半导体装置的生产方法
    40.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101006588B

    公开(公告)日:2010-07-28

    申请号:CN200580028621.X

    申请日:2005-08-25

    Inventor: 前川慎志

    Abstract: 考虑到有机TFT的有机半导体层有可能由于水、光、氧气等而受到破坏的问题,本发明的一个目的是简化生产步骤并且提供用来高可靠性地生产具有有机TFT的半导体装置。根据本发明,含有有机材料的半导体层是通过使用掩模形成图案而形成的,因此有机TFT是在掩模没有被除去而是保留在半导体层上的状态下完成的。另外,通过使用保留的掩模可以保护半导体层免受水、光、氧气等的破坏。

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