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公开(公告)号：CN115824398A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211558853.8
申请日：2022-12-06
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J1/04
Abstract: 本发明公开了一种基于光压的激光功率测量装置，其特征在于，包括：防风舱、第一反射镜、第二反射镜、轻质双面反射镜、自准直仪；双面反射镜布置在防风舱内，其一侧表面为激光反射面，另一侧表面为自准直仪反射面，自准直仪正对自准直仪反射面布置，用于检测双面反射镜是否静止稳定，第一反射镜、第二反射镜布置在激光反射面一侧；防风舱上设置入射窗口和出射窗口，第一反射镜布置在入射窗口内侧，第二反射镜布置在出射窗口内侧，待测激光经由入射窗口入射至第一反射镜并反射至双面反射镜，经双面反射镜反射后经由第二反射镜反射，并由出射窗口射出。本发明极大地简化了传统的大功率激光功率测量装置，提高了测量精度。
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公开(公告)号：CN115585756A
公开(公告)日：2023-01-10
申请号：CN202211295298.4
申请日：2022-10-21
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于光束检测定位的同轴度测量装置，结构为：导轨一安装在第一多维调整台上，准直光源安装在导轨一上，导轨二安装在第二多维调整台上，成像CCD安装在导轨二上；第一多维调整台安装在待测轴一上，第二多维调整台安装在待测轴二上；移动准直光源到位置一，转动待测轴一，成像CCD记录光斑中心位置一；移动准直光源到位置二，转动待测轴一，成像CCD记录光斑中心位置二；通过光斑中心位置一和位置二以及准直光源在导轨上移动的距离，算出待测轴一的轴线位置；同样的方法转动轴二，计算出轴二的位置；将轴一与轴二的位置比较，算出两轴的同轴度误差。本发明结构简单，易于实现，不会引入其他测量误差。
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公开(公告)号：CN115574983A
公开(公告)日：2023-01-06
申请号：CN202211296529.3
申请日：2022-10-21
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01K17/00
Abstract: 本发明公开了一种基于吸收玻璃的激光功率测量装置，其包括：数据采集及计算模块和至少一级激光吸收模块，激光吸收模块包括吸收玻璃、测温电阻丝、隔热板、隔热壳体；隔热壳体包括前壳和后壳，隔热板贴合在后壳上，测温电阻丝贴合在隔热板上，吸收玻璃贴合在测温电阻丝上，前壳盖合在吸收玻璃上并与后壳连接；数据采集及计算模块连接测温电阻丝；被测激光照射在吸收玻璃上，吸收玻璃温度上升，数据采集及计算模块采集吸收玻璃后面的测温电阻丝上的信号变化，计算出激光功率。本发明极大地简化了传统的大功率激光功率测量装置，提高了测量精度，同时可以根据需求任意方式级联使用，大大增加了测量功率的动态范围和灵活性。
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公开(公告)号：CN104713845B
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201510133780.1
申请日：2015-03-25
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01N21/3581
Abstract: 本发明提出一种基于太赫兹吸收光谱处理的混合物成分识别方法，属于光学测量领域。本发明用于利用太赫兹吸收光谱检测混合物的组分，首先获取混合物样品太赫兹吸收光谱的，在扣除环境噪声、背景噪声，消除随温度变化的水蒸气吸收造成的影响后，获得用于识别的太赫兹吸收光谱，然后调用太赫兹光谱数据库，采用模板匹配和吸收峰比对的方法，依次判断、识别并扣除各样品的太赫兹吸收光谱；判定扣除后的吸收光谱数据，直到检测出混合物所有组分。本发明将实验环境下的太赫兹光谱和普通环境下的太赫兹光谱相结合，可以用于普通环境下的太赫兹光谱识别，为太赫兹光谱识别技术的应用提供了保障。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103308185B
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201310214842.2
申请日：2013-05-31
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于四杆靶标扫描的红外辐射计，属于红外光学计量与光电检测领域。该红外辐射计在传统红外辐射计的基础上增加了一个单向缩小镜，该单项缩小镜是由焦距之比为1：n的两个柱面镜组构成的望远系统,并将柱面镜组的柱高方向设置为测量光路的弧矢方向，由此可以实现把子午方向的视场缩小n倍，而弧矢方向的视场不变的功能。本发明提供的红外辐射计能够一次成像完成一个高宽比为n：1的靶孔或靶孔间的实体间隙部分的探测，不仅提高了测量效率，还能避免数据拼接导致的标定精度下降的问题。
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公开(公告)号：CN103743489A
公开(公告)日：2014-04-23
申请号：CN201410001199.X
申请日：2014-01-01
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明公开了一种基于标准面源黑体的红外辐射计比例常数标定方法，属于红外光学辐射领域。该标定方法针对目前红外辐射计斩波器喷涂高发射率黑漆和带有四个温度探头的特点，在斩波器温度与内置控温参考黑体温度相等时采集信号，避免斩波器的附加辐射进入探测器，此外，还要求在采集信号时，环境温度、壳体内部温度与斩波器温度相等，使得环境、壳体与斩波器之间的辐射动态平衡，这样就可以消除斩波器、壳体内部以及环境等附加辐射的影响。另外，该标定方法还在常用环境温度范围内进行了多个温度点的标定，弥补了传统方法中以一个温度点标定而代替多个温度点进行标定的以点带面的不足之处。与传统方法相比，这种红外辐射计比例常数标定方法的精度更高。
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公开(公告)号：CN116183035A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202211691978.8
申请日：2022-12-28
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J5/80
Abstract: 本发明属于光学计量测试技术领域，公开了一种亚皮米量级近红外至中波红外波长校准系统及方法，首先利用激光拍频测量模块和频率锁定反馈模块将窄线宽激光器频率锁定至频率梳其中一根梳齿上，测量频率锁定后窄线宽激光器的输出激光频率，然后利用气压计和温湿度计测量当前环境的气压、温度和湿度，计算当前环境空气折射率，根据锁定之后的输出频率和当前环境空气折射率计算窄线宽激光器输出波长，使频率锁定后的激光器入射至被校波长仪器之中，比较频率锁定后的窄线宽激光器输出波长和被校波长测量仪器的波长测量示值，完成被校波长测量仪器的校准。本发明实现了波长校准问题，并引入实时空气折射率，避免空气折射率变化对波长的影响。
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公开(公告)号：CN116147767A
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202211691973.5
申请日：2022-12-28
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明属于光学计量测试技术领域，公开了一种瞬态光谱仪采集时间测量装置及测量方法，包括：信号发生器、系列脉冲激光器、分束器、纳秒探测器被测瞬态光谱仪和示波器；信号发生器生成并输出标准方波信号，标准方波信号分为两路，一路输入至示波器的Ⅰ通道；脉冲激光器输出脉冲激光，分为两束，一束激光经分束器折转之后被纳秒探测器接收，输出电信号输出至示波器的Ⅱ通道；另外一路分束入射至被测瞬态光谱仪，输出电信号输出至示波器的Ⅲ通道；Ⅲ通道的上升沿起始位置相对于Ⅱ通道的上升沿起始位置的时间延迟，即为采集时间。本发明解决了瞬态光谱仪采集时间测量、激光器触发延时时间测量，消除了脉冲激光器的触发出光延迟对采集时间的影响。
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公开(公告)号：CN109506789A
公开(公告)日：2019-03-22
申请号：CN201811577098.1
申请日：2018-12-24
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J9/04
Abstract: 本发明出太赫兹源波长测量仪校准装置及方法，针对傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪和除傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪之外的其它类型的波长测量仪，采用相应的校准装置及方法进行校准，实现不同测量原理太赫兹源波长测量仪的校准。对应除傅立叶变换型太赫兹源波长测量仪之外其它类型的太赫兹源波长测量仪，采用太赫兹标准频率源法对其进行校准；对应傅立叶变换型类型的太赫兹源波长测量仪，采用太赫兹特征波长标准器法对其进行校准；该校准方法解决了(0.1～5)THz波段范围内太赫兹源波长测量仪的校准难题，具有广阔的应用前景。
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