半导体器件
    12.
    发明公开
    半导体器件 审中-实审

    公开(公告)号:CN116960163A

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202310453556.5

    申请日:2023-04-25

    Abstract: 一种半导体器件可以包括:第一半导体层,包括第一半导体材料;金属层,面对第一半导体层并具有导电性;2D材料层,在第一半导体层和金属层之间;以及第二半导体层,在第一半导体层和2D材料层之间。第二半导体层可以包括不同于第一半导体材料的第二半导体材料。第二半导体层和2D材料层可以彼此直接接触。第二半导体材料可以包括锗。

    半导体器件和包括该半导体器件的电子装置

    公开(公告)号:CN115799325A

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN202211039284.6

    申请日:2022-08-29

    Abstract: 一种半导体器件和包括该半导体器件的电子装置,该半导体器件包括:第一源极/漏极结构,包括第一半导体区域和与第一半导体区域电接触的第一电极;第二源极/漏极结构,包括第二半导体区域和与第二半导体区域电接触的第二电极;在第一半导体区域和第二半导体区域之间的沟道;以及栅极结构,包括覆盖沟道的栅极绝缘膜和覆盖栅极绝缘膜的栅电极。第一源极/漏极结构进一步包括在第一半导体区域和第一电极之间的硅化物膜以及在硅化物膜和第一电极之间的导电阻挡物。导电阻挡物包括导电的二维材料。

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