一种相变存储器的故障诊断方法

    公开(公告)号:CN109935270A

    公开(公告)日:2019-06-25

    申请号:CN201910175850.8

    申请日:2019-03-08

    Abstract: 本发明提供一种相变存储器的故障诊断方法,应用于以位为操作单位的相变存储器中,包括:对所述相变存储器进行第一操作以触发部分热串扰故障,其中所述第一操作包括一次地址递增的位写0;对所述相变存储器进行第二操作以检测触发的部分热串扰故障,其中所述第二操作包括一次地址递增的位读0;对所述相变存储器进行第三操作以触发剩余热串扰故障,其中所述第三操作包括一次地址递减的位写0;对所述相变存储器进行第四操作以检测触发的剩余热串扰故障,其中所述第四操作包括一次地址递减的位读0。通过本发明解决了现有技术中无法全面检测PD故障及现有技术还未有以字为操作单位的相变存储器特有故障的触发及检测的相关研究的问题。

    一种基于N-ary树结构的随机访问的文件系统的实现方法

    公开(公告)号:CN106354890B

    公开(公告)日:2019-05-21

    申请号:CN201611041427.1

    申请日:2016-11-22

    Abstract: 本发明提供一种基于N‑ary树结构的随机访问的文件系统的实现方法,以页为单位来管理文件系统所有的文件数据;在文件系统中设置iNode区和数据区,所述数据区包括节点页和数据页;所述iNode区中所存储的iNode节点包括N‑ary树级数字段和N‑ary树根节点字段;以文件所对应的第N级节点页页号为根节点,以第(N‑1)级节点页页号为第1级子节点,以此类推,以第1级节点页页号为第(N‑1)级子节点,形成一个N‑ary树以对该文件的所有数据进行存储管理;其中第1级节点页为数据页;N‑ary树的遍历顺序为数据页的逻辑顺序。本发明的基于N‑ary树结构的随机访问的文件系统的实现方法实现文件数据在物理存储空间内的随机存储,从而最大化地提高文件系统整体的运行效率。

    相变存储器单元及其制备方法

    公开(公告)号:CN108666416A

    公开(公告)日:2018-10-16

    申请号:CN201710215955.2

    申请日:2017-04-01

    CPC classification number: H01L45/06 H01L45/144 H01L45/16

    Abstract: 本发明提供一种相变存储器单元及其制备方法,所述相变存储器单元包括相变材料层,所述相变材料层包括单层相变材料SbxTe1-x层和单层化合物ScyTe1-y层交替垂直堆叠生长而形成的相变超晶格薄膜结构,其中,0.4≤x≤0.8,0.4≤y≤0.8。本发明制备出的超晶格(SbxTe1-x)-(ScyTe1-y)相变材料具有和传统Ge-Sb-Te相变材料相比,获得的相变存储器件具有更低功耗、更高的相变速、更高的保持力、更长寿命等优点。

    相变存储器最优脉冲操作条件的筛选方法

    公开(公告)号:CN108648782A

    公开(公告)日:2018-10-12

    申请号:CN201810364565.6

    申请日:2018-04-23

    Abstract: 本发明提供一种相变存储器最优脉冲操作条件的筛选方法,包括基于待测相变存储器,设定待优化脉冲、各待优化脉冲对应的预设操作条件及影响因子;其中,各待优化脉冲对应的预设操作条件的个数相同;基于各预设操作条件生成N组测试数据,以分别对待测相变存储器进行RESET操作和SET操作,并获取各测试数据对应的RESET分布电阻及SET分布电阻;分别对RESET分布电阻和影响因子及SET分布电阻和影响因子进行回归分析,获取RESET响应模型及SET响应模型;基于RESET响应模型及SET响应模型对各待优化脉冲的操作条件进行预测,获取最优脉冲操作条件。通过本发明解决了传统“试错法”存在费时、筛选结果不准确的问题。

    相变存储器单元的写初始化方法及其阵列的写初始化方法

    公开(公告)号:CN105869671B

    公开(公告)日:2018-09-25

    申请号:CN201610178596.3

    申请日:2016-03-25

    Abstract: 本发明提供一种相变存储器单元的写初始化方法及其阵列的写初始化方法,所述单元的写初始化方法包括如下步骤:S1:采用初始化写脉冲操作相变存储器单元,在所述相变存储器单元中形成非晶区域;所述非晶区域大于相变存储器默认写脉冲产生的非晶区域;S2:采用擦脉冲将所述相变存储器单元操作至低阻状态,使所述初始化写脉冲形成的非晶区域转化为面心立方晶粒区域;S3:采用默认写脉冲操作所述相变存储器单元。其中,在一次初始化后,可进一步验证初始化效果,并根据需要选择是否需要再次初始化。本发明使用初始化写脉冲,对阵列各单元的FCC晶粒区域进行控制,可以有效提高阵列平均写电阻,降低写电流,同时使得相变存储阵列的电阻分布更加集中。

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