公开(公告)号：CN119687830A

公开(公告)日：2025-03-25

申请号：CN202411907579.X

申请日：2024-12-23

Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

Inventor： 高廷 ,  孙安斌 ,  曹铁泽 ,  成军 ,  张伟 ,  邹志 ,  王继虎 ,  甘晓川 ,  樊晶晶 ,  王鲁涛

IPC: G01B11/24 ,  G01B11/00 ,  G01S17/08 ,  G01S7/481 ,  F16M11/04 ,  F16M11/08 ,  F16M11/10 ,  F16M11/18 ,  F16M11/32

Abstract: 本发明公开了一种跟踪扫描测量方法和计算机设备，所述跟踪扫描测量方法应用于跟踪扫描测量系统，该跟踪扫描测量系统包括二维测角驱动装置、接触激光跟踪仪、非接触激光扫描仪，在跟踪坐标测量模式下，通过控制二维测角驱动装置带动接触激光跟踪仪的跟踪扫描设备按照设定的移动策略实时跟踪接触激光跟踪仪的跟踪合作目标以获取目标坐标系下的坐标数据；在扫描测量模式下，通过控制二维测角驱动装置带动非接触激光扫描仪按照设定的扫描策略扫描待测量面以实时获取待测量面在目标坐标系下的扫描点云数据。本发明可以通过一台仪器实现高精度跟踪坐标测量和高效率扫描测量，显著提升检测效率。

公开(公告)号：CN119687829A

公开(公告)日：2025-03-25

申请号：CN202411901077.6

申请日：2024-12-23

Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

Inventor： 孙安斌 ,  张伟 ,  高廷 ,  邹志 ,  曹铁泽 ,  甘晓川 ,  王继虎 ,  樊晶晶 ,  成军 ,  武文彬 ,  王鲁涛

IPC: G01B11/24 ,  G01B11/00 ,  G01S17/08 ,  G01S7/481 ,  F16M11/04 ,  F16M11/08 ,  F16M11/10 ,  F16M11/18 ,  F16M11/32

Abstract: 本发明公开了一种跟踪扫描测量集成系统、跟踪扫描测量方法及平台，控制装置在跟踪测量模式下，控制激光发射源向接触激光跟踪装置发射测距激光，并根据接触激光跟踪装置反馈的光测距信号控制二维测角驱动装置和激光测距装置带动接触激光跟踪装置实时跟踪设定的跟踪合作目标，以实时获取跟踪合作目标与待测量面接触点的坐标数据；在扫描测量模式下，控制激光发射源向非接触激光扫描装置发射测距激光，并根据非接触激光扫描装置反馈的光测距信号控制二维测角驱动装置和激光测距装置带动非接触激光扫描装置扫描待测量面以获取扫描点云数据。本发明可通过一台仪器实现高精度跟踪坐标测量和高效率扫描测量，显著提升检测效率。

公开(公告)号：CN119687830B

公开(公告)日：2025-05-23

申请号：CN202411907579.X

申请日：2024-12-23

Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

Inventor： 高廷 ,  孙安斌 ,  曹铁泽 ,  成军 ,  张伟 ,  邹志 ,  王继虎 ,  甘晓川 ,  樊晶晶 ,  王鲁涛

IPC: G01B11/24 ,  G01B11/00 ,  G01S17/08 ,  G01S7/481 ,  F16M11/04 ,  F16M11/08 ,  F16M11/10 ,  F16M11/18 ,  F16M11/32

Abstract: 本发明公开了一种跟踪扫描测量方法和计算机设备，所述跟踪扫描测量方法应用于跟踪扫描测量系统，该跟踪扫描测量系统包括二维测角驱动装置、接触激光跟踪仪、非接触激光扫描仪，在跟踪坐标测量模式下，通过控制二维测角驱动装置带动接触激光跟踪仪的跟踪扫描设备按照设定的移动策略实时跟踪接触激光跟踪仪的跟踪合作目标以获取目标坐标系下的坐标数据；在扫描测量模式下，通过控制二维测角驱动装置带动非接触激光扫描仪按照设定的扫描策略扫描待测量面以实时获取待测量面在目标坐标系下的扫描点云数据。本发明可以通过一台仪器实现高精度跟踪坐标测量和高效率扫描测量，显著提升检测效率。

公开(公告)号：CN119756221A

公开(公告)日：2025-04-04

申请号：CN202411901083.1

申请日：2024-12-23

Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

Inventor： 孙安斌 ,  张伟 ,  高廷 ,  邹志 ,  曹铁泽 ,  王继虎 ,  成军 ,  甘晓川 ,  樊晶晶 ,  王鲁涛 ,  赵荣庭

IPC: G01B11/24 ,  G01B11/00 ,  G01S17/08 ,  G01S7/481 ,  F16M11/04 ,  F16M11/08 ,  F16M11/10 ,  F16M11/18 ,  F16M11/32

Abstract: 本发明公开了一种跟踪扫描测量系统及平台，该跟踪扫描测量系统包括二维测角驱动装置、接触激光跟踪仪、非接触激光扫描仪和控制装置，控制装置与接触激光跟踪仪、非接触激光扫描仪和二维测角驱动装置均连接，用于在跟踪坐标测量模式下，通过控制二维测角驱动装置带动激光跟踪仪实时跟踪设定的跟踪合作目标，通过二维测角与激光干涉测距数据相结合以获取所述跟踪合作目标与所述待测量面的接触点的坐标数据，扫描测量模式下，通过控制二维测角驱动装置带动非接触激光扫描仪扫描待测量面，通过二维测角与绝对测距数据相结合以获取待测量面扫描点云数据。本发明可以通过一台仪器实现高精度跟踪坐标测量和高效率扫描测量，显著提升检测效率。