一种大口径平板玻璃应力双折射面成像测量方法

    公开(公告)号:CN119935368A

    公开(公告)日:2025-05-06

    申请号:CN202510421862.X

    申请日:2025-04-07

    Abstract: 本发明公开了一种大口径平板玻璃应力双折射面成像测量方法,属于光学测量技术领域,其目的在于解决现有技术中存在的玻璃应力双折射测量效率低的技术问题。包括:将待测样品、1/4波片移出测量光路,旋转起偏器找到消光位置并在附近旋转起偏器N个角度,得到角度#imgabs0#;保持起偏器与检偏器不变,将1/4波片移入测量光路中,旋转1/4波片,找到消光位置;在消光位置附近旋转起偏器N个角度,得到角度#imgabs1#;保持1/4波片和检偏器位置、方向不变,将待测样品移入起偏器与1/4波片之间的测量光路中;通过起偏旋转机构旋转起偏器,当起偏器与参考坐标系x轴的夹角分别为0°、60°、120°时,通过CCD相机得到三幅图像的光强,并根据三个光强得到待测样品的应力双折射。

    电光晶体Z轴偏离角测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN105066910B

    公开(公告)日:2017-06-30

    申请号:CN201510515313.5

    申请日:2015-08-21

    Abstract: 本发明公开了一种电光晶体Z轴偏离角测量装置及测量方法,包括:按光路依次放置的激光器(101)、显微物镜(102)、针孔(103)、可调光阑(104)、准直透镜(105)、起偏器(106)、反射镜(107)、分束立方体(108)、光屏(109)、透镜一(110)、待测晶体(111)、透镜二(112)、检偏器(113)、成像透镜(114)、探测器(115)和计算机处理系统(116);其中,起偏器(106)和检偏器(113)偏振方向垂直,透镜一(110)和透镜二(112)严格共轭,分束立方体(108)、反射镜(107)、待测晶体(111)和光屏(109)组成迈克尔逊干涉系统。通过利用迈克尔逊干涉原理实现晶体精密定位,采用图像匹配算法实现光轴出露点中心计算,完成电光晶体Z轴偏离角精密测量。相对于其他装置和方法具有测量精度高、测量方法简单、测量系统误差小和测量重复性好等优点。

    一种光机组件面形在位检测装置及方法

    公开(公告)号:CN119468978A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202510066424.6

    申请日:2025-01-16

    Abstract: 本发明公开了一种光机组件面形在位检测装置及方法,属于光学精密检测技术领域,其目的在于解决现有技术中缺乏对光机组件进行在位监控装调过程中进行面形畸变检测的问题。装置中激光器产生的激光依次经光束隔离器、分光棱镜、准直镜A后入射至待测光机组件并产生反射,待测光机组件的反射光经准直镜A后入射至分光棱镜并产生反射,分光棱镜的反射光经由带孔光屏、准直镜B、相位板后入射至CCD相机;CCD相机与计算机系统连接,CCD相机记录的光斑图将被输入计算机系统,用于面形在位检测。该方法通过相位板对待测样品的反射光进行调制,采用基于光场衍射迭代的相位重构算法实现样品面形重构。其具有测量精度高、不需要参考平面、抗振能力强等优点。

    基于图像互相关匹配的电光晶体光轴出露点提取方法

    公开(公告)号:CN106407987B

    公开(公告)日:2020-04-17

    申请号:CN201610786512.4

    申请日:2016-08-31

    Abstract: 本发明公开了一种基于图像互相关匹配的电光晶体光轴出露点提取方法,属于光学精密检测技术领域,解决利用偏光干涉图确定电光晶体的光轴方向方法中光轴出露点的提取精度差的问题。本发明具体如下:获得偏光干涉图I,模拟得到合适的初始特征模板T0;对初始特征模板T0进行几何变换,获得不同大小不同旋转角度下的一系列特征模板图像Tmn;将特征模板Tmn分别和偏光干涉图I进行图像互相关匹配运算,用相关系数rmn(x,y)定量特征模板Tmn和偏光干涉图I的相关程度,经过图像互相关匹配运算,得到在特征模板Tmn下的最大相关系数rmn‑max和最大相关系数的位置坐标(xmn,ymn);并选取最大相关系数rmn‑max中的最大值rmax的位置坐标(xmax,ymax)作为光轴出露点的位置坐标。

    透镜的透射率测试系统及方法

    公开(公告)号:CN105628346B

    公开(公告)日:2019-05-21

    申请号:CN201610208314.X

    申请日:2016-04-05

    Abstract: 本发明涉及光学领域,具体提供了一种透镜的透射率测试系统,所述系统包括测试光发生装置、光阑、光阑控制装置、积分球、光谱测试装置以及光谱分析装置,所述测试光发生装置用于提供测试光,所述光阑设置于所述测试光发生装置与所述积分球之间,所述光阑与所述积分球之间用于放置被测透镜,所述积分球的入光孔位于所述被测透镜的焦点位置,所述光阑控制装置用于控制所述光阑的移动以使所述测试光透过所述光阑的通光孔到所述被测透镜预定位置,所述光谱测试装置设置于所述积分球的出光孔方向,用于对所述积分球的输出光进行光谱测试,所述光谱分析装置与所述光谱测试装置电连接,用于对所述光谱测试装置获得的光谱进行光谱分析。

    基于图像互相关匹配的电光晶体光轴出露点提取方法

    公开(公告)号:CN106407987A

    公开(公告)日:2017-02-15

    申请号:CN201610786512.4

    申请日:2016-08-31

    Abstract: 本发明公开了一种基于图像互相关匹配的电光晶体光轴出露点提取方法,属于光学精密检测技术领域,解决利用偏光干涉图确定电光晶体的光轴方向方法中光轴出露点的提取精度差的问题。本发明具体如下:获得偏光干涉图I,模拟得到合适的初始特征模板T0;对初始特征模板T0进行几何变换,获得不同大小不同旋转角度下的一系列特征模板图像Tmn;将特征模板Tmn分别和偏光干涉图I进行图像互相关匹配运算,用相关系数rmn(x,y)定量特征模板Tmn和偏光干涉图I的相关程度,经过图像互相关匹配运算,得到在特征模板Tmn下的最大相关系数rmn-max和最大相关系数的位置坐标(xmn,ymn);并选取最大相关系数rmn-max中的最大值rmax的位置坐标(xmax,ymax)作为光轴出露点的位置坐标。

    一种基于光场衍射迭代的球面元件面形重构系统及方法

    公开(公告)号:CN117308813A

    公开(公告)日:2023-12-29

    申请号:CN202310858668.9

    申请日:2023-07-13

    Abstract: 本发明公开了一种基于光场衍射迭代的球面元件面形重构系统及方法,涉及光学检测技术领域中的球面元件面形的检测,其目的在于解决现有技术中存在的球面元件面形重构时需要参考平面的面形测量方法,致使测量成本高、测量效率低的技术问题。激光经分光镜后分成两路,一路透射光被光陷吸收以避免形成杂散光,另一路反射光经待测球面镜后最终被CCD相机记录衍射光斑图,采用基于光场衍射迭代的相位重构算法实现球面类元件面形重构,得到含有待测球面镜误差的面型畸变、不含有待测球面镜误差的面型畸变,最终得到待测球面镜的面形误差,整个过程不需要参考平面的面形测量方法,测量成本较低、测量效率更高,具有很大应用前景。

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