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公开(公告)号:CN103518263A
公开(公告)日:2014-01-15
申请号:CN201280022557.4
申请日:2012-05-01
Applicant: 出光兴产株式会社
IPC: H01L29/786 , C04B35/00 , C23C14/34 , H01L21/336 , H01L21/363
CPC classification number: H01L29/786 , C04B35/01 , C04B35/453 , C04B35/62675 , C04B35/6455 , C04B2235/3284 , C04B2235/3286 , C04B2235/40 , C04B2235/5409 , C04B2235/6562 , C04B2235/6565 , C04B2235/6567 , C04B2235/6585 , C04B2235/664 , C04B2235/77 , C04B2235/80 , C04B2235/963 , C23C14/086 , C23C14/3414 , H01L21/02554 , H01L21/02565 , H01L21/02631 , H01L29/26 , H01L29/7869
Abstract: 一种薄膜晶体管,其以在下述区域1、2或3的原子比的范围内含有元素In、Ga和Zn的氧化物为活性层,并且场效应迁移率为25cm2/Vs以上。区域1:0.58≤In/(In+Ga+Zn)≤0.68、0.15<Ga/(In+Ga+Zn)≤0.29;区域2:0.45≤In/(In+Ga+Zn)<0.58、0.09≤Ga/(In+Ga+Zn)<0.20;区域3:0.45≤In/(In+Ga+Zn)<0.58、0.20≤Ga/(In+Ga+Zn)≤0.27。
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公开(公告)号:CN103233204A
公开(公告)日:2013-08-07
申请号:CN201310165982.5
申请日:2009-06-05
Applicant: 出光兴产株式会社
IPC: C23C14/34 , C04B35/01 , H01L21/363
CPC classification number: H01L21/02565 , C04B35/01 , C04B35/453 , C04B35/6262 , C04B35/62655 , C04B35/62695 , C04B37/026 , C04B2235/3229 , C04B2235/3232 , C04B2235/3244 , C04B2235/3251 , C04B2235/3256 , C04B2235/3258 , C04B2235/3284 , C04B2235/3286 , C04B2235/3287 , C04B2235/3293 , C04B2235/40 , C04B2235/5409 , C04B2235/5436 , C04B2235/6027 , C04B2235/652 , C04B2235/656 , C04B2235/6562 , C04B2235/6565 , C04B2235/6567 , C04B2235/6581 , C04B2235/6586 , C04B2235/661 , C04B2235/76 , C04B2235/761 , C04B2235/77 , C04B2235/786 , C04B2235/80 , C04B2235/96 , C04B2235/963 , C04B2235/9661 , C04B2237/12 , C04B2237/34 , C04B2237/407 , C23C14/086 , C23C14/3414 , H01L21/02554 , H01L21/02631 , H01L29/7869 , Y10T428/31507
Abstract: 本发明提供一种氧化物烧结体,其特征在于,除氧之外的全部原子的原子数为100原子%时,含有In(铟)24~49原子%,且具有稀土氧化物C型的结晶结构。此外,本发明还涉及溅射靶、氧化物烧结体的制造方法、氧化物薄膜、形成非晶质氧化物薄膜的方法、薄膜晶体管的制造方法以及半导体装置。
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公开(公告)号:CN103204674A
公开(公告)日:2013-07-17
申请号:CN201310114366.7
申请日:2009-06-01
Applicant: 出光兴产株式会社
CPC classification number: C04B35/01 , C04B2235/3217 , C04B2235/3224 , C04B2235/3229 , C04B2235/3286 , C04B2235/3293 , C04B2235/5409 , C04B2235/656 , C04B2235/6567 , C04B2235/6585 , C04B2235/76 , C04B2235/761 , C04B2235/77 , C04B2235/786 , C23C14/08 , C23C14/081 , C23C14/3414 , H01L29/7869
Abstract: 一种烧结体,仅含有氧化铟和氧化铝,在氧化铟结晶中固溶有氧化铝,铟与铝的原子比,即(Al/(Al和In的合计)×100)为0.001%以上且不足45%。
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公开(公告)号:CN102132414B
公开(公告)日:2013-05-22
申请号:CN200980132615.7
申请日:2009-08-26
Applicant: 出光兴产株式会社
IPC: H01L29/786 , H01L21/336
CPC classification number: C23C14/3407 , C22C30/04 , C22C30/06 , C23C14/165 , C23F1/20 , H01L29/66969 , H01L29/78606 , H01L29/78609 , H01L29/78633 , H01L29/7869
Abstract: 场效应型晶体管,其特征在于,在基板上至少具有栅电极、栅极绝缘膜、半导体层、半导体层的保护层、源电极和漏电极,源电极和漏电极借助半导体层连接,栅电极和半导体层之间有栅极绝缘膜,在半导体层的至少一面侧具有保护层,半导体层是含有In原子、Sn原子和Zn原子的氧化物,并且Zn/(In+Sn+Zn)所示的原子组成比率为25原子%以上75原子%以下,Sn/(In+Sn+Zn)所示的原子组成比率小于50原子%。
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公开(公告)号:CN101897031B
公开(公告)日:2013-04-17
申请号:CN200880120246.5
申请日:2008-12-10
Applicant: 出光兴产株式会社
IPC: H01L29/786
CPC classification number: H01L29/24 , H01L29/66969 , H01L29/78603 , H01L29/78606 , H01L29/78633 , H01L29/7869
Abstract: 本发明提供一种场效应晶体管,其在基板上至少具有半导体层、半导体层的保护层、源电极、漏电极、栅绝缘膜和栅电极,源电极和漏电极借助半导体层相连,在栅电极和半导体层之间具有栅绝缘膜,在半导体层的至少1面侧具有保护层,半导体层由以下述(1)~(3)的原子比含有In(铟)元素、Zn(锌)元素及Ga(镓)元素的复合氧化物构成,In/(In+Zn)=0.2~0.8(1);In/(In+Ga)=0.59~0.99(2);Zn/(Ga+Zn)=0.29~0.99(3)。
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公开(公告)号:CN102916052A
公开(公告)日:2013-02-06
申请号:CN201210417892.6
申请日:2009-09-15
Applicant: 出光兴产株式会社
IPC: H01L29/786 , H01L21/02
CPC classification number: H01L21/02565 , H01L21/02422 , H01L21/02631 , H01L29/7869
Abstract: 本发明涉及具有以氧化铟作为主成分、且含有正3价的金属氧化物的结晶质氧化铟半导体膜的薄膜晶体管。
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公开(公告)号:CN102245533A
公开(公告)日:2011-11-16
申请号:CN200980150518.0
申请日:2009-06-01
Applicant: 出光兴产株式会社
CPC classification number: C04B35/01 , C04B2235/3217 , C04B2235/3224 , C04B2235/3229 , C04B2235/3286 , C04B2235/3293 , C04B2235/5409 , C04B2235/656 , C04B2235/6567 , C04B2235/6585 , C04B2235/76 , C04B2235/761 , C04B2235/77 , C04B2235/786 , C23C14/08 , C23C14/081 , C23C14/3414 , H01L29/7869
Abstract: 一种氧化物烧结体,其在氧化铟结晶中固溶有选自铝及钪中的一种以上的金属的氧化物,且铟和选自铝及钪中的一种以上的金属的原子比((一种以上的金属的合计)/(一种以上的金属和In的合计)×100)为0.001%以上且不足45%。
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公开(公告)号:CN102245532A
公开(公告)日:2011-11-16
申请号:CN200980150517.6
申请日:2009-12-03
Applicant: 出光兴产株式会社
IPC: C04B35/00 , C23C14/34 , H01L21/336 , H01L29/786
CPC classification number: H01L29/7869 , C04B35/453 , C04B35/6261 , C04B35/62655 , C04B35/62695 , C04B2235/3229 , C04B2235/3244 , C04B2235/3251 , C04B2235/3256 , C04B2235/3258 , C04B2235/3284 , C04B2235/3286 , C04B2235/3287 , C04B2235/3293 , C04B2235/5409 , C04B2235/604 , C04B2235/656 , C04B2235/6562 , C04B2235/6567 , C04B2235/658 , C04B2235/6585 , C04B2235/661 , C04B2235/664 , C04B2235/721 , C04B2235/722 , C04B2235/763 , C04B2235/77 , C04B2235/775 , C04B2235/786 , C04B2235/80 , C04B2235/81 , C04B2235/9661 , C23C14/086 , C23C14/3414
Abstract: 本发明提供一种复合氧化物烧结体,其含有同系结晶构造的In2Ga2ZnO7,烧结体密度以相对密度计为90%以上,平均结晶粒径为10μm以下。
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公开(公告)号:CN102160182A
公开(公告)日:2011-08-17
申请号:CN200980136173.3
申请日:2009-09-15
Applicant: 出光兴产株式会社
IPC: H01L29/786 , H01L21/20 , H01L21/336
CPC classification number: H01L21/02565 , H01L21/02422 , H01L21/02631 , H01L29/7869
Abstract: 本发明涉及具有以氧化铟作为主成分、且含有正3价的金属氧化物的结晶质氧化铟半导体膜的薄膜晶体管。
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公开(公告)号:CN102159517A
公开(公告)日:2011-08-17
申请号:CN200980136121.6
申请日:2009-09-14
Applicant: 出光兴产株式会社
CPC classification number: H01L29/242 , C04B35/01 , C04B35/6261 , C04B35/645 , C04B2235/3217 , C04B2235/3224 , C04B2235/3225 , C04B2235/3286 , C04B2235/3409 , C04B2235/441 , C04B2235/443 , C04B2235/449 , C04B2235/5409 , C04B2235/5436 , C04B2235/5445 , C04B2235/604 , C04B2235/656 , C04B2235/6567 , C04B2235/6585 , C04B2235/72 , C04B2235/76 , C04B2235/761 , C04B2235/77 , C23C14/086 , C23C14/3414 , H01L21/02565 , H01L29/7869
Abstract: 本发明提供一种氧化物烧结体,其特征在于,镓固溶于氧化铟;原子比Ga/(Ga+In)为0.001~0.12;铟和镓相对于总金属原子的含有率为80原子%以上;具有In2O3的方铁锰矿结构。
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