半导体器件
    11.
    发明公开
    半导体器件 审中-实审

    公开(公告)号:CN114628393A

    公开(公告)日:2022-06-14

    申请号:CN202111374019.9

    申请日:2021-11-19

    Abstract: 一种半导体器件包括:衬底,具有第一存储单元和第二存储单元,第一存储单元和第二存储单元在第一方向上彼此相邻;第一至第四存储鳍,在第一存储单元中在第一方向上彼此相邻,第一至第四存储鳍从衬底突出;第五至第八存储鳍,在第二存储单元中在第一方向上彼此相邻,第五至第八存储鳍从衬底突出;以及第一浅器件隔离层,在第四存储鳍和第五存储鳍之间,第一浅器件隔离层的侧壁具有拐点。

    制造半导体器件的方法和图案化方法

    公开(公告)号:CN106548931B

    公开(公告)日:2021-09-14

    申请号:CN201610831395.9

    申请日:2016-09-19

    Abstract: 提供了一种制造半导体器件的方法和图案化方法,所述制造半导体器件的方法包括:在基底的第一区域和第二区域上分别形成第一有源图案和第二有源图案;在第一有源图案和第二有源图案上分别形成第一栅极结构和第二栅极结构;形成包覆层以覆盖第一栅极结构和第二栅极结构以及第一有源图案和第二有源图案;在第一栅极结构之间的第一有源图案中形成第一凹进区,在第二栅极结构之间的第二有源图案中形成第二凹进区。

    具有多个栅结构的半导体器件

    公开(公告)号:CN106169472B

    公开(公告)日:2020-02-21

    申请号:CN201610186038.1

    申请日:2016-03-29

    Abstract: 本公开提供具有多个栅结构的半导体器件。一种半导体器件包括:基板,具有第一区域和第二区域;多个第一栅结构,在第一区域中,所述第一栅结构彼此间隔开第一距离;多个第二栅结构,在第二区域中,所述第二栅结构彼此间隔开第二距离;第一间隔物,在第一栅结构的侧壁上;电介质层,在第一间隔物上;第二间隔物,在第二栅结构的侧壁上;以及第三间隔物,在第二间隔物上。

    具有多个栅结构的半导体器件

    公开(公告)号:CN106169472A

    公开(公告)日:2016-11-30

    申请号:CN201610186038.1

    申请日:2016-03-29

    Abstract: 本公开提供具有多个栅结构的半导体器件。一种半导体器件包括:基板,具有第一区域和第二区域;多个第一栅结构,在第一区域中,所述第一栅结构彼此间隔开第一距离;多个第二栅结构,在第二区域中,所述第二栅结构彼此间隔开第二距离;第一间隔物,在第一栅结构的侧壁上;电介质层,在第一间隔物上;第二间隔物,在第二栅结构的侧壁上;以及第三间隔物,在第二间隔物上。

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