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公开(公告)号：CN103712999A
公开(公告)日：2014-04-09
申请号：CN201310429775.6
申请日：2013-09-18
申请人： 住友橡胶工业株式会社
IPC分类号： G01N23/06
CPC分类号： G01N33/445 , G01N23/085 , G01N23/087 , G01N23/2273 , Y10T436/255
摘要： 本发明提供能够详细分析聚合物材料的劣化、特别是具有低导电率的聚合物材料的表面状态的劣化的劣化分析法。本发明涉及劣化分析法，其包括：用高强度X射线辐照其上形成有厚度为以下金属涂层的聚合物材料，并在改变X-射线能量的同时测定X-射线吸收，从而分析聚合物的劣化。
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公开(公告)号：CN105424735A
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201510500386.7
申请日：2015-08-14
申请人： 住友橡胶工业株式会社
IPC分类号： G01N23/06
摘要： 本发明提供一种可以给出含硫高分子复合材料中交联密度的详细信息的评价方法。本发明涉及一种测定含硫高分子复合材料中交联密度的方法，该方法包括：使用高强度X射线照射含硫高分子复合材料，并在改变X射线的能量的同时测定该复合材料的X射线吸收谱的测定步骤；通过反向蒙特卡罗方法，基于X射线吸收谱来确定含硫高分子复合材料中硫原子的三维结构的可视化步骤；基于硫原子的三维结构计算硫原子的每种键合数的交联密度的计算步骤。
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公开(公告)号：CN105806863A
公开(公告)日：2016-07-27
申请号：CN201610135682.6
申请日：2012-11-02
申请人： 住友橡胶工业株式会社
IPC分类号： G01N23/06 , G01N23/22 , G01N23/227 , G01N33/44
CPC分类号： G01N33/445 , G01N23/085 , G01N23/185 , G01N23/2206 , G01N23/2273 , G01N2223/041 , G01N2223/071 , G01N2223/085 , G01N2223/203 , G01N2223/623 , G01N2223/627 , G01N2223/632 , G06F19/70
摘要： 本发明提供一种能对含有两种以上二烯系聚合物的高分子材料的劣化状态，特别是表面状态的劣化状态进行详细分析的劣化分析方法。本发明涉及一种劣化分析方法，该方法通过对含有两种以上二烯系聚合物的高分子材料照射高亮度X射线，在改变X射线能量的同时测定X射线吸收量，来分析各二烯系聚合物的劣化状态。
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公开(公告)号：CN103907015A
公开(公告)日：2014-07-02
申请号：CN201280053328.9
申请日：2012-11-02
申请人： 住友橡胶工业株式会社
IPC分类号： G01N23/06 , G01N23/227
CPC分类号： G01N33/445 , G01N23/085 , G01N23/185 , G01N23/2206 , G01N23/2273 , G01N2223/041 , G01N2223/071 , G01N2223/085 , G01N2223/203 , G01N2223/623 , G01N2223/627 , G01N2223/632 , G06F19/70
摘要： 本发明提供一种能对含有两种以上二烯系聚合物的高分子材料的劣化状态，特别是表面状态的劣化状态进行详细分析的劣化分析方法。本发明涉及一种劣化分析方法，该方法通过对含有两种以上二烯系聚合物的高分子材料照射高亮度X射线，在改变X射线能量的同时测定X射线吸收量，来分析各二烯系聚合物的劣化状态。
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公开(公告)号：CN105424735B
公开(公告)日：2019-11-08
申请号：CN201510500386.7
申请日：2015-08-14
申请人： 住友橡胶工业株式会社
IPC分类号： G01N23/085
摘要： 本发明提供一种可以给出含硫高分子复合材料中交联密度的详细信息的评价方法。本发明涉及一种测定含硫高分子复合材料中交联密度的方法，该方法包括：使用高强度X射线照射含硫高分子复合材料，并在改变X射线的能量的同时测定该复合材料的X射线吸收谱的测定步骤；通过反向蒙特卡罗方法，基于X射线吸收谱来确定含硫高分子复合材料中硫原子的三维结构的可视化步骤；基于硫原子的三维结构计算硫原子的每种键合数的交联密度的计算步骤。
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公开(公告)号：CN103250048B
公开(公告)日：2016-02-17
申请号：CN201180058585.7
申请日：2011-08-09
申请人： 住友橡胶工业株式会社
IPC分类号： G01N23/06
CPC分类号： G01N23/085 , G01N23/00 , G01N23/083 , G01N33/445 , G01N2223/60 , G01N2223/627
摘要： 提供一种劣化剖析方法，该方法可对高分子材料的劣化状态特别是表面状态的劣化状态进行详细剖析。涉及一种劣化剖析方法，该方法向高分子材料照射高亮度X射线，在改变X射线能量的同时测定X射线吸收量，由此剖析高分子的劣化状态。
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公开(公告)号：CN103250048A
公开(公告)日：2013-08-14
申请号：CN201180058585.7
申请日：2011-08-09
申请人： 住友橡胶工业株式会社
IPC分类号： G01N23/06
CPC分类号： G01N23/085 , G01N23/00 , G01N23/083 , G01N33/445 , G01N2223/60 , G01N2223/627
摘要： 提供一种劣化剖析方法，该方法可对高分子材料的劣化状态特别是表面状态的劣化状态进行详细剖析。涉及一种劣化剖析方法，该方法向高分子材料照射高亮度X射线，在改变X射线能量的同时测定X射线吸收量，由此剖析高分子的劣化状态。
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公开(公告)号：CN105806863B
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201610135682.6
申请日：2012-11-02
申请人： 住友橡胶工业株式会社
IPC分类号： G01N23/085 , G01N23/22 , G01N23/2273 , G01N33/44
摘要： 本发明提供一种能对含有两种以上二烯系聚合物的高分子材料的劣化状态，特别是表面状态的劣化状态进行详细分析的劣化分析方法。本发明涉及一种劣化分析方法，该方法通过对含有两种以上二烯系聚合物的高分子材料照射高亮度X射线，在改变X射线能量的同时测定X射线吸收量，来分析各二烯系聚合物的劣化状态。
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公开(公告)号：CN103712999B
公开(公告)日：2018-08-17
申请号：CN201310429775.6
申请日：2013-09-18
申请人： 住友橡胶工业株式会社
IPC分类号： G01N23/06
CPC分类号： G01N33/445 , G01N23/085 , G01N23/087 , G01N23/2273 , Y10T436/255
摘要： 本发明提供能够详细分析聚合物材料的劣化、特别是具有低导电率的聚合物材料的表面状态的劣化的劣化分析法。本发明涉及劣化分析法，其包括：用高强度X射线辐照其上形成有厚度为以下金属涂层的聚合物材料，并在改变X‑射线能量的同时测定X‑射线吸收，从而分析聚合物的劣化。
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公开(公告)号：CN103907015B
公开(公告)日：2018-01-30
申请号：CN201280053328.9
申请日：2012-11-02
申请人： 住友橡胶工业株式会社
IPC分类号： G01N23/06 , G01N23/227
CPC分类号： G01N33/445 , G01N23/085 , G01N23/185 , G01N23/2206 , G01N23/2273 , G01N2223/041 , G01N2223/071 , G01N2223/085 , G01N2223/203 , G01N2223/623 , G01N2223/627 , G01N2223/632 , G06F19/70
摘要： 本发明提供一种能对含有两种以上二烯系聚合物的高分子材料的劣化状态，特别是表面状态的劣化状态进行详细分析的劣化分析方法。本发明涉及一种劣化分析方法，该方法通过对含有两种以上二烯系聚合物的高分子材料照射高亮度X射线，在改变X射线能量的同时测定X射线吸收量，来分析各二烯系聚合物的劣化状态。
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