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公开(公告)号:CN109884562B
公开(公告)日:2021-04-16
申请号:CN201910251451.5
申请日:2019-03-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种差分磁场检测模块,包括依次堆叠设有多个布线层的PCB板。第一接地层和第二接地层均设有探测孔缝;第一接地层还设有第一共面波导传输线和第二共面波导传输线;第一共面波导传输线的中心导带的第一端用于连接外部信号分析设备;第二共面波导传输线的中心导带的第一端用于连接外部信号分析设备。第一信号层设有第一探测线,第一探测线的第一端连接第一接地层,第一探测线的第二端连接第一共面波导传输线中心导带的第二端。第二信号层设有第二探测线,第二探测线的第一端连接第二接地层,第二探测线的第二端连接第二共面波导传输线中心导带的第二端。PCB板靠近探测孔缝的端面上还设有浮地金属部,浮地金属部用于抑制电场干扰。
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公开(公告)号:CN112255474A
公开(公告)日:2021-01-22
申请号:CN202010945242.3
申请日:2020-09-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请提供一种芯片近场扫描系统和方法。该芯片近场扫描系统用于获取大功耗芯片表面的电磁场近场信息,包括油槽,油槽内通入有流动的绝缘油;样品台,设置在油槽内,用于放置芯片,芯片浸没在所述绝缘油中;探头,与芯片对应设置,探头用于在外部驱动源驱动下伸入绝缘油中并沿预设路径扫描以获取芯片表面的电磁信号数据;以及处理系统,与探头连接,用于根据电磁信号数据得到芯片表面的电磁场近场信息。上述芯片近场扫描系统替换了原来的散热器散热方式,用以扫描得到芯片表面的电磁场近场信息。
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公开(公告)号:CN112164982A
公开(公告)日:2021-01-01
申请号:CN202010928242.2
申请日:2020-09-07
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请提供一种电磁脉冲气体开关及电压脉冲源采集装置。该电磁脉冲气体开关包括:瓶体,具有第一端和第二端,及沿瓶体的轴线贯通第一端和第二端的通孔,通孔中充入有压强可变的工作气体;第一端处和第二端处分别设置有用于密封瓶体的瓶盖,以及与瓶盖和瓶体连接的密封补偿件,密封补偿件用于锁紧瓶盖;还包括第一电极,设于通孔中,第一电极通过第一连接杆与第一端处的瓶盖连接;以及第二电极,设于通孔中且与第一电极同轴设置,第二电极通过第二连接杆与第二端处的瓶盖连接,第一电极和第二电极之间具有放电间隙。上述电磁脉冲气体开关能够稳定输出不同幅值的电压脉冲源,且结构简单,制备成本低。
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公开(公告)号:CN109061320B
公开(公告)日:2020-12-08
申请号:CN201810844853.1
申请日:2018-07-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所(工业和信息化部电子第五研究所、中国赛宝实验室)
IPC: G01R29/08
Abstract: 本申请涉及一种电磁场复合探头和探测系统。电磁场复合探头包括第一SMA接头、第二SMA接头和PCB板,PCB板包括信号传输部和电磁场探针;电磁场探针通过信号传输部电连接第一SMA接头一端和第二SMA接头一端,第一SMA接头另一端和第二SMA接头另一端用于连接分析设备;电磁场探针探测待测电路板的电磁场得到射频信号,并分别依次通过信号传输部和第一SMA接头、以及依次通过信号传输部和第二SMA接头,将射频信号传输至分析设备进行分析得到电场参数和磁场参数。采用本申请,可以实现同点的电场和磁场的测量,探测效率高,且可避免因采用不同探测结构而出现的双物理量探测互扰问题,准确性高。
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公开(公告)号:CN110045171A
公开(公告)日:2019-07-23
申请号:CN201910259373.3
申请日:2019-04-02
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种射频电压电流复合探头,包括:PCB板,PCB板包括信号探测部和信号传输部;信号探测部包括在相应布线层布线的电流线圈和电压探针,电流线圈形成电磁感应区域和用于容纳电压探针的电场感应区域,电磁感应区域的大小根据预设电流灵敏度确定,电压探针的探测面积根据预设电压灵敏度确定;信号传输部包括在相应布线层布线的电流传输线和电压传输线,电流传输线的第一端连接电流线圈,第二端连接电流信号输出接口,电压传输线的第一端连接电压探针,第二端连接电压信号输出接口。该探头不仅能够通过一个探头实现对电流电压的同时测量,而且可实现不同探测灵敏度,有效解决了电压电流非接触式探测过程中灵敏度无法设计的问题。
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公开(公告)号:CN109884561A
公开(公告)日:2019-06-14
申请号:CN201910250531.9
申请日:2019-03-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种磁场检测模块及磁场探头,磁场检测模块包括设有带状线、第一共面波导传输线、第二共面波导传输线以及探测孔缝的PCB板。带状线的导体带包括感应部、第一连接部和第二连接部。第一共面波导传输线包括第一中心导带和第一接地导带;第二共面波导传输线包括第二中心导带和第二接地导带。感应部在PCB板上的正投影半包围探测孔缝在PCB板上的正投影;感应部的第一端连接第一连接部的第一端,感应部的第二端连接第二连接部的第一端。第一中心导带的第一端连接第一连接部的第二端,第一中心导带的第二端用于连接外部信号分析设备。第二中心导带的第一端连接第二连接部的第二端,第二中心导带的第二端用于连接外部信号分析设备。
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公开(公告)号:CN109884406A
公开(公告)日:2019-06-14
申请号:CN201910242921.1
申请日:2019-03-28
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种高频电磁屏蔽效能测量系统、测量方法及装置,测量系统包括电磁波分析设备、微带线以及千兆赫兹横电磁波小室。千兆赫兹横电磁波小室的输入端连接电磁波分析设备的信号输出端。微带线设置在千兆赫兹横电磁波小室的输出窗内接收横电磁波。电磁波分析设备的第一输入端连接微带线的第一端,第二输入端连接微带线的第二端。电磁波分析设备用于在设置待测屏蔽材料前,根据微带线的第一端的输出信号确定千兆赫兹横电磁波小室与微带线之间的第一耦合传输系数,根据微带线的第二端的输出信号确定第二耦合传输系数;在设置待测屏蔽材料后,确定千兆赫兹横电磁波小室与微带线之间的第三耦合传输系数以及第四耦合传输系数。
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公开(公告)号:CN115754424B
公开(公告)日:2025-05-06
申请号:CN202211303345.5
申请日:2022-10-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种远场电压的确定方法、装置、设备、介质和程序产品。所述方法包括:对待扫描对象进行近场扫描,获取近场电磁场数据,进一步根据近场电磁场数据,获取目标近场电压,根据目标近场电压、近场电压和远场电压之间的映射关系,确定目标远场电压。采用本方法能够提高远场电压确定的准确性,进而提高远场电磁场对器件的耦合作用的准确性。
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公开(公告)号:CN113900008B
公开(公告)日:2025-03-07
申请号:CN202111079609.9
申请日:2021-09-15
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明提供一种测试结构及测试方法,测试结构包括:多条射频链路,各所述射频链路均包括多个焊点以及位于相邻焊点之间与焊点相连接的传输线;不同所述射频链路中至少一处对应的所述传输线的长度不同。对测试结构中的各射频链路进行阻抗测试,以得到各射频链路的阻抗‑时间曲线,根据阻抗‑时间曲线和各射频链路的结构可以识别出长度不同的传输线,从而识别出各射频链路中的焊点和传输线,如果此时有射频链路中存在失效点,由于焊点和传输线已经识别出来,就可以实现对失效点的精确定位,准确分析器件失效位置,满足新型射频器件研制以及应用可靠性研究需求。
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公开(公告)号:CN112561821B
公开(公告)日:2024-05-17
申请号:CN202011499241.7
申请日:2020-12-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种基于近场扫描的芯片表面电磁数据降噪方法,包括以下步骤:通过对芯片表面进行近场扫描得到电磁数据;对得到的电磁数据进行信号提取,得到电磁图像;对电磁图像进行局部均值估计和局部噪声方差估计;对电磁图像中的所有相似块的每个像素进行加权平均处理,得到真实图像的基础估计;使用基础估计对电磁图像进行维纳降噪,得到局部估计;使用加权平均对所有得到的局部估计进行聚合,计算出真实图像的最终估计,从而得到最终的降噪图像。本发明的方法能够针对近场扫描的复杂噪声进行有效地降噪。
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