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公开(公告)号：CN101258453A
公开(公告)日：2008-09-03
申请号：CN200580051556.2
申请日：2005-09-13
Applicant: 爱德万测试株式会社 , 国立大学法人东北大学
IPC: G05B19/418
CPC classification number: G05B19/41875 , G05B2219/32221 , G05B2219/45031 , H01L22/20 , H01L22/34 , H01L2924/0002 , Y02P90/22 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供一种通过多个生产工序生产电子器件的生产系统，具有：生产线，其配备有对相对多个生产工序进行处理的生产装置，生产晶片，电子器件；生产控制部，其通过生产线制造包括含多个被测定晶体管的测试电路的晶片；测定部，其测定测试电路中含有的多个被测定晶体管各自的电特性；确定部，其根据电特性不满足预定基准的被测定晶体管在前述晶片上的分布，确定多个生产工序中产生不良的生产工序；设定变更部，其变更生产装置的处理条件，该生产装置实施与产生前述不良的生产工序对应的处理。
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公开(公告)号：CN101238566B
公开(公告)日：2012-05-09
申请号：CN200580051329.X
申请日：2005-08-18
Applicant: 爱德万测试株式会社 , 国立大学法人东北大学
IPC: H01L21/66 , H01L21/822 , H01L27/04
CPC classification number: H01L23/544 , G01R31/31718 , G11C2029/4402 , H01L21/76254 , H01L22/14 , H01L2223/5444 , H01L2924/0002 , Y10T29/49004 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供电子器件的器件识别方法，是识别具有电子器件实际工作时工作的实际工作电路；以及设有多个测试用元件，在测试电子器件时工作的测试用电路的电子器件的器件识别方法；该方法具有：特性测量步骤，其测试多个测试用元件的电特性；识别信息存储步骤，其作为电子器件的识别信息存储各个测试用元件的电特性；识别信息取得步骤，其为了识别所需的电子器件，测量该电子器件中包含的多个测试用元件的电特性，取得该电子器件的识别信息；匹配步骤，其将识别信息取得步骤取得的前述识别信息与识别信息存储步骤存储的识别信息进行比较，当识别信息一致的情况下，判定为同一电子器件。
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公开(公告)号：CN101273311A
公开(公告)日：2008-09-24
申请号：CN200580051700.2
申请日：2005-09-27
Applicant: 爱德万测试株式会社 , 国立大学法人东北大学
IPC: G05B19/418
CPC classification number: Y02P90/02
Abstract: 本发明提供一种管理方法，该方法是针对通过多道生产工序生产电子器件的被管理生产线，管理各道生产工序中使用的各个生产装置的管理方法；具有：基准特性取得阶段，其取得基准器件的特性，该基准器件通过可实施多道生产工序的、预定的基准生产线生产；比较器件生产阶段，其使被管理生产线处理多道生产工序中的至少一道生产工序，使基准生产线处理其它生产工序，生产比较器件；比较特性测定阶段，其测定比较器件的特性；特性比较阶段，其比较基准器件的特性和比较器件的特性；判定阶段，其根据特性的差异，判定处理比较器件的被管理生产线的生产工序中使用的生产装置是否良好。
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公开(公告)号：CN101258453B
公开(公告)日：2011-07-27
申请号：CN200580051556.2
申请日：2005-09-13
Applicant: 爱德万测试株式会社 , 国立大学法人东北大学
IPC: G05B19/418
CPC classification number: G05B19/41875 , G05B2219/32221 , G05B2219/45031 , H01L22/20 , H01L22/34 , H01L2924/0002 , Y02P90/22 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供一种通过多个生产工序生产电子器件的生产系统，具有：生产线，其配备有对相对多个生产工序进行处理的生产装置，生产晶片，电子器件；生产控制部，其通过生产线制造包括含多个被测定晶体管的测试电路的晶片；测定部，其测定测试电路中含有的多个被测定晶体管各自的电特性；确定部，其根据电特性不满足预定基准的被测定晶体管在前述晶片上的分布，确定多个生产工序中产生不良的生产工序；设定变更部，其变更生产装置的处理条件，该生产装置实施与产生前述不良的生产工序对应的处理。
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公开(公告)号：CN101273311B
公开(公告)日：2010-05-12
申请号：CN200580051700.2
申请日：2005-09-27
Applicant: 爱德万测试株式会社 , 国立大学法人东北大学
IPC: G05B19/418
CPC classification number: Y02P90/02
Abstract: 本发明提供一种管理方法，该方法是针对通过多道生产工序生产电子器件的被管理生产线，管理各道生产工序中使用的各个生产装置的管理方法；具有：基准特性取得阶段，其取得基准器件的特性，该基准器件通过可实施多道生产工序的、预定的基准生产线生产；比较器件生产阶段，其使被管理生产线处理多道生产工序中的至少一道生产工序，使基准生产线处理其它生产工序，生产比较器件；比较特性测定阶段，其测定比较器件的特性；特性比较阶段，其比较基准器件的特性和比较器件的特性；判定阶段，其根据特性的差异，判定处理比较器件的被管理生产线的生产工序中使用的生产装置是否良好。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101238566A
公开(公告)日：2008-08-06
申请号：CN200580051329.X
申请日：2005-08-18
Applicant: 爱德万测试株式会社 , 国立大学法人东北大学
IPC: H01L21/66 , H01L21/822 , H01L27/04
CPC classification number: H01L23/544 , G01R31/31718 , G11C2029/4402 , H01L21/76254 , H01L22/14 , H01L2223/5444 , H01L2924/0002 , Y10T29/49004 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供电子器件的器件识别方法，是识别具有电子器件实际工作时工作的实际工作电路；以及设有多个测试用元件，在测试电子器件时工作的测试用电路的电子器件的器件识别方法；该方法具有：特性测量步骤，其测试多个测试用元件的电特性；识别信息存储步骤，其作为电子器件的识别信息存储各个测试用元件的电特性；识别信息取得步骤，其为了识别所需的电子器件，测量该电子器件中包含的多个测试用元件的电特性，取得该电子器件的识别信息；匹配步骤，其将识别信息取得步骤取得的前述识别信息与识别信息存储步骤存储的识别信息进行比较，当识别信息一致的情况下，判定为同一电子器件。
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公开(公告)号：CN110392936B
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN201780088206.6
申请日：2017-01-10
Applicant: 国立大学法人东北大学
IPC: H01L31/068
Abstract: 本发明的课题之一在于提供一种太阳能电池，不受或实质上不易受UV光的照射历史记录的影响，不存在或实质上不存在使用寿命的劣化。一种将特定条件下的UV劣化防止层设置为层结构要素之一的太阳能电池。UV劣化防止层以使有助于半导体极性的半导体杂质在该UV劣化防止层的层厚方向上进行浓度分布并且在该UV劣化防止层的内部具有浓度分布的极大值(CDMax)的方式含有该半导体杂质，该UV劣化防止层的层厚(d1+d2)在2nm～60nm的范围内，极大值(CDMax)19 3在以下范围内，1×10 个/cm≤极大值(CDMax)≤4×1020个/cm3···式(1)；极大值(CDMax)的半值(b1)的位置位于从UV劣化防止层的光入射侧的表面起的深度位置(A1)处，该深度位置(A1)在极大值(CDMax)的深度位置(A0)
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公开(公告)号：CN110679141B
公开(公告)日：2022-02-15
申请号：CN201880035324.5
申请日：2018-04-23
Applicant: 国立大学法人东北大学
IPC: H04N5/3745 , G01J1/46 , H01L27/146 , H01L31/10
Abstract: 提供兼顾实现了高饱和性能和高灵敏度性能的受光设备。具有受光像素，该受光像素具备：受光元件；第一电容元件(1)，其蓄积通过该受光元件接收光而产生的光电荷；第二电容元件(2)，该电容元件(1)中蓄积的光电荷的量的一部分被传输并蓄积到该第二电容元件(2)；开关单元(S)，其用于进行从所述电容元件(1)向所述电容元件(2)传输光电荷的光电荷传输动作的开启或关闭；复位用开关单元(R)，其用于将所述电容元件(1)和所述电容元件(2)复位；像素选择用开关单元(X)；以及源极跟随开关单元(SF)，其中，所述电容元件(1)的有效饱和电容(1)是所述电容元件(2)的有效饱和电容(2)的10倍～5000倍。
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公开(公告)号：CN112352164A
公开(公告)日：2021-02-09
申请号：CN201980043486.8
申请日：2019-08-08
Applicant: 国立大学法人东北大学 , OHT株式会社
Abstract: 电容检测区域传感器将多个电容传感器元件配置成二维阵列状，呈任意的形状，并与外部电极电容耦合。向外部电极供电具有电位差的检查信号。针对所选择的与外部电极电容耦合的电容传感器元件，在上述检查信号的第一信号时和第二信号时的定时从上述电容传感器元件获取第一传感器输出信号、第二传感器输出信号。生成将所获取到的第一传感器输出信号、第二传感器输出信号取差分而得的差分信号，并基于差分信号的电平来生成以不同的颜色或者不同的灰度表示外部电极的形状的图像。
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公开(公告)号：CN106133924B
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201480077744.1
申请日：2014-03-31
Applicant: 国立大学法人东北大学
Abstract: 提供一种能够以简单的构造来高精度且恰当地测量对人体有害的紫外光的照射量、还能够容易进行与周边电路的传感器的一体制作、小型/轻量且低成本、适于携带(mobile)或者穿戴(wearable)的紫外光用固体受光器件。具备第一光电二极管(1)和第二光电二极管(2)、以及被输入基于来自这些光电二极管(1、2)的输出的各个信号的差动电路，在上述光电二极管(1、2)内和设置在各光电二极管上的半导体层区域中，分别设置半导体杂质的最大浓度位置。
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