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公开(公告)号：CN117193356A
公开(公告)日：2023-12-08
申请号：CN202311135941.1
申请日：2023-09-05
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G05D1/10
Abstract: 本发明公开了基于分布式状态观测器的航天器编队预设时间预设精度的姿态协同控制方法及其控制系统。首先基于时间转换函数，构造各跟随航天器对领航航天器姿态及角速度信息的分布式预设时间状态观测器；然后基于此观测器估计获得的领航航天器的姿态信息，考虑扰动力矩上界未知，采用自适应技术对其进行补偿，设计了基于一个新型性能函数的预设时间预设精度的姿态协同控制算法；实现有领航星的航天器编队的预设时间预设精度的姿态协同控制。本发明用以解决刚体航天器编队的快速高精度总体协调控制问题。
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公开(公告)号：CN117022676A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202311066870.4
申请日：2023-08-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: B64G1/24
Abstract: 一种不完全信息下的航天器微分博弈拦截控制方法，属于航天器博弈控制领域。本发明针对航天器追逃过程中，由于目标信息不完全导致博弈拦截策略偏离实际态势，无法实现快速拦截的问题。包括获得拦截星与目标星的相对动力学方程展开式；再确定拦截星与目标星在最优控制策略下的博弈指标函数；设定对称正定矩阵P，建立拦截星与目标星满足纳什均衡的鞍点策略对；采用Epsilon纳什均衡对描述鞍点策略对，再通过行为学习算法估计得到目标星控制矩阵估计值；基于目标星控制矩阵估计值，由对称正定矩阵P的约束条件确定对称正定矩阵P，再计算得到估计后的拦截星博弈控制策略，采用所述推力博弈策略对目标星进行拦截控制。本发明用于对目标星进行拦截。
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公开(公告)号：CN116909305A
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202310939406.5
申请日：2023-07-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G05D1/08
Abstract: 本发明为航天器技术领域，具体涉及一种基于时域变换的预设时间预设精度姿轨一体化跟踪控制方法及其控制系统。步骤1：通过航天器自带的敏感器获取其位置与姿态信息；步骤2：对步骤1得到的航天器位置与姿态信息，计算得到控制信号；步骤3：将控制信号交由执行机构执行，从而实现对任务规定的期望运动跟踪。本发明使位姿参数误差在预设时间内确保系统状态收敛到指定精度的基础上，还会实现在预设时间之后控制器能够保障系统始终在精度范围内，且控制器给出的控制信号保持连续。
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公开(公告)号：CN116295452A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310290634.4
申请日：2023-03-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本申请公开了一种太阳光约束下单对多星连续掠飞轨迹优化方法及装置，属于航天器轨道优化技术领域，包括：获取初始轨道参数；将太阳光约束处理为非线性约束；通过lambert变轨策略建立太阳光约束下的轨迹优化模型，其中，整数变量为任务星对n颗目标星的掠飞序列，实数变量为任务星的初始轨道参数和每次进行轨道转移所需的变轨时间，优化指标为任务星完成观测任务所需的总速度增量；对轨迹优化模型进行迭代优化时通过混合编码遗传算法对整数变量和实数变量进行混合优化，并将轨迹优化模型满足迭代终止条件时求解得到的相应优化指标作为目标总速度增量，以实现对任务星连续掠飞轨迹的优化。适用于处理单对多星连续掠飞轨迹优化问题。
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公开(公告)号：CN115661123B
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202211425972.6
申请日：2022-11-14
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06T7/00 , G06T7/70 , G06T7/136 , G06V10/26 , G06V10/46 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06V20/00 , G06V20/70 , G06N3/0464
Abstract: 基于弱监督目标检测的工业品表面缺陷位置检测方法，解决了如何利用有限数据、简易标注的样本实现高精度表面缺陷检测的问题，属于表面缺陷检测领域。本发明包括：获取工业品表面缺陷的基础分类模型，作为主干模型f0分类器；在基础分类模型的N个卷积块后各增加一路分支，构成N个分类器；冻结主干模型f0分类器的参数，利用工业品表面缺陷数据集依次训练N个分类器，确定N个分支的权重；检测时，将待检测的工业品表面图像输入到基础分类模型中，获得的N+1个分类器的弱监督定位结果，合并后获得结果S；对结果S进行阈值分割处理，利用二值化阈值，生成缺陷的位置掩膜，完成表面缺陷检测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114997398B
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202210232531.8
申请日：2022-03-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F40/20 , G06F40/211 , G06F40/253 , G06F40/289 , G06N5/025 , G06N5/022
Abstract: 一种基于关系抽取的知识库融合方法，本发明涉及基于关系抽取的知识库融合方法。本发明的目的是为了解决现有知识融合方法忽略了文本中不同表述方式而语义相同的潜在合并内容，无法将属于同一知识的不同实体进行有效合并的问题。一种基于关系抽取的知识库融合方法过程为：步骤1：文本数据预处理；步骤2：关系规则抽取，获取关系规则库；步骤3：使用步骤2获取的关系规则库作为数据驱动，抽取待抽取文本数据中的关系三元组，从而构建统一的知识库。本发明用于信息抽取领域。
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公开(公告)号：CN115339651B
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN202210937280.3
申请日：2022-08-05
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: B64G1/10
Abstract: 基于群体博弈的卫星群任务分配方法，本发明涉及卫星群任务分配方法。本发明的目的是为了解决现有卫星群任务分配的问题。过程为：S1：设定固连细胞星群的任务指标；S2：建立t时刻的有策略限制的群体博弈模型；S3：利用动力学求解有策略限制的群体博弈模型，得到t+step时刻的有策略限制的群体博弈模型的Nash均衡解和对应的姿态四元数及角速度；判断是否满足误差范围；若满足则结束；若不满足则执行S4；S4：令t＝t+step，获得此时的星群质量即分配指标，重复S2‑S3；直至该周期内的姿态四元数、角速度与期望姿态四元数、期望角速度满足误差范围。本发明用于卫星的任务分配领域。
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公开(公告)号：CN115719035A
公开(公告)日：2023-02-28
申请号：CN202211367321.6
申请日：2022-11-03
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/27 , G06F111/06 , G06F119/02
Abstract: 本发明公开了一种考虑太阳光约束的单对多星连续掠飞观测轨迹优化方法及系统，属于航天器轨道优化技术领域，其中，该方法包括：构建任务星、n颗目标卫星与太阳之间的约束条件；获取n颗目标卫星初始轨道参数和第一任务卫星初始轨道参数；采用Lambert变轨策略和粒子群算法对总速度增量进行全局寻优，不满足条件则重新全局寻优，反之则向下执行局部寻优；采用Lambert变轨策略和序列二次规划算法对全局寻优后的初始总速度增量进行局部优化，判断局部优化后的总速度增量是否约束条件，若不满足，则重新局部寻优，反之则局部优化后的总速度增量为最优速度增量。该方法能够使任务星在满足任务约束的同时燃料消耗最小。
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公开(公告)号：CN115685761A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202211404647.1
申请日：2022-11-10
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G05B13/04
Abstract: 挠性航天器预设性能姿态控制方法、计算机设备和存储介质，属于航天器姿态控制技术领域，解决挠性航天器的姿态跟踪控制难以在短时间内提供合理的控制力矩的问题。本发明方法包括：获取航天器的结构转动惯量标称部分；利用所述航天器的结构转动惯量标称部分，获取挠性航天器姿态动力学的确定部分；获取性能函数矩阵、挠性航天器的姿态误差运动学矩阵、一阶反步变量、二阶反步变量、一阶跟踪参考和收敛率函数，所述收敛率函数为根据时间获取收敛率的函数；获取扩张状态观测器的耦合干扰跟踪状态；根据本发明设计的计算公式，获取控制力矩；根据所述控制力矩对挠性航天器进行姿态控制。本发明适用于针对挠性航天器的姿态跟踪控制。
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公开(公告)号：CN115661123A
公开(公告)日：2023-01-31
申请号：CN202211425972.6
申请日：2022-11-14
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06T7/00 , G06T7/70 , G06T7/136 , G06V10/26 , G06V10/46 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06V20/00 , G06V20/70 , G06N3/0464
Abstract: 基于弱监督目标检测的工业品表面缺陷位置检测方法，解决了如何利用有限数据、简易标注的样本实现高精度表面缺陷检测的问题，属于表面缺陷检测领域。本发明包括：获取工业品表面缺陷的基础分类模型，作为主干模型f0分类器；在基础分类模型的N个卷积块后各增加一路分支，构成N个分类器；冻结主干模型f0分类器的参数，利用工业品表面缺陷数据集依次训练N个分类器，确定N个分支的权重；检测时，将待检测的工业品表面图像输入到基础分类模型中，获得的N+1个分类器的弱监督定位结果，合并后获得结果S；对结果S进行阈值分割处理，利用二值化阈值，生成缺陷的位置掩膜，完成表面缺陷检测。
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