公开(公告)号：CN101943739B

公开(公告)日：2013-08-21

申请号：CN201010222592.3

申请日：2010-07-02

Applicant: 台湾积体电路制造股份有限公司

Inventor： 卓秀英 ,  黄俊凯 ,  黄文社 ,  刘莎莉

IPC: H01L21/66

CPC classification number: G01R31/2846 ,  G01R31/27 ,  G01R31/2884 ,  Y10T29/49002

Abstract: 本发明提供一种去嵌入的方法和装置，该方法包括：形成具有待测元件的受测结构，待测元件嵌入受测结构之内，受测结构具有多个左测试焊盘和多个右测试焊盘，右测试焊盘和左测试焊盘耦接待测元件，待测元件将受测结构分成左半结构和右半结构，每一左半结构和右半结构均具有本征传输参数；形成多个虚设受测结构，每一虚设受测结构均包括左焊盘和右焊盘；测量受测结构和虚设受测结构的传输参数；以及使用左半结构和右结构的本征传输参数与受测结构和虚设受测结构的传输参数，推导待测元件的本征传输参数。本发明可避免过度去嵌入。

公开(公告)号：CN101821634B

公开(公告)日：2013-08-14

申请号：CN200880111413.X

申请日：2008-08-15

Applicant: 先进微装置公司

Inventor： A·甘戈索 ,  L·马丁尼兹

IPC: G01R1/073 ,  G01R31/28

CPC classification number: G01R1/07314 ,  G01R31/2846 ,  G01R31/2887 ,  Y10T29/49117

Abstract: 本发明提出用以探测半导体压模的多种探针基板及使用该些探针基板的方法。一方面，提供一种制造方法，该方法包括：在一探针基板上形成第一导体针脚矩阵列及第二导体针脚矩阵列。该第二导体针脚矩阵列与该第一导体针脚是被沿着第一轴的第一间距分开，该第一间距被选择以充分匹配位在一半导体工件的第一半导体压模与第二半导体压模间的第二间距。

公开(公告)号：CN101847112A

公开(公告)日：2010-09-29

申请号：CN200910301082.2

申请日：2009-03-24

Applicant: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 ,  鸿海精密工业股份有限公司

Inventor： 陈晓竹 ,  叶振兴 ,  周家兴

IPC: G06F11/26

CPC classification number: G01R31/2817 ,  G01R31/2846 ,  G01R31/2849

Abstract: 一种电脑主板测试装置，包括一基板、若干热源模块及一电源端子，所述基板用于模拟电脑主板，所述若干热源模块用于模拟电脑主板的发热元件功率，所述若干热源模块固定于所述基板上，并分别通过一电缆线连接于所述电源端子上，所述电源端子连接一电源供应器，所述电源供应器提供电源给所述若干热源模块以使其模拟电子元件发热功率。所述电脑主板测试装置使电脑主板在初期设计阶段的测试中不用制作电脑主板样品即可使电脑主板达到优良的散热设计要求，节省了设计成本，缩短了设计时间。

公开(公告)号：CN106104289A

公开(公告)日：2016-11-09

申请号：CN201580013939.4

申请日：2015-03-10

Applicant: AVL里斯脱有限公司

Inventor： G·习普费尔

IPC: G01R31/36

CPC classification number: G01R31/3651 ,  G01R31/2846 ,  G01R31/3658

Abstract: 为了在蓄能器模拟中提高蓄能器模拟的精度而提出，根据所述蓄能器(20)的配置将对所述蓄能器(20)的负载电流要求换算成真实的基准电池单元(6)的电池单元测试器‑负载电流(IZ)，并且用所述电池单元负载电流(IZ)对真实的基准电池单元(6)加载，并且在此测量所述基准电池单元(6)的电池单元电压(UZ)，并且根据所述蓄能器(20)的配置将所述基准电池单元(6)的所述电池单元电压(UZ)换算成第一蓄能器电压(UB)，由所述蓄能器模型(10)和所述负载电流要求计算第二蓄能器电压(UB_Mod)，并且将所述第一蓄能器电压(UB)与所述第二蓄能器电压(UB_Mod)进行比较，并且当所述第一蓄能器电压(UB)以预设的公差范围(TB)偏离于所述第二蓄能器电压(UB_Mod)时，调整所述蓄能器模型(10)。

公开(公告)号：CN104714125A

公开(公告)日：2015-06-17

申请号：CN201410770975.2

申请日：2014-12-15

Applicant: 曼卡车和巴士股份公司

Inventor： M.霍夫曼

IPC: G01R31/00 ,  G01R31/40

CPC classification number: G01M15/044 ,  B60L3/12 ,  B60L11/005 ,  B60L11/1868 ,  B60L2260/44 ,  G01R31/2846 ,  G01R31/34 ,  G01R31/3631 ,  G05B17/02 ,  G05B2219/23446 ,  H01M10/4285 ,  H01M16/00 ,  H01M2220/20 ,  Y02T10/7005 ,  Y02T10/7022 ,  Y02T10/7066

Abstract: 本发明涉及用于开发,优化和/或测试混合能量存储器的系统。本发明还涉及用于开发,优化和/或测试混合能量存储器的方法。系统包括测试布置和模拟装置。测试布置包括混合能量存储器的模拟器,其与行驶操作模拟器连接用于能量接收和/或能量释放,包括:第一能量存储模拟器,至少一个第二能量存储模拟器和功率电子单元。能量存储模拟器分别设计成通过改变能量存储器参数模拟能量存储器的不同类别和/或能量存储器的不同操作状态。控制设备设计成控制功率电子单元,其中控制设备可设计成执行不同控制方法。模拟装置设计成借助于控制设备的不同设备和/或不同能量存储器参数的测试布置模拟混合能量存储器的操作。

公开(公告)号：CN104465436A

公开(公告)日：2015-03-25

申请号：CN201410474824.2

申请日：2014-09-17

Applicant: 东京毅力科创株式会社

Inventor： 村田道雄 ,  森田慎吾 ,  成川健一

IPC: H01L21/66

CPC classification number: G01R31/2889 ,  G01R31/2846 ,  G01R31/2896

Abstract: 本发明提供能够进行高效率的半导体器件的电特性的检查的衬底检查装置。探针器(10)包括具有与形成在晶片(W)上的半导体器件的各电极接触的多个探针(17)的探针卡(15)；和与该探针卡(15)电连接的测试盒(14)，探针卡(15)的卡侧检查电路复现从晶片(W)切出而产品化的安装半导体器件的电路结构，例如功能扩展卡的电路结构，测试盒(14)的盒侧检查电路(21)复现安装半导体器件的电路结构，例如主板电路结构的一部分。

公开(公告)号：CN101313226A

公开(公告)日：2008-11-26

申请号：CN200580052138.5

申请日：2005-12-30

Applicant: 英特尔公司

Inventor： X·韦拉 ,  J·阿韦利亚 ,  O·云萨尔 ,  O·埃尔金 ,  A·冈萨雷斯

IPC: G01R31/26 ,  G06F11/30 ,  G07C3/00

CPC classification number: G06F11/008 ,  G01R31/2846

Abstract: 在一个实施例中，本发明包括一种方法，所述方法用于获得诸如处理器的半导体器件的动态工作参数信息，基于动态工作参数信息确定所述器件的整体或者其一个或多个部分的动态使用情况，并且基于动态使用情况动态估算所述器件的剩余寿命。可以根据估算剩余寿命按照所期望的方式控制所述器件。还描述了其他实施例，并要求对其进行保护。

公开(公告)号：CN1737598A

公开(公告)日：2006-02-22

申请号：CN200510070903.8

申请日：2005-05-16

Applicant: 安捷伦科技有限公司

Inventor： 卢奕锟 ,  韦建峰 ,  陈添福 ,  罗伊·H·威廉斯 ,  黄子龙 ,  刘甄妮 ,  袁启祥

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2834 ,  G01R31/2843 ,  G01R31/2846

Abstract: 本发明提供了一种用于配置自动化在线测试调试器的方法，这种新颖的测试调试与优化配置技术将专家知识配置到知识框架中，以由自动化测试与优化系统用来自动制定在集成电路测试器上执行的有效稳定的在线测试。在包括用于控制集成电路测试器的测试头控制器和自动化调试系统之间交互的基于规则的控制器的系统中，本发明包括知识框架和基于规则的编辑器。知识框架存储以代表调试策略的规则表达的测试知识。基于规则的编辑器帮助使用作为知识的规则来调试或优化将在集成电路测试器上执行的在线测试。

公开(公告)号：CN1280687A

公开(公告)日：2001-01-17

申请号：CN98811726.6

申请日：1998-10-13

Applicant: 艾利森电话股份有限公司

Inventor： H·赫尔姆格伦 ,  L·P·雅各布森 ,  H·舍丁 ,  A·埃克伦德

IPC: G06F17/15 ,  G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2846 ,  G06F17/5036

Abstract: 本发明涉及用厄里电压的变化作为集电极/发射极偏压的函数来改进双极型晶体管模拟的系统。模拟是在标准的Gummel－Poon模型的基础上进行的,其改进在于将恒定的厄里电压代之以分成几个区域的厄里电压。调节厄里电压使之与测得的双极型晶体管厄里电压特性的实际变化相吻合。每个区域的厄里电压用于计算双极型晶体管的基区电荷(qb),然后用基区电荷模拟双极型晶体管的性能。这些区域可通过选择边界条件来连接。

公开(公告)号：CN106483449A

公开(公告)日：2017-03-08

申请号：CN201610812697.1

申请日：2016-09-09

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 杨成林 ,  何安东

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/316

CPC classification number: G01R31/2846 ,  G01R31/2851 ,  G01R31/316

Abstract: 本发明公开了一种基于深度学习与复数特征的模拟电路故障诊断方法，采用仿真软件对无故障状态和各个故障状态进行仿真，依次设置不同的代表性工作频点，在每个测点处分别测得无故障信号的幅值和相位，计算得到信号的实数值和虚数值，将实数值和虚数值构建样本向量，并根据故障状态进行标签标记；采用自编码网络和分类器构成分类网络，采用样本向量和对应标签进行训练，然后在模拟电路需要进行故障诊断时，依次设置不同的代表性工作频点，在各个测点处测得当前的幅值和相位，按照同样式构建样本向量，然后输入训练好的分类网络，得到的分类结果即为故障诊断结果。本发明采用自编码网络并结合信号的复数特征，提高模拟电路故障诊断的准确率。