辐射检测系统和方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116917773A

    公开(公告)日:2023-10-20

    申请号:CN202180087255.4

    申请日:2021-10-29

    Abstract: 描述了一种处理来自一源的辐射的方法,包括:定位检测器以接收来自源的辐射;将准直器定位在所述源和所述检测器之间,其中所述准直器具有多个孔;允许来自所述源的辐射穿过所述准直器并入射到所述检测器上;接收多个响应,每个响应是针对与所述检测器内发生的入射辐射的交互做出的响应;针对所述多个响应中的每一个,确定所述交互的特性,其中所述特性至少包括所述交互在所述检测器内的位置和深度;通过同时处理交互数据的位置和深度来处理所述多个响应,其方式是适应由于投射辐射路径在检测器上的检测位置上的重叠而引起的复用效应,所述投射辐射路径来自检测器处的准直器中的多个孔。还描述了一种用于检测来自源的辐射的辐射检测系统,特别是用于执行该方法。

    输送机系统
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111954624A

    公开(公告)日:2020-11-17

    申请号:CN201980024735.9

    申请日:2019-04-04

    Abstract: 描述了一种与用于扫描物体(43)(例如瓶子)的扫描装置(49)一起使用的输送机系统。该系统包括:具有输送机表面(45)的横向输送机;多个物体支撑模块(41),每个物体支撑模块(41)包括下表面和上部部分,下表面位于输送机的输送机表面(45)上,接纳物体的凹陷部分被限定于该上部部分,其中接纳物体的凹陷部分限定具有恒定横剖面的细长凹部。还描述了一种包括与物体扫描仪相结合的输送机系统的扫描系统和体现这种扫描仪的原理的扫描方法。

    射线照片数据的解译
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102224413B

    公开(公告)日:2013-08-28

    申请号:CN200980147122.0

    申请日:2009-09-16

    CPC classification number: G01N23/04

    Abstract: 描述了用于收集和解译来自通过适当辐射源所扫描的对象的射线照片数据的方法和装置。提供了辐射检测系统,该辐射检测系统检测和收集光谱已分解的信息。从多个视角扫描对象,并且将来自每个视角的所生成的数据分解为至少3个光谱能带。对于每个这种已分解的光谱能带,进行图像分析以提取深度切片,以生成均包括分解为单个能带和深度切片的强度信息的2-D数据集的一系列输出数据集。

    材料的成像
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101641614B

    公开(公告)日:2012-07-04

    申请号:CN200880009831.8

    申请日:2008-03-28

    CPC classification number: G01V5/0058

    Abstract: 一种用于产生和显示物体的图像的仪器,其包括:辐射源和至少两个线性(3a、3b、3c)探测器的系列,其能够利用光谱方法解析入射的源辐射(1)并与辐射源间隔开以界定其间的扫描区;使物体相对于使用中的扫描区移动并移动通过该扫描区的装置(7);图像产生仪器,其至少产生来自第一线性探测器的输出的第一图像、来自第二线性探测器的输出的第二图像、以及第三图像,使得每个这种图像包括利用光谱方法解析的入射的辐射的表示;图像显示器,其适合于连续显示至少这种第一图像、第二图像和第三图像,并因此显示图像之间的单眼运动视差。

    射线照片数据的解译
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102224413A

    公开(公告)日:2011-10-19

    申请号:CN200980147122.0

    申请日:2009-09-16

    CPC classification number: G01N23/04

    Abstract: 描述了用于收集和解译来自通过适当辐射源所扫描的对象的射线照片数据的方法和装置。提供了辐射检测系统,该辐射检测系统检测和收集光谱已分解的信息。从多个视角扫描对象,并且将来自每个视角的所生成的数据分解为至少3个光谱能带。对于每个这种已分解的光谱能带,进行图像分析以提取深度切片,以生成均包括分解为单个能带和深度切片的强度信息的2-D数据集的一系列输出数据集。

    输送机系统
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111954624B

    公开(公告)日:2023-10-31

    申请号:CN201980024735.9

    申请日:2019-04-04

    Abstract: 描述了一种与用于扫描物体(43)(例如瓶子)的扫描装置(49)一起使用的输送机系统。该系统包括:具有输送机表面(45)的横向输送机;多个物体支撑模块(41),每个物体支撑模块(41)包括下表面和上部部分,下表面位于输送机的输送机表面(45)上,接纳物体的凹陷部分被限定于该上部部分,其中接纳物体的凹陷部分限定具有恒定横向剖面的细长凹部。还描述了一种包括与物体扫描仪相结合的输送机系统的扫描系统和体现这种扫描仪的原理的扫描方法。

    半导体探测器几何结构
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110914717A

    公开(公告)日:2020-03-24

    申请号:CN201880046976.9

    申请日:2018-07-02

    Abstract: 描述了一种制造半导体探测器设备的方法,该半导体探测器设备对预定能量范围内的入射辐射表现出目标灵敏度,该方法包括:提供半导体探测器;在半导体探测器的探测器表面上定义大量像素;其中探测器的几何结构是参照所述像素的尺寸来控制的,使得预定能量范围内的单个相互作用事件将在构成至少三个像素的集群的多个相邻像素的每一个中产生可探测信号。还描述了通过这种方法制造的探测器和使用这种探测器获得关于入射辐射的光谱信息的方法。

    半导体探测器几何结构
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110914717B

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN201880046976.9

    申请日:2018-07-02

    Abstract: 描述了一种制造半导体探测器设备的方法,该半导体探测器设备对预定能量范围内的入射辐射表现出目标灵敏度,该方法包括:提供半导体探测器;在半导体探测器的探测器表面上定义大量像素;其中探测器的几何结构是参照所述像素的尺寸来控制的,使得预定能量范围内的单个相互作用事件将在构成至少三个像素的集群的多个相邻像素的每一个中产生可探测信号。还描述了通过这种方法制造的探测器和使用这种探测器获得关于入射辐射的光谱信息的方法。

    微流体系统和方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117412807A

    公开(公告)日:2024-01-16

    申请号:CN202280036941.3

    申请日:2022-04-08

    Abstract: 描述了一种微流体系统,其包括多个流体连接的微流体腔室,每个微流体腔室包括:流体样品入口;流体样品出口;可选择性关闭的阀,所述阀可操作以使得气体能够从所述腔室排出;加压系统,其可操作以向流体最上游的一个或多个第一微流体腔室施加过压。还描述了一种方法,其包括经由流体最上游的一个或多个第一微流体腔室将流体样品供给到系统;操作所述加压系统以向所述一个或多个第一微流体腔室施加过压;选择性地操作流体连接的微流体腔室的阀,以使流体样品在微流体腔室之间连续移动。

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