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公开(公告)号:CN109837524B
公开(公告)日:2023-03-31
申请号:CN201811431633.2
申请日:2018-11-27
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: C23C16/26 , C23C16/505 , C23C16/511 , C01B32/186 , B82Y30/00 , B82Y40/00
Abstract: 提供纳米晶体石墨烯、形成纳米晶体石墨烯的方法、和设备。所述纳米晶体石墨烯可具有在约50%至99%的范围内的具有sp2键合结构的碳与总碳的比率。另外,所述纳米晶体石墨烯可包括具有约0.5nm至约100nm的尺寸的晶体。
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公开(公告)号:CN114578460A
公开(公告)日:2022-06-03
申请号:CN202110799177.2
申请日:2021-07-15
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G02B1/113 , G02B1/14 , G09F9/30 , H01L27/146 , H01L31/0216 , H01L31/054
Abstract: 提供非晶氮化硼膜和包括其的抗反射涂层结构体。所述非晶氮化硼膜具有包括sp3杂化键和sp2杂化键的非晶结构,其中所述非晶氮化硼膜中的sp3杂化键相对于sp3杂化键与sp2杂化键之和的比率小于约20%。
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公开(公告)号:CN114520259A
公开(公告)日:2022-05-20
申请号:CN202110912210.8
申请日:2021-08-10
IPC: H01L29/20 , H01L29/24 , H01L29/267 , H01L29/778 , H01L21/02
Abstract: 提供黑磷‑二维材料复合物及其制造方法、制造黑磷片的方法和电子器件。所述黑磷‑二维材料复合物包括:各自具有二维晶体结构并且通过范德华力彼此结合的第一和第二二维材料层;以及在所述第一和第二二维材料层之间并且具有其中多个磷原子共价键合的二维晶体结构的黑磷片。
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公开(公告)号:CN113725107A
公开(公告)日:2021-11-30
申请号:CN202110333720.X
申请日:2021-03-29
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L21/66 , G01N23/2273
Abstract: 提供了通过使用X射线光电子能谱(XPS)来测量石墨烯层的厚度的方法和测量硅碳化物的含量的方法。计算直接生长在硅衬底上的石墨烯层的厚度的方法包括:通过使用从石墨烯层发射的光电子束的信号强度与从硅衬底发射的光电子束的信号强度之间的比值来测量直接生长在硅衬底上的石墨烯层的厚度。
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公开(公告)号:CN113410304A
公开(公告)日:2021-09-17
申请号:CN202110280227.6
申请日:2021-03-16
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L29/78 , H01L29/10 , H01L27/092
Abstract: 示例实施方式提供了垂直型晶体管、包括其的反相器和包括其的垂直型半导体器件。垂直型晶体管包括:基板;提供在基板上的第一源/漏电极层;第二源/漏电极层,提供在第一源/漏电极层之上;第一栅电极层,提供在第一源/漏电极层和第二源/漏电极层之间;穿过第一栅电极层的第一栅绝缘膜;孔,穿过第二源/漏电极层、第一栅绝缘膜和第一源/漏电极层;以及提供在该孔的侧面上的第一沟道层,其中第一沟道层可以包括2D半导体。
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公开(公告)号:CN106410002B
公开(公告)日:2020-06-12
申请号:CN201610601246.3
申请日:2016-07-27
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L33/14
Abstract: 本发明涉及包括扩散阻挡层的多层结构体、包括其的器件和电子器件。所述多层结构体包括第一材料层、第二材料层、和扩散阻挡层。所述第二材料层连接至所述第一材料层。所述第二材料层与所述第一材料层隔开。所述扩散阻挡层在所述第一材料层和所述第二材料层之间。所述扩散阻挡层可包括二维(2D)材料。所述2D材料可为非基于石墨烯的材料,如具有2D晶体结构的基于金属硫属化物的材料。所述第一材料层可为半导体或绝缘体,且所述第二材料层可为导体。所述多层结构体的至少一部分可构成用于电子器件的互连。
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