆实现导轨0°~90°任意角度的自动无偏摆回转,最终配合干涉仪给出在所需姿态下的标准长度;整个装置的控制系统与底座集成为一体实现校准装置的方便移动。本发明解决了现有的校准装置的效率低的问题,利用模块化的自动姿态调整机构通过计算机编程能够自动实现导轨及测长组件的0°~90°的任意姿态调整及任意姿态下测长校准工作,极大的提高传统现场校准装置的现场校准效率。

    一种高精度同轴调整装置

    公开(公告)号:CN104567837A

    公开(公告)日:2015-04-29

    申请号:CN201410817803.6

    申请日:2014-12-24

    CPC classification number: G01C15/002 G01C25/00

    Abstract: 本发明涉及一种高精度同轴调整装置,属于角度计量领域。其包括:同轴调整基准、高精度旋转定位轴系1、五维调整机构2、激光定位器3和精密转台4;精密转台4的中心有中心定位孔。在同轴基准建立阶段,精密转台4固定于水平工作平台上;同轴调整基准安装在精密转台4上。高精度旋转定位轴系1安装于精密转台4中心定位孔上。在同轴调整工作阶段,将高精度旋转定位轴系1拆除,将五维调整机构2安装在精密转台4中心定位孔上;被测物100安装在五维调整机构2上;激光定位器3安装在被测物100上。本发明提出的装置具有原理简单、测量精度高、调整效率高且调整数据能够实时输出等优点,为室内GPS、激光跟踪仪等精密仪器的测角精度的校准提供极大便利。

    一种正弦表面粗糙度样板的模型化测量与表征方法

    公开(公告)号:CN119334300A

    公开(公告)日:2025-01-21

    申请号:CN202411153710.8

    申请日:2024-08-21

    Abstract: 本发明公开的一种正弦表面粗糙度样板的模型化测量与表征方法,属于微纳米几何量计量测试技术领域。本发明利用模型化测量分析方法,结合总体和局部两种角度对正弦形貌粗糙度样板的参数指标进行定量测量与表征。从总体角度,获得其总失真度参数的测量结果表征其正弦形貌粗糙度样板质量,获得幅度参数的测量结果、周期参数的测量结果和每个周波包含采样点数的精确值;从回归残差序列与测量序列的曲线图中获得局部失真的定位信息,降低粗糙度样板失真度。从局部角度,获得正弦形貌粗糙度样板单周波幅度最大值、最小值、实验标准偏差、极差的测量结果,以及单周波周期最大值、最小值、实验标准偏差、极差的测量结果,对参数指标进行定量测量与表征。

    一种多类型曲面样板
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114295072B

    公开(公告)日:2024-08-30

    申请号:CN202111489346.9

    申请日:2021-12-08

    Abstract: 本发明公开的一种用于激光扫描仪的现场校准的多类型曲面样板,属于几何量领域。本发明结合现有的校准规范,考虑激光扫描仪的尺寸探测误差、形状探测误差、球空间误差、长度测量误差、平面空间误差五项误差参数和分辨力性能参数;样板主要由若干个凹凸曲面、台阶、标准球、圆柱台、方台、多尺寸锯齿面组成,且分别采用不同色彩表面涂层,保证复杂需求条件下的测量。本发明能够反映温度对扫描系统的影响,能够评定激光扫描仪的轮廓误差,能通过台阶面实现激光扫描仪对平面度的测量实现阶差校准,通过锯齿面完成激光扫描仪分辨力的性能评价。本发明属于一种高精度、多功能的激光扫描仪校准用标准器,满足激光扫描仪的现场校准需求。

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