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公开(公告)号:CN107107188B
公开(公告)日:2019-09-17
申请号:CN201580071179.2
申请日:2015-12-24
Applicant: 千住金属工业株式会社
Abstract: 本发明提供球形度高的接合构件、软钎焊材料、焊膏、成形焊料、助焊剂涂布材料和钎焊接头。本发明的Ni镀层Cu球(10)具备:Cu球(12)、和覆盖Cu球(12)的Ni镀层(14)。Ni镀层(14)含有光亮剂,晶粒的平均粒径为1μm以下。Ni镀层Cu球(10)的球径为1~230μm,且球形度为0.95以上。通过Ni镀层(14)中含有光亮剂,能够使Ni镀层Cu球(10)的表面平滑化,使球形度为0.95以上。由此,能够防止将Cu芯球(10)搭载到电极上时的位置偏移,能够防止自动对位性变差。
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公开(公告)号:CN104885580B
公开(公告)日:2018-07-13
申请号:CN201380068472.4
申请日:2013-12-26
Applicant: 花王株式会社 , 千住金属工业株式会社
CPC classification number: H01L23/12 , H01L21/4853 , H01L21/563 , H01L23/49811 , H01L24/81 , H01L2224/131 , H01L2224/16237 , H01L2224/32225 , H01L2224/73204 , H01L2224/81193 , H01L2224/81815 , H01L2224/83102 , H01L2224/92125 , H01L2924/01322 , H05K3/3436 , H05K3/3478 , H05K3/3484 , H05K2203/0338 , H05K2203/0425 , H05K2203/043 , H05K2203/0485 , H01L2224/16225 , H01L2924/00 , H01L2924/00014 , H01L2924/014
Abstract: 本发明提供可提高焊接有电子部件的电路基板可靠性的制造方法或焊料凸块形成方法。该制造方法包括(a)将焊料转印片以使上述转印片的焊料层与电路基板的具有焊接部的第一面对置的方式来配置的工序;(b)将配置有上述转印片的上述电路基板在加压下、在低于焊料合金的固相线温度的温度下加热而在电路基板的焊接部与转印片的焊料层之间选择性地产生固相扩散接合的工序;(c)将上述转印片与上述电路基板剥离,得到在焊接部附着有上述焊料层的电路基板的工序;(d)利用洗涤剂A洗涤上述电路基板的工序及(e)将助熔剂涂布于上述电路基板后,将电路基板在焊料合金的液相线温度以上的温度下加热而使焊料层熔融,使其固化,洗涤助熔剂残渣的工序。
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公开(公告)号:CN107107188A
公开(公告)日:2017-08-29
申请号:CN201580071179.2
申请日:2015-12-24
Applicant: 千住金属工业株式会社
Abstract: 本发明提供球形度高的接合构件、软钎焊材料、焊膏、成形焊料、助焊剂涂布材料和钎焊接头。本发明的Ni镀层Cu球(10)具备:Cu球(12)、和覆盖Cu球(12)的Ni镀层(14)。Ni镀层(14)含有光亮剂,晶粒的平均粒径为1μm以下。Ni镀层Cu球(10)的球径为1~230μm,且球形度为0.95以上。通过Ni镀层(14)中含有光亮剂,能够使Ni镀层Cu球(10)的表面平滑化,使球形度为0.95以上。由此,能够防止将Cu芯球(10)搭载到电极上时的位置偏移,能够防止自动对位性变差。
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公开(公告)号:CN105392580B
公开(公告)日:2017-04-26
申请号:CN201380077610.5
申请日:2013-06-19
Applicant: 千住金属工业株式会社
CPC classification number: H01L24/13 , B22F1/025 , B23K35/0244 , B23K35/26 , B23K35/262 , B23K35/30 , B23K35/302 , C22C9/00 , C22C13/00 , C22C43/00 , C23C28/021 , H01L23/49816 , H01L23/556 , H01L24/11 , H01L24/14 , H01L2224/111 , H01L2224/1112 , H01L2224/13014 , H01L2224/13016 , H01L2224/13111 , H01L2224/13147 , H01L2224/13347 , H01L2224/13411 , H01L2224/13611 , H01L2224/13655 , H01L2224/13657 , H01L2224/16145 , H01L2224/16227 , H01L2924/1434 , H01L2924/3841 , H05K3/3457 , H05K2203/041 , H01L2924/01082 , H01L2924/01083 , H01L2924/01047 , H01L2924/01029 , H01L2924/01049 , H01L2924/00012 , H01L2924/00014 , H01L2924/01028 , H01L2924/01027 , H01L2924/01051 , H01L2924/01032 , H01L2924/01015 , H01L2924/01026 , H01L2924/01079 , H01L2924/01092 , H01L2924/0109 , H01L2924/01033 , H01L2924/0105 , H01L2924/01048 , H01L2924/01016 , H01L2924/01203 , H01L2924/01204 , H01L2924/0103
Abstract: 提供能够抑制软错误、降低连接不良的Cu芯球。在Cu球的表面形成的软钎料镀覆膜由Sn软钎料镀覆膜或以Sn作为主要成分的无铅软钎料合金形成,U的含量为5ppb以下,Th的含量为5ppb以下,该Cu球的纯度为99.9%以上且99.995%以下,Pb和/或Bi的含量的总量为1ppm以上,球形度为0.95以上,所得Cu芯球的α射线量为0.0200cph/cm2以下。
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