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公开(公告)号：CN114397630B
公开(公告)日：2024-09-27
申请号：CN202111542627.6
申请日：2021-12-14
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种多通道副载波调制直波模拟源频率参数校准方法，利用多通道副载波调制直波模拟源工作时调相指数β0＜＜1rad的测试条件，采用基于频谱分析的方法解决多通道副载波调制体制直波信号的频率参数校准问题；本发明可实现复杂调制状态下多通道副载波调制直波信号的频率参数校准，校准方法方便可行，所需硬件装置简单，具有溯源性。本发明所提供的多通道副载波调制直波模拟源频率参数校准方法能完成复杂调制状态下频率参数的校准，解决其量值溯源问题，从而确保多通道副载波调制直波模拟源的性能可靠。
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公开(公告)号：CN109443438B
公开(公告)日：2024-07-30
申请号：CN201811512981.2
申请日：2018-12-11
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
Abstract: 本发明的基于多参数测试校准的虚拟仪器系统包括传感器、信号调理与采集模块、PC机和测试校准系统软件；信号调理与采集模块是采用SC Express模块；测试校准系统软件采用模块化结构设计：针对SC Express模块包含的板卡，对每个板卡分别设计该板卡对应的测试功能模块和校准功能模块；针对SC Express模块包含的板卡，各板卡测试和校准结果显示中可共用的功能部分采用一个功能模块，每个板卡测试和校准结果显示中特殊功能部分分别设计特殊显示功能模块；各功能模块之间相对独立，增加或删减任意模块不影响系统总体性能。本发明采用PXI先进总线架构，将诸多物理参数的测试功能集而合之，采用模块化层次结构设计，使得系统软硬件可扩展、可裁剪、可重用。
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公开(公告)号：CN118393245A
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202410348251.2
申请日：2024-03-26
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种光电探测器光、热、电综合应力下寿命考核试验装置，包括：光源、拆换法兰盘、导光筒、高温试验箱、隔热玻璃、滑轨、遮光板、测试子板、子母板连接线、测试母板、操作台、电控柜、环境控制装置、氮气瓶，高温试验箱内部底座上安装滑轨，测试子板与滑轨相连接，遮光板能实现测试过程中高温试验箱光场的均匀、可控，隔热玻璃密封安装在高温试验箱左侧，导光筒通过拆换法兰盘安装光源。本发明解决了高温试验条件下，温度导致的光源性能漂移，以及传统测试装置难以实现对光电探测器件试验过程中实际受到的光源辐照量进行标定和控制的问题，创新性设计了能为光电探测器实现光、热、电综合应力试验环境的装置。
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公开(公告)号：CN118297452A
公开(公告)日：2024-07-05
申请号：CN202410241084.1
申请日：2024-03-04
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06Q10/0639 , G06F16/383 , G06F16/38 , G06F18/213 , G06F18/22 , G06F18/2431
Abstract: 本发明公开一种信息咨询报告智能评估方法，所述信息咨询报告评估方法包括以下步骤：步骤1，论文数据库根据不同类型报告评价范本，建立信息咨询报告评价模板库及规则库，为专家推理模块提供论文数据；步骤2，专家评价模块根据输入的专家评价数据、专家权重和质量指标权重，完成信息咨询报告的等级计算；步骤3，专家推理模块根据信息咨询报告评价模板库、规则库、论文特征集以及信息咨询报告的等级计算结果，得到信息咨询报告的最终评价结果。本发明提供了一个相对公正客观的研究报告评价体系，对于信息咨询研究报告写作水平的提高具有重要作用。
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公开(公告)号：CN114966252B
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202111505888.0
申请日：2021-12-10
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明提供了一种数字信号处理电路辐照测试系统，所述数字信号处理电路辐照测试系统包括FPGA母板电路、DSP子板电路、上位机和电源模块，所述数字信号处理电路辐照测试系统置于辐照室中进行辐照测试；所述上位机通过网口与FPGA母板电路连接，上位机通过控制FPGA母板电路来控制DSP子板电路的偏置状态；所述电源模块对FPGA母板电路和DSP子板电路进行供电，所述电源模块采用TPS54310芯片，输入电压为5V，输出电压在0.9V‑3.3V之间调节。本发明通过字母板的设计方案，可以同时对两块DSP进行配置，提高了辐射实验的效率，并且能够进行动态偏置和静态偏置两种偏置实验。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114414972B
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202111530295.X
申请日：2021-12-14
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种基于CMOS图像传感器暗电流来定量质子位移损伤的方法，其特征在于，包括第一步，选取偶数只同晶圆批的CMOS图像传感器，分为两组，计算A组、B组暗电流初值的平均值；第二步，对A组CMOS图像传感器分别进行70MeV质子辐照试验；第三步，取A组中一只器件对其进行结构分析；第四步，采用粒子输运软件Geant4计算电离能损；第五步，对B组的CMOS图像传感器分别进行60Co‑γ射线辐照试验；第六步，计算空间质子位移损伤△μi，△μi＝μAi‑μBi；第七步，拟合△μi‑Fi的变化曲线；第八步，得到定量的空间质子位移损伤。本发明消除电离损伤的影响、定量评价质子位移损伤，结合航天器轨道、倾角、发射年份预估器件抗质子位移损伤能力是否满足要求，对航天器在轨安全运行具有重要意义。
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公开(公告)号：CN114217148B
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202111475502.6
申请日：2021-12-06
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及基于PRF谱线的脉冲调制波相位噪声定标装置及方法，装置包括脉冲调制波源、定标用连续波参考源、检相器、PRF滤波器和频谱分析仪；脉冲调制波源的输出端与检相器的LO端连接；定标用连续波参考源与检相器的RF端连接；检相器的IF端与PRF滤波器的输入端连接；PRF滤波器的输出端与频谱分析仪的输入端连接。本发明通过PRF谱线的定标，非常适用于脉冲调制波相位噪声测量系统；无需其他测量装置，整体装置结构简单。
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公开(公告)号：CN118052129A
公开(公告)日：2024-05-17
申请号：CN202311775620.8
申请日：2023-12-22
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06F30/27 , G06N3/0442 , G06F119/04
Abstract: 本发明公开了一种IGBT寿命预测方法，基于二次分解的数据降噪方案，利用完全集合经验模态分解(CEEMDAN)以及变分模态分解(VMD)进行数据降噪处理，具体包括如下步骤：S1、获取IGBT器件的历史退化失效特征数据，提取特征参数，划分训练集和测试集。S2、使用CEEMDAN算法将历史退化数据的训练集分解为具有不同中心频率的几个模态分量(IMF)。S3、计算各IMF的排列熵(PE)值，筛选出PE值较大的IMF。S4、对PE值较大的IMF进行VMD二次分解，分解时优化参数K和α。S5、将IMF输入GRU神经网络模型，优化模型参数，进行预测。
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公开(公告)号：CN117704918A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202311679407.7
申请日：2023-12-08
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01B3/46
Abstract: 本发明提供了一种塞尺全自动检定装置及检定方法。该检定装置特征在于，其包括底板、高精度光栅测量系统(1)、翻转定位轴(2)、三轴运动平台机构(3)、上料架(4)和上位机，所述底板一侧为“凹”型，所述上料架(4)跨接架设于三轴运动平台机构(3)，用于放置塞尺，所述底板另一侧架设有翻转定位轴(2)，工作时，所述三轴运动平台机构(3)将指定塞尺移至高精度光栅测量系统(1)进行量值检定，所述翻转定位轴(2)带动所述高精度光栅测量系统(1)翻转，所述上位机用于记载和显示数据。本发明不但能完成塞尺中心厚度测量，还可以测量塞尺各点局部厚度和其弯曲度，满足实验室检定人员一键式自动测量，大大节约了检定时间。
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公开(公告)号：CN117516803A
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202311532260.9
申请日：2023-11-16
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种转动惯量一体化测试装置及测试方法。该测试装置的特征在于，其包括：载物平台(1)、气浮轴承系统(2)、支撑机构(3)、称重系统(4)、质心调整系统(5)、标准扭杆组(6)、扭杆测试系统(7)、上位机(9)、夹持机构(8)、支撑底座(10)以及结构框架(11)，标准扭杆组(6)包括多根不同规格的一组标准扭杆(61)，使用时，选择一根标准扭杆(61)垂直放置；扭杆测试系统(7)安装于载物平台(1)下方标准扭杆(61)的外侧，对标准扭杆(61)进行扭矩加载和释放并测量数据传输给上位机(9)。本发明量程可调，可实现多量程范围航天部组件转动惯量的测量，同时兼顾对质量和质心的同步一体化测量。
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