公开(公告)号：CN103777659A

公开(公告)日：2014-05-07

申请号：CN201410001961.4

申请日：2014-01-01

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 胡铁力 ,  马世帮 ,  辛舟 ,  杨峰 ,  于帅 ,  吴李鹏 ,  汪建刚 ,  王红红 ,  李四维 ,  阴万宏

IPC: G05D23/20

Abstract: 本发明公开了一种常温点源黑体，属于光学计量领域。其技术特点是：由半导体制冷片和散热片组成的多个环形驱动器沿轴向安装在多棱柱状黑体腔体的外侧壁上，以实现对常温点源黑体的温度控制；在黑体腔体侧壁上的三个不同的轴向位置上均布置温度传感器，使黑体腔体内部的整体温度能够得到准确控制；在机箱的前后端面分别设置弧形进气口和散热风扇，以便与机箱内的空隙一起构成空气循环通道，从而保证了黑体腔体内部温度的均匀性，并使本发明的发射率达到0.998。本发明很好地解决了外场试验和快速测量场合所需要的高发射率黑体辐射源的问题；同时具有体积小、质量轻、升降温速度快、便于携带的优点。

公开(公告)号：CN103743489A

公开(公告)日：2014-04-23

申请号：CN201410001199.X

申请日：2014-01-01

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 胡铁力 ,  郭羽 ,  辛舟 ,  杨峰 ,  孙婷 ,  刘伟光 ,  吴沛 ,  范纪红 ,  马世帮 ,  李四维 ,  解琪 ,  阴万宏 ,  刘瑞星 ,  吴李鹏 ,  常伟军

IPC: G01J5/00

Abstract: 本发明公开了一种基于标准面源黑体的红外辐射计比例常数标定方法，属于红外光学辐射领域。该标定方法针对目前红外辐射计斩波器喷涂高发射率黑漆和带有四个温度探头的特点，在斩波器温度与内置控温参考黑体温度相等时采集信号，避免斩波器的附加辐射进入探测器，此外，还要求在采集信号时，环境温度、壳体内部温度与斩波器温度相等，使得环境、壳体与斩波器之间的辐射动态平衡，这样就可以消除斩波器、壳体内部以及环境等附加辐射的影响。另外，该标定方法还在常用环境温度范围内进行了多个温度点的标定，弥补了传统方法中以一个温度点标定而代替多个温度点进行标定的以点带面的不足之处。与传统方法相比，这种红外辐射计比例常数标定方法的精度更高。

公开(公告)号：CN103777659B

公开(公告)日：2015-11-18

申请号：CN201410001961.4

申请日：2014-01-01

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 胡铁力 ,  马世帮 ,  辛舟 ,  杨峰 ,  于帅 ,  吴李鹏 ,  汪建刚 ,  王红红 ,  李四维 ,  阴万宏

IPC: G05D23/20

Abstract: 本发明公开了一种常温点源黑体，属于光学计量领域。其技术特点是：由半导体制冷片和散热片组成的多个环形驱动器沿轴向安装在多棱柱状黑体腔体的外侧壁上，以实现对常温点源黑体的温度控制；在黑体腔体侧壁上的三个不同的轴向位置上均布置温度传感器，使黑体腔体内部的整体温度能够得到准确控制；在机箱的前后端面分别设置弧形进气口和散热风扇，以便与机箱内的空隙一起构成空气循环通道，从而保证了黑体腔体内部温度的均匀性，并使本发明的发射率达到0.998。本发明很好地解决了外场试验和快速测量场合所需要的高发射率黑体辐射源的问题；同时具有体积小、质量轻、升降温速度快、便于携带的优点。

公开(公告)号：CN103743489B

公开(公告)日：2016-03-23

申请号：CN201410001199.X

申请日：2014-01-01

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 胡铁力 ,  郭羽 ,  辛舟 ,  杨峰 ,  孙婷 ,  刘伟光 ,  吴沛 ,  范纪红 ,  马世帮 ,  李四维 ,  解琪 ,  阴万宏 ,  刘瑞星 ,  吴李鹏 ,  常伟军

IPC: G01J5/00

Abstract: 本发明公开了一种基于标准面源黑体的红外辐射计比例常数标定方法，属于红外光学辐射领域。该标定方法针对目前红外辐射计斩波器喷涂高发射率黑漆和带有四个温度探头的特点，在斩波器温度与内置控温参考黑体温度相等时采集信号，避免斩波器的附加辐射进入探测器，此外，还要求在采集信号时，环境温度、壳体内部温度与斩波器温度相等，使得环境、壳体与斩波器之间的辐射动态平衡，这样就可以消除斩波器、壳体内部以及环境等附加辐射的影响。另外，该标定方法还在常用环境温度范围内进行了多个温度点的标定，弥补了传统方法中以一个温度点标定而代替多个温度点进行标定的以点带面的不足之处。与传统方法相比，这种红外辐射计比例常数标定方法的精度更高。