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公开(公告)号：CN108287061A
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201810052262.0
申请日：2018-01-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 巴荣声 , 李杰 , 丁磊 , 周信达 , 郑垠波 , 徐宏磊 , 陈波 , 李文洪 , 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 张霖 , 杨一 , 郑芳兰 , 于德强 , 马可 , 石振东 , 马骅 , 任寰 , 张保汉 , 景峰
CPC classification number: G01M11/0207 , G01N17/004
Abstract: 本发明公开了一种激光光学元件寿命检测和寿命概率测试方法及系统，旨在解决现有技术中的大口径光学器件寿命测试由于套用现有寿命测试方法而引起的测试结果置信度低与适用性低的问题，解决传统大口径光学器件损伤特性评价参数无法直接应用于光学系统可靠性评价的问题；本发明使用激光连续辐照通大口径光学器件，直至光学器件发生不可逆损伤，记录累计发次或累计时间；统计不同发次或时间对应的寿命概率；以发次或时间为自变量，对应的寿命概率为因变量，使用威布尔分布对函数进行数据拟合，获得大口径光学器件在特定激光参数作用下的寿命概率函数；获得更可靠的大口径光学器件的使用寿命；本发明适用于测试大口径光学元件的寿命。
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公开(公告)号：CN105700321B
公开(公告)日：2018-02-16
申请号：CN201610242313.7
申请日：2016-04-18
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 郑芳兰 , 周信达 , 杨一 , 陈竹 , 张霖 , 石振东 , 原泉 , 马骅 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 马可 , 任寰 , 李文洪 , 于德强 , 巴荣声 , 郑垠波 , 袁静 , 丁磊 , 陈波 , 杨晓瑜
Abstract: 本发明公开了一种基于重建像强度方差的数字全息图在焦重建距离判断方法，属于光学精密测量技术领域中的数字全息图重建距离的自动化数值判断方法，其目的在于提供一种基于重建像强度方差的数字全息图在焦重建距离判断方法。本发明利用重建像强度的方差与重建像强度的平均值的比值对重建像的清晰程度进行判断、分析，并找到清晰的重建强度像及其所对应的数字全息图准确重建距离，该方法可实现对于数字全息图重建距离的自动化数值判断，提高对重建距离的测量精度及测量效率。
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公开(公告)号：CN105973897A
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201610414569.1
申请日：2016-06-14
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种纳秒激光脉冲作用KDP晶体后在其体内形成的针状损伤点几何尺寸分布的测量装置及测量方法，属于KDP晶体技术领域中的KDP晶体体损伤的测量装置及测量方法。通常使用损伤阈值评价包含晶体在内的光学元件的抗损伤性能，但是损伤阈值自身具有概率性且容易受测试条件、测试方法、测试参数和数据处理的影响。本发明使用晶体体内针状损伤点几何尺寸分布作为评价晶体抗损伤性能的评价标准，并提出相应的测试方法和测试装置。这种评价标准及其测试方法可以避免损伤阈值及其测试方法的缺陷。
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公开(公告)号：CN105717774A
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201610244237.3
申请日：2016-04-18
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 郑芳兰 , 郑垠波 , 杨一 , 陈竹 , 张霖 , 石振东 , 原泉 , 马骅 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 马可 , 任寰 , 李文洪 , 于德强 , 巴荣声 , 周信达 , 袁静 , 丁磊 , 陈波 , 杨晓瑜
CPC classification number: G03H1/0005 , G03H1/0443 , G03H2001/0038
Abstract: 本发明公开了一种彩色数字全息像的实时记录装置及方法，属于彩色数字全息像技术领域，解决现有技术中所使用的光路系统无法同时完成红光、绿光及蓝光数字全息图的记录；现有技术中彩色数字全息像的数值重建算法较为繁琐复杂，不利于彩色数字全息像的高效快速数值重建，不能满足对于动态彩色物体的实时全息记录与再现问题。本发明包括按光路依次放置的红、绿、蓝三色激光器Laser1～Laser3，分光棱镜BS1～BS8，反射镜M1～M8，可调衰减器Filter1～Filter6，直角三棱镜Prism1～Prism4，消色差显微物镜MO1～MO4，针孔PH1～PH4，消色差透镜L1～L4，计算机Computer，CCD相机和待测物体Object。本发明用于得到彩色数字全息像。
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公开(公告)号：CN108802056B
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN201810964806.0
申请日：2018-08-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 一种光学元件位相型缺陷测量装置及检测方法。该装置包括：光源，沿光源的光束传播方向依次放置样品台、显微放大系统、分光系统和探测系统。本发明具有装置简单、成本低、操作方便等优点，可测量光学元件位相型缺陷。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116256367A
公开(公告)日：2023-06-13
申请号：CN202310161735.1
申请日：2023-02-24
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种光学元件表面损伤密度高精度局域映射测量系统及方法，涉及光学元件的表面损伤密度高精度测量，其目的在于解决现有技术中拼接后光斑非均匀性分布影响测试精度的问题。本申请通过建立激光靶面辐照光斑与光学元件之间的坐标映射变换关系，实现光学元件损伤点与激光靶面局域光斑的空间映射；再计算并记录每个局部区域的局部通量、损伤点数目以及局部区域内包含的像素点数目，并计算每个通量区间的损伤密度，创新性地以本申请中的“光学元件损伤点局域通量”替代现有技术中的“整个光斑的平均通量”，实现光学元件损伤点与激光靶面局域光斑的空间映射，有效缓解光斑非均匀分布对表面损伤密度测量精度的影响。
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公开(公告)号：CN115371969A
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202211052982.X
申请日：2022-08-31
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种便携式高能激光输出功率测量装置。本发明采用磁力基座和光反射台基于磁悬浮原理形成悬浮光反射构件，当激光发射在悬浮光反射构件上时，光反射台受激光的冲击产生转动，由于采用磁悬浮原理，使得光反射台在受到光冲击后，在无摩擦条件下进行转动，转速检测模块检测光反射台的转动速度后，由处理模块根据转动速度精确确定所发射激光的功率。采用转动反射测量和实时检测相结合的方式，不会使所测量的激光功率受到限制，可以实时放置在待测激光的激光发射通路上，能够显著提高激光功率测量的实时性和便捷性。并且，通过采用光反射台能够显著降低温度影响，提高便携式高能激光输出功率测量装置的使用寿命，进而降低激光功率测量成本。
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公开(公告)号：CN109540926B
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN201910085710.1
申请日：2019-01-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/958
Abstract: 本发明公开了一种KDP或DKDP晶体体损伤性能高精度测量装置及测量方法，涉及KDP或DKDP晶体体损伤测量技术领域，本发明先通过层析的方法获得高功率纳秒激光脉冲作用后晶体体损伤点基础数据，解决损伤点重复统计、背景光消除、二值化等问题并采用图像矩算法求出每个散射点的质心后，再通过重构算法获得体损伤点三维分布，进而可以高精度获得晶体体损伤密度ppd、体损伤点几何尺寸分布pps和晶体体损伤点三维分布等3个体损伤表征参数，本发明具有测量精度高、晶体体损伤表征更加全面的优点。
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公开(公告)号：CN113091644B
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN202110640411.7
申请日：2021-06-09
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种基于层叠相干衍射成像的大口径光学元件面形检测方法，涉及光学检测及数字图像处理技术领域，解决现有层叠相干衍射成像技术中测量视场小的技术问题，实现大口径光学元件的面形测量，包括如下步骤：将待测元件移至初始子孔径扫描位置并进行对准；用相机采集衍射光斑；将待测元件平移至下一子孔径扫描位置并采集衍射光斑，相邻子孔径扫描位置子孔径需有一定的重叠区域；直至扫描子孔径光斑覆盖光学元件待测区域；对采集到的系列衍射图像进行处理，采用层叠相干衍射成像迭代算法，恢复出待测元件面形分布；本发明用于大口径光学元件面形检测,具有测量口径大、光路简单、成本低廉的优点。
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公开(公告)号：CN113091644A
公开(公告)日：2021-07-09
申请号：CN202110640411.7
申请日：2021-06-09
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种基于层叠相干衍射成像的大口径光学元件面形检测方法，涉及光学检测及数字图像处理技术领域，解决现有层叠相干衍射成像技术中测量视场小的技术问题，实现大口径光学元件的面形测量，包括如下步骤：将待测元件移至初始子孔径扫描位置并进行对准；用相机采集衍射光斑；将待测元件平移至下一子孔径扫描位置并采集衍射光斑，相邻子孔径扫描位置子孔径需有一定的重叠区域；直至扫描子孔径光斑覆盖光学元件待测区域；对采集到的系列衍射图像进行处理，采用层叠相干衍射成像迭代算法，恢复出待测元件面形分布；本发明用于大口径光学元件面形检测,具有测量口径大、光路简单、成本低廉的优点。
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