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公开(公告)号：CN112904354B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202110088653.X
申请日：2021-01-22
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01S17/10
Abstract: 本发明公开了一种高精度激光测距距离模拟装置，其中，激光测距仪的发射端发出的激光脉冲信号进入激光探测器及放大比较电路转换为电脉冲信号，产生的脉冲信号分两路分别送入FPGA模块和TDC模块，FPGA模块通过IO接口向TDC模块发送控制和通讯信息，FPGA模块通过IO接口向激光二极管及驱动电路发送脉冲驱动信号使激光二极管发光，激光二级管输出的激光信号通过分光棱镜进行分光，一路送入激光测距仪的接收端，另一路送入激光探测器，FPGA模块通过IO口与通讯模块进行通讯，通讯模块通过RS232接口与上位机进行通讯。本发明提升了装置的距离模拟精度，增强了装置的可靠性，并降低了装置的使用维护成本。
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公开(公告)号：CN115231905B
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202210951958.3
申请日：2022-08-09
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: C04B35/10 , G02B5/20 , C04B35/622 , C03B20/00 , C04B37/04
Abstract: 本发明属于复合功能材料技术领域，公开了一种氧化铝基激光衰减片的制备方法，步骤为：S1.制备衰减片用陶瓷基片，S2.制备衰减片用石英基片，S3.制备激光衰减片。本发明可获得性能优异的激光衰减片，其寿命高、衰减稳定性好，可多次循环使用，并且衰减率可控，实现了激光衰减片快速小批量制作的目标，解决了在激光制导时高的激光能量密度会造成接收器的损坏的关键问题，提高了接收器的使用寿命。
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公开(公告)号：CN111986171A
公开(公告)日：2020-11-24
申请号：CN202010822606.9
申请日：2020-08-14
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G06T7/00
Abstract: 本发明公开了一种用于红外线阵探测器的异常元检测方法，包括以下步骤：1：从输入图像序列中的每一行，选取采样点；2：将每个采样点的灰度值，与其上下邻近行的像素分别取差值，并将所有差值的绝对值取和，得到该行与上下邻近行的灰度阶跃值；3：设置灰度阶跃阈值，将所有行遍历统计得到的灰度阶跃值，与灰度阶跃阈值进行比较，超出灰度阶跃阈值的像元作为准异常元；4：在准异常元中，按照灰度阶跃值大小排序列表，并在列表中取规定个数的准异常元，作为最终异常元。本发明通过实时的图像分析和数据分析，不仅解决了盲元检测，而且针对随机出现的闪元，算法容易实现，能够实现自动实时检测，极大地提高了热像仪的调试效率、适应性和产品质量。
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公开(公告)号：CN107764520A
公开(公告)日：2018-03-06
申请号：CN201711038614.9
申请日：2017-10-30
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种光学镜头残余偏振测试装置，该装置采用三端开口的积分球和卤钨灯作为光源，并采用聚焦透镜对光束进行聚焦，采用由消色差滤光片、偏振器和1/4波片组成的起偏光学系统提供特定偏振状态特定波长的测量光束；采用大口径离轴抛物面反射镜对测量光束进行准直后再通过被测光学镜头；并利用光电探测器对经过放大器放大的偏振光信号进行测量，从而实现了波长范围0.45μm∽1.1μm、偏振度测量范围0.1∽0.9的光学镜头残余偏振度测量。
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公开(公告)号：CN103777659B
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201410001961.4
申请日：2014-01-01
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G05D23/20
Abstract: 本发明公开了一种常温点源黑体，属于光学计量领域。其技术特点是：由半导体制冷片和散热片组成的多个环形驱动器沿轴向安装在多棱柱状黑体腔体的外侧壁上，以实现对常温点源黑体的温度控制；在黑体腔体侧壁上的三个不同的轴向位置上均布置温度传感器，使黑体腔体内部的整体温度能够得到准确控制；在机箱的前后端面分别设置弧形进气口和散热风扇，以便与机箱内的空隙一起构成空气循环通道，从而保证了黑体腔体内部温度的均匀性，并使本发明的发射率达到0.998。本发明很好地解决了外场试验和快速测量场合所需要的高发射率黑体辐射源的问题；同时具有体积小、质量轻、升降温速度快、便于携带的优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111986171B
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202010822606.9
申请日：2020-08-14
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于红外线阵探测器的异常元检测方法，包括以下步骤：1：从输入图像序列中的每一行，选取采样点；2：将每个采样点的灰度值，与其上下邻近行的像素分别取差值，并将所有差值的绝对值取和，得到该行与上下邻近行的灰度阶跃值；3：设置灰度阶跃阈值，将所有行遍历统计得到的灰度阶跃值，与灰度阶跃阈值进行比较，超出灰度阶跃阈值的像元作为准异常元；4：在准异常元中，按照灰度阶跃值大小排序列表，并在列表中取规定个数的准异常元，作为最终异常元。本发明通过实时的图像分析和数据分析，不仅解决了盲元检测，而且针对随机出现的闪元，算法容易实现，能够实现自动实时检测，极大地提高了热像仪的调试效率、适应性和(56)对比文件CN 110887563 A,2020.03.17JP H0537969 A,1993.02.12CN 103076156 A,2013.05.01Patrick P. K. Chan.Face LivenessDetection Using a Flash Against 2DSpoofing Attack《.IEEE Transactions onInformation Forensics and Security (Volume: 13, Issue: 2, February 2018)》.2017,全文.刘高睿.红外线列探测器闪元噪声分析与抑制方法《.红外与毫米波学报》.2018,全文.陈大川.红外焦平面阵列盲元检测及补偿算法《.激光与红外》.2008,全文.
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公开(公告)号：CN116623128A
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN202310655739.5
申请日：2023-06-05
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明公开了一种内嵌式电磁屏蔽金属网栅制作方法，包括如下步骤：在光学基底上制作反向掩膜；等离子束刻蚀金属网栅沟槽；金属薄膜镀制；底层薄膜镀制；去胶及清洁；耐环境侵蚀性能的光学增透膜镀制。本发明通过在光学基底表面采用掩膜制作、等离子束刻蚀等方式制作金属网栅的沟槽，采用真空镀膜的方式将金属网栅填充在沟槽内，再通过与基底材料相机或相同的薄膜材料覆盖，与基底形成一体，将金属网栅完全包裹在内部，表面再通过带有保护层的光学增透膜覆盖，使得光学窗口能够同时实现电磁屏蔽、光学良好透射率、耐环境侵蚀等多种功能。
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公开(公告)号：CN115585756A
公开(公告)日：2023-01-10
申请号：CN202211295298.4
申请日：2022-10-21
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于光束检测定位的同轴度测量装置，结构为：导轨一安装在第一多维调整台上，准直光源安装在导轨一上，导轨二安装在第二多维调整台上，成像CCD安装在导轨二上；第一多维调整台安装在待测轴一上，第二多维调整台安装在待测轴二上；移动准直光源到位置一，转动待测轴一，成像CCD记录光斑中心位置一；移动准直光源到位置二，转动待测轴一，成像CCD记录光斑中心位置二；通过光斑中心位置一和位置二以及准直光源在导轨上移动的距离，算出待测轴一的轴线位置；同样的方法转动轴二，计算出轴二的位置；将轴一与轴二的位置比较，算出两轴的同轴度误差。本发明结构简单，易于实现，不会引入其他测量误差。
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公开(公告)号：CN115574983A
公开(公告)日：2023-01-06
申请号：CN202211296529.3
申请日：2022-10-21
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01K17/00
Abstract: 本发明公开了一种基于吸收玻璃的激光功率测量装置，其包括：数据采集及计算模块和至少一级激光吸收模块，激光吸收模块包括吸收玻璃、测温电阻丝、隔热板、隔热壳体；隔热壳体包括前壳和后壳，隔热板贴合在后壳上，测温电阻丝贴合在隔热板上，吸收玻璃贴合在测温电阻丝上，前壳盖合在吸收玻璃上并与后壳连接；数据采集及计算模块连接测温电阻丝；被测激光照射在吸收玻璃上，吸收玻璃温度上升，数据采集及计算模块采集吸收玻璃后面的测温电阻丝上的信号变化，计算出激光功率。本发明极大地简化了传统的大功率激光功率测量装置，提高了测量精度，同时可以根据需求任意方式级联使用，大大增加了测量功率的动态范围和灵活性。
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公开(公告)号：CN113029341A
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN202110259840.X
申请日：2021-03-10
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J4/00
Abstract: 本发明属于光学计量领域，公开了一种高精度激光偏振特性测量校准装置，激光器组件发出的光经过激光稳功率仪后，再经过分束镜分束变成两束光，一束作为测量光路，另一束作为监视光路，监视光路的信号由探测放大系统进行探测，测量光路的光束经过偏振控制系统后，由偏振测量系统进行探测；由探测放大系统和偏振测量系统输出的电流信号经过高精度同步采集电路采集处理，利用监视光路中测量得到的激光功率值对测量光路中激光功率测量结果进行动态实时补偿，可以进一步降低激光功率的漂移对测量结果产生影响。本发明解决了目前高精度激光光源偏振度及偏振态的校准难题，具有测量准确度高，应用前景广的特点。
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