半导体器件的制作方法
    31.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1909188B

    公开(公告)日:2011-03-09

    申请号:CN200510091142.4

    申请日:2005-08-04

    CPC classification number: H01L27/1285 H01L27/1292

    Abstract: 本发明的目的是提供一种可以简单的步骤制造具有绝缘膜、半导体膜、导电膜等的膜图案的衬底的方法,以及以低成本、高产量、高成品率来制造半导体器件的方法。本发明的半导体器件的制造方法包括以下步骤:在衬底上形成第一膜;在所述第一膜上排放含有掩模材料的溶液以在所述第一膜上形成掩模;使用所述掩模对所述第一膜进行图案化以在所述衬底上形成低润湿性区域和高润湿性区域;去除所述掩模;以及,向夹在所述低润湿性区域之间的高润湿性区域中排放含有绝缘膜、半导体膜或导电膜材料的溶液,以形成绝缘膜、半导体膜或导电膜的图案。

    制造半导体器件的方法
    33.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100492594C

    公开(公告)日:2009-05-27

    申请号:CN200510129041.1

    申请日:2005-11-30

    Abstract: 本发明的一个目的是提供一种制造半导体器件的方法,其中可以有利地填充具有高宽高比开口的接触孔,而不采用传统的CMP工艺。本发明的另一个目的是提供一种采用比传统方法更少的步骤形成引线的方法,并且提供一种在高成品率下制造高度集成的半导体器件的方法。根据本发明,在具有多个空气孔的绝缘膜的表面上形成具有斥水性表面的膜,通过采用光照射具有斥水性表面的膜的一部分而形成具有亲水性表面的区域,以及通过在所述具有亲水性表面的区域上释放并且烘焙具有导电颗粒的液体材料而形成导电膜。

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