半导体装置
    4.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN116507115A

    公开(公告)日:2023-07-28

    申请号:CN202211232958.4

    申请日:2022-10-10

    Abstract: 提供了一种半导体装置,所述半导体装置包括:基底,包括多个有源图案;以及位线,在基底上与多个有源图案中的至少一个交叉并且在第一方向上延伸。位线包括在第一方向上延伸的第一导电图案、位于第一导电图案上在第一方向上延伸的位线覆盖图案以及位于第一导电图案与位线覆盖图案之间在第一方向上延伸的石墨烯图案。第一导电图案可以包括钌(Ru)。

    半导体存储器件及其制造方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118382289A

    公开(公告)日:2024-07-23

    申请号:CN202311261443.1

    申请日:2023-09-26

    Abstract: 根据实施例的半导体存储器件包括:衬底;位线,位于衬底上并且沿第一方向延伸;沟道容纳绝缘层,位于衬底上,并且限定暴露位线并沿与第一方向交叉的第二方向延伸的沟道沟槽;沟道层,沿沟道沟槽的底表面和侧表面延伸并且接触位线;字线,位于沟道沟槽中并且沿第二方向延伸;栅绝缘层,位于沟道层与字线之间;以及电容器结构,位于沟道层上并且电连接到沟道层,其中沟道层具有氧化物半导体层和第一石墨烯层的双层结构。

    制造包括限定气隙的二维材料层的半导体器件的方法

    公开(公告)号:CN116153853A

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202211453174.4

    申请日:2022-11-21

    Abstract: 提供了一种制造包括限定气隙的二维材料层的半导体器件的方法和自该方法制造的半导体器件。制造半导体器件的方法包括:在基板上形成结构,其中该结构具有开口;将基板装载到工艺室中;在结构的上表面上形成至少一个二维材料层以覆于开口上并形成气隙,其中气隙的上部由至少一个二维材料层限定;以及从工艺室卸载基板。

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