转移叠层的方法以及制造半导体器件的方法

    公开(公告)号:CN102867736B

    公开(公告)日:2016-05-11

    申请号:CN201210352567.6

    申请日:2003-05-16

    Abstract: 本发明的名称为转移叠层的方法以及制造半导体器件的方法,其目的是提供一种在短时间内将待要剥离的物体转移到转移部件上而不对叠层中待要剥离的物体造成损伤的方法。而且,本发明的另一目的是提供一种制造半导体器件的方法,其中,制造在衬底上的半导体元件被转移到转移部件,典型地说是塑料衬底上。此方法的特征在于包括:在衬底上形成剥离层和待要剥离的物体;通过双面胶带键合待要剥离的物体和支座;用物理方法从剥离层剥离待要剥离的物体,然后将待要剥离的物体键合到转移部件上;以及从待要剥离的物体剥离支座和双面胶带。

    半导体装置
    56.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101452962A

    公开(公告)日:2009-06-10

    申请号:CN200810183805.9

    申请日:2008-12-02

    CPC classification number: H01L27/1218

    Abstract: 本发明的目的在于提供在施加诸如弯曲等的外力而产生应力的情况下也降低晶体管等的损伤的半导体装置。本发明的半导体装置包括:设置在具有挠性的衬底上的第一岛状加强膜;在第一岛状加强膜上具有沟道形成区域和杂质区域的半导体膜;在沟道形成区域的上方隔着栅极绝缘膜而设置的第一导电膜;以覆盖第一导电膜及栅极绝缘膜的方式设置的第二岛状加强膜。

    剥离方法
    58.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100392797C

    公开(公告)日:2008-06-04

    申请号:CN03147669.4

    申请日:2003-07-16

    CPC classification number: H01L27/1266 H01L21/76251 H01L27/1214

    Abstract: 提供了一种不损伤待要剥离的层的剥离方法,且此方法不仅能够剥离面积小的待要剥离的层,而且能够以高的成品率剥离面积大的整个待要剥离的层。而且,提供了一种通过将待要剥离的层粘合到各种基底材料而降低了重量的半导体器件及其制造方法。确切地说,提供了一种通过将典型为TFT的各种元件粘合到柔性膜而降低了重量的半导体器件及其制造方法。金属层或氮化物层被提供在衬底上;氧化物层被提供成与金属层或氮化物层相接触;然后形成基底绝缘膜和含有氢的待要剥离的层;并在410℃或更高的温度下执行热处理,以便扩散氢。结果,能够用物理方法在氧化物层中或在其界面处获得完全的剥离。

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