公开(公告)号：CN103712998A

公开(公告)日：2014-04-09

申请号：CN201310460160.X

申请日：2013-09-30

Applicant: 波音公司

Inventor： J·A·格罗斯尼克尔 ,  R·B·格里高尔

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/223

CPC classification number: G01N23/087 ,  G01N2223/607 ,  G01N2223/615 ,  Y10T428/24917

Abstract: 本发明的名称是具有嵌入粒子的结构的非破坏性检查。一种系统，其包括具有在结构（110）内的水平面（114）处嵌入的粒子的结构（110），以及用于捕获水平面（114）处的粒子图像的X射线成像设备（420）。

公开(公告)号：CN102884422A

公开(公告)日：2013-01-16

申请号：CN201180020812.7

申请日：2011-02-23

Applicant: 拉皮斯坎系统股份有限公司

Inventor： J.本达汉 ,  C.M.布朗 ,  T.高赞尼 ,  W.G.J.兰格韦德 ,  J.D.史蒂文森

IPC: G01N23/10

CPC classification number: G01N23/087 ,  G01N23/10 ,  G01N23/20083 ,  G01N23/203 ,  G01V5/0016 ,  G01V5/0025

Abstract: 本申请公开了用X射线扫描来识别被扫描物体的物质组成的系统和方法。该系统包括至少一个X射线源，用于将X射线束投射在该物体上，其中投射的X射线束的至少部分透射穿过该物体，以及该系统包括用于测量透射的X射线的能量谱的检测器阵列。该测量的能量谱被用于确定物体的原子序数以识别该物体的物质组成。该X射线扫描系统还可具有准直的高能量后向散射的X射线检测器阵列，用于测量被物体以大于90度的角度散射的X射线的能量谱，其中测量的能量谱和透射能量谱一起用于确定物体的原子序数以识别该物体的物质组成。

公开(公告)号：CN102753963A

公开(公告)日：2012-10-24

申请号：CN201080063482.5

申请日：2010-11-02

Applicant: 法国原子能与替代能委员会

Inventor： 派翠克·奥维尔·巴菲特 ,  吉洛姆·贝尔德约蒂 ,  维诺妮卡·雷布菲尔 ,  尚·瑞科

IPC: G01N23/083 ,  G01N23/087

CPC classification number: G01N23/087

Abstract: 本发明涉及一种用于特征化材料的性质的方法，其特征在于，其包含下列步骤：-提供介于X射线光源(1)及侦测器之间的此材料的至少一个样本(100)，-使用所述X射线光源(1)使N个X射线放射光谱透射穿过所述材料，每一个达时间Δt，-计算此材料的透射函数以作为能量或侦测通道的函数，-在至少两个能量区的每一个中，计算透射函数的积分，因此形成至少一个第一透射系数(α1)及第二透射系数(α2)。

公开(公告)号：CN102257380A

公开(公告)日：2011-11-23

申请号：CN200980151276.7

申请日：2009-12-14

Applicant: 克罗梅克有限公司

Inventor： 马科斯·鲁宾逊

IPC: G01N23/20 ,  G01T1/36 ,  G01V5/00 ,  G01N23/087

CPC classification number: G01N23/087 ,  G01N23/20083 ,  G01V5/00

Abstract: 本发明描述了用于从物体获取放射线相互作用数据以能够更好地确定所述物体的组成的设备和方法。使用放射源和放射线探测器搜集透射的和散射的放射线，优选包括来自至少一个前向散射模式的放射线。探测器系统能够探测和搜集关于入射的放射线的光谱可解析的信息。每一强度数据集在所述源的光谱的在至少三个能带上被解析，且然后可将该数据进行数值处理以能够更好地确定所述物体的组成。

公开(公告)号：CN101074937B

公开(公告)日：2010-09-08

申请号：CN200610011945.9

申请日：2006-05-19

Applicant: 清华大学 ,  同方威视技术股份有限公司

Inventor： 王学武 ,  刘以农 ,  陈志强 ,  刘耀红 ,  钟华强 ,  张东生 ,  陈玉梅 ,  高峰

IPC: G01N23/087 ,  G01N23/04 ,  G01N23/08 ,  G21K1/00 ,  A61B6/00 ,  G01V5/00 ,  H05G1/26 ,  H05G1/46

CPC classification number: G01N23/087 ,  G01N2223/206 ,  G01N2223/313 ,  G01N2223/423 ,  G01N2223/639

Abstract: 公开了一种能谱调制装置、材料识别方法和设备及图像处理方法，能利用不同能量的X射线识别海运、航空集装箱等大中型客体中物质的材料。该能谱调制装置包括：第一能谱调制部件，用于对具有第一能谱的第一射线进行能谱调制；第二能谱调制部件，与所述第一能谱调制部件耦合，用于对具有与所述第一能谱不同的第二能谱的第二射线进行能谱调制。本发明可用在海关、港口、机场等场所对大型集装箱货物进行不开箱查验。

公开(公告)号：CN108474753A

公开(公告)日：2018-08-31

申请号：CN201680074801.X

申请日：2016-12-08

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 大西达也

IPC: G01N23/04 ,  G01V5/00 ,  G01T1/20

CPC classification number: G01N23/087 ,  G01N23/18 ,  G01T1/20 ,  G01T7/00

Abstract: 本发明提供一种X射线检测装置，所述X射线检测装置(10)是检测透过了检查对象物的放射线的装置，其具备：滤光片(50)，其使透射X射线的一部分衰减；检测部(20)，其检测由滤光片(50)使一部分衰减了的透射X射线；箱体(30)；保持架(40)，其具有一个狭缝(42)。检测部(20)具有线性传感器(21)和与线性传感器(21)接近地并列配置的线性传感器(22)。保持架(40)以滤光片(50)覆盖狭缝(42)的一部分的方式将滤光片(50)保持在规定的位置，线性传感器(22)检测由滤光片(50)进行衰减后的X射线。

公开(公告)号：CN103712999B

公开(公告)日：2018-08-17

申请号：CN201310429775.6

申请日：2013-09-18

Applicant: 住友橡胶工业株式会社

Inventor： 金子房惠 ,  岸本浩通

IPC: G01N23/06

CPC classification number: G01N33/445 ,  G01N23/085 ,  G01N23/087 ,  G01N23/2273 ,  Y10T436/255

Abstract: 本发明提供能够详细分析聚合物材料的劣化、特别是具有低导电率的聚合物材料的表面状态的劣化的劣化分析法。本发明涉及劣化分析法，其包括：用高强度X射线辐照其上形成有厚度为以下金属涂层的聚合物材料，并在改变X‑射线能量的同时测定X‑射线吸收，从而分析聚合物的劣化。

公开(公告)号：CN104115005B

公开(公告)日：2018-04-20

申请号：CN201380008643.4

申请日：2013-02-04

Applicant: E·克茨

Inventor： A·克莱因

IPC: G01N23/09 ,  G01N23/12 ,  G01N23/087

CPC classification number: G01N23/087 ,  G01N23/09 ,  G01N23/12

Abstract: 本发明提供了一种用于确定材料中元素含量的方法，例如诸如煤或精炼油的轻基体材料中的诸如汞、铅、铀、钚、钨或金的重元素，所述方法可以作为在线测量进行，并且所述方法使得可以进行精确地测定甚至非常低的含量，尤其是低于0.1％的含量。根据本发明，使用诸如X射线吸收谱(例如XAS、XANES、EXAFS)的技术测定特征吸收值。此测量利用了以下事实：当照射光束的能量超出元素的特征吸收限时，所述元素的吸收值显著上升。因此，根据本发明，在一个高于所述吸收限的能量区间中和在一个低于所述吸收限的能量区间中的透射的X射线束的强度之间的差值被确定。

公开(公告)号：CN106687042A

公开(公告)日：2017-05-17

申请号：CN201580048218.7

申请日：2015-09-01

Applicant: 皇家飞利浦有限公司

Inventor： K·J·恩格尔

IPC: A61B6/00 ,  A61B6/03 ,  A61B6/06

CPC classification number: A61B6/032 ,  A61B6/4007 ,  A61B6/4021 ,  A61B6/4035 ,  A61B6/482 ,  G01N23/087 ,  G01N2223/419 ,  G21K1/10

Abstract: 一种用于生成对象的X射线投影的X射线成像系统，所述X射线成像系统包括：X射线设备，其具有用于形成多个X射线射束(104)的单个X射线源(110)；滤波器(120)，其被定位于所述多个X射线射束内；对象空间，要被成像的所述对象要被容纳在所述对象空间中；以及X射线探测器(150)，其包括多个像素(151…155)的阵列。所述X射线设备、所述滤波器和所述多个像素被配置使得至少一个像素被曝光于所述多个X射线射束。由特定像素接收的X射线辐射经历通过所述滤波器的相同的光谱滤波。接收经历所述相同的光谱滤波的所述X射线辐射的像素被总结为像素子集。

公开(公告)号：CN106483154A

公开(公告)日：2017-03-08

申请号：CN201610756386.8

申请日：2016-08-29

Applicant: 特罗斯特两合公司

Inventor： K.朔普曼 ,  B.皮尔斯蒂克

IPC: G01N23/18 ,  G01B15/02

CPC classification number: G01N23/185 ,  G01N23/087 ,  G01N23/18 ,  G01N33/445 ,  G01N2223/627 ,  G01N2223/642 ,  G01N2223/643 ,  G01N2223/646 ,  G01N2223/652 ,  G01B15/02

Abstract: 本发明涉及一种用于放射性地检测由橡胶制成的、尤其持续运行的、连续条状材料(3)的设备(1)和方法。在运动过程中，条状材料(3)被放射性的测量装置(2)透射并且在此检测整个横截面，从而根据异物或缺陷处的位置和定向检测出在材料(3)中存在的异物或缺陷处。通过剔除装置(8)在材料(3)进给运动过程中去除之前识别到的异物，方法是，剔除装置(8)的设计为冲压工具的工具(10)与材料(3)同步地运动。