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公开(公告)号：CN101238566A
公开(公告)日：2008-08-06
申请号：CN200580051329.X
申请日：2005-08-18
Applicant: 爱德万测试株式会社 , 国立大学法人东北大学
IPC: H01L21/66 , H01L21/822 , H01L27/04
CPC classification number: H01L23/544 , G01R31/31718 , G11C2029/4402 , H01L21/76254 , H01L22/14 , H01L2223/5444 , H01L2924/0002 , Y10T29/49004 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供电子器件的器件识别方法，是识别具有电子器件实际工作时工作的实际工作电路；以及设有多个测试用元件，在测试电子器件时工作的测试用电路的电子器件的器件识别方法；该方法具有：特性测量步骤，其测试多个测试用元件的电特性；识别信息存储步骤，其作为电子器件的识别信息存储各个测试用元件的电特性；识别信息取得步骤，其为了识别所需的电子器件，测量该电子器件中包含的多个测试用元件的电特性，取得该电子器件的识别信息；匹配步骤，其将识别信息取得步骤取得的前述识别信息与识别信息存储步骤存储的识别信息进行比较，当识别信息一致的情况下，判定为同一电子器件。
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公开(公告)号：CN101238566B
公开(公告)日：2012-05-09
申请号：CN200580051329.X
申请日：2005-08-18
Applicant: 爱德万测试株式会社 , 国立大学法人东北大学
IPC: H01L21/66 , H01L21/822 , H01L27/04
CPC classification number: H01L23/544 , G01R31/31718 , G11C2029/4402 , H01L21/76254 , H01L22/14 , H01L2223/5444 , H01L2924/0002 , Y10T29/49004 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供电子器件的器件识别方法，是识别具有电子器件实际工作时工作的实际工作电路；以及设有多个测试用元件，在测试电子器件时工作的测试用电路的电子器件的器件识别方法；该方法具有：特性测量步骤，其测试多个测试用元件的电特性；识别信息存储步骤，其作为电子器件的识别信息存储各个测试用元件的电特性；识别信息取得步骤，其为了识别所需的电子器件，测量该电子器件中包含的多个测试用元件的电特性，取得该电子器件的识别信息；匹配步骤，其将识别信息取得步骤取得的前述识别信息与识别信息存储步骤存储的识别信息进行比较，当识别信息一致的情况下，判定为同一电子器件。
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公开(公告)号：CN101273311A
公开(公告)日：2008-09-24
申请号：CN200580051700.2
申请日：2005-09-27
Applicant: 爱德万测试株式会社 , 国立大学法人东北大学
IPC: G05B19/418
CPC classification number: Y02P90/02
Abstract: 本发明提供一种管理方法，该方法是针对通过多道生产工序生产电子器件的被管理生产线，管理各道生产工序中使用的各个生产装置的管理方法；具有：基准特性取得阶段，其取得基准器件的特性，该基准器件通过可实施多道生产工序的、预定的基准生产线生产；比较器件生产阶段，其使被管理生产线处理多道生产工序中的至少一道生产工序，使基准生产线处理其它生产工序，生产比较器件；比较特性测定阶段，其测定比较器件的特性；特性比较阶段，其比较基准器件的特性和比较器件的特性；判定阶段，其根据特性的差异，判定处理比较器件的被管理生产线的生产工序中使用的生产装置是否良好。
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公开(公告)号：CN101258453B
公开(公告)日：2011-07-27
申请号：CN200580051556.2
申请日：2005-09-13
Applicant: 爱德万测试株式会社 , 国立大学法人东北大学
IPC: G05B19/418
CPC classification number: G05B19/41875 , G05B2219/32221 , G05B2219/45031 , H01L22/20 , H01L22/34 , H01L2924/0002 , Y02P90/22 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供一种通过多个生产工序生产电子器件的生产系统，具有：生产线，其配备有对相对多个生产工序进行处理的生产装置，生产晶片，电子器件；生产控制部，其通过生产线制造包括含多个被测定晶体管的测试电路的晶片；测定部，其测定测试电路中含有的多个被测定晶体管各自的电特性；确定部，其根据电特性不满足预定基准的被测定晶体管在前述晶片上的分布，确定多个生产工序中产生不良的生产工序；设定变更部，其变更生产装置的处理条件，该生产装置实施与产生前述不良的生产工序对应的处理。
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公开(公告)号：CN101273311B
公开(公告)日：2010-05-12
申请号：CN200580051700.2
申请日：2005-09-27
Applicant: 爱德万测试株式会社 , 国立大学法人东北大学
IPC: G05B19/418
CPC classification number: Y02P90/02
Abstract: 本发明提供一种管理方法，该方法是针对通过多道生产工序生产电子器件的被管理生产线，管理各道生产工序中使用的各个生产装置的管理方法；具有：基准特性取得阶段，其取得基准器件的特性，该基准器件通过可实施多道生产工序的、预定的基准生产线生产；比较器件生产阶段，其使被管理生产线处理多道生产工序中的至少一道生产工序，使基准生产线处理其它生产工序，生产比较器件；比较特性测定阶段，其测定比较器件的特性；特性比较阶段，其比较基准器件的特性和比较器件的特性；判定阶段，其根据特性的差异，判定处理比较器件的被管理生产线的生产工序中使用的生产装置是否良好。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101258453A
公开(公告)日：2008-09-03
申请号：CN200580051556.2
申请日：2005-09-13
Applicant: 爱德万测试株式会社 , 国立大学法人东北大学
IPC: G05B19/418
CPC classification number: G05B19/41875 , G05B2219/32221 , G05B2219/45031 , H01L22/20 , H01L22/34 , H01L2924/0002 , Y02P90/22 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供一种通过多个生产工序生产电子器件的生产系统，具有：生产线，其配备有对相对多个生产工序进行处理的生产装置，生产晶片，电子器件；生产控制部，其通过生产线制造包括含多个被测定晶体管的测试电路的晶片；测定部，其测定测试电路中含有的多个被测定晶体管各自的电特性；确定部，其根据电特性不满足预定基准的被测定晶体管在前述晶片上的分布，确定多个生产工序中产生不良的生产工序；设定变更部，其变更生产装置的处理条件，该生产装置实施与产生前述不良的生产工序对应的处理。
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公开(公告)号：CN101646954A
公开(公告)日：2010-02-10
申请号：CN200880010198.4
申请日：2008-03-21
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/28 , H01L21/822 , H01L27/04
CPC classification number: G01R31/31813 , G01R31/318385 , G01R31/318544
Abstract: 本发明提供一种测试装置，是测试具有外部接口电路的被测试器件的测试装置，所述外部接口电路在该器件内部的内部电路和该器件外部之间进行信号传输，所述测试装置包括：接口控制部，使在所述外部接口电路中折回输出所述测试图形；接口判断部，根据所述外部接口电路折回输出的所述测试图形，判定所述外部接口电路的好坏。
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公开(公告)号：CN101233704A
公开(公告)日：2008-07-30
申请号：CN200680027622.7
申请日：2006-07-19
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: H04B10/6932
Abstract: 本发明提供一种光信号接收装置，用于接收光信号，输出通过光信号传输的数码数据的数据值。该装置包括：接收光信号，输出对应光信号强度的光电流的受光元件；将与数码数据的现周期对应的光电流，进行周期内的规定期间积分的现周期积分器；将与现周期的前周期对应的光电流，在该周期中进行和规定的期间大致相等的期间积分的前周期积分器；根据现周期积分器积分的电荷量和前周期积分器积分的电荷量的差分，输出数码数据的现周期中的数据值的数据值识别电路。
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公开(公告)号：CN1883153A
公开(公告)日：2006-12-20
申请号：CN200480034306.3
申请日：2004-04-28
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: H03L7/0812 , G01R31/31922 , H03K5/135 , H03K2005/00026 , H03L7/0805 , H04L1/205 , H04L1/24 , H04L7/0008 , H04L7/0037 , H04L7/0041
Abstract: 本发明的一种时钟恢复电路，包括：多级第1可变延迟元件，使数据信号依次延迟第1延迟量；多级第2可变延迟元件，使时钟信号依次延迟大于第1延迟量的第2延迟量；多个定时比较器，根据因同一级第2可变延迟元件而延迟的时钟信号，对因多级第1可变延迟元件而延迟的多个数据信号进行抽样；多个EOR电路，对连续的2个定时比较器的2个抽样结果进行逻辑异或运算；以及恢复可变延迟电路，依据多个EOR电路的运算结果，使时钟信号延迟。
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公开(公告)号：CN1833175A
公开(公告)日：2006-09-13
申请号：CN200480022637.5
申请日：2004-04-28
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/3181
CPC classification number: G01R31/31922 , H03K5/133 , H03K5/135 , H03K2005/00026 , H03L7/07 , H03L7/0805 , H03L7/0812 , H03L7/0814 , H03L7/091 , H04L7/00 , H04L7/0037 , H04L7/0041
Abstract: 本发明中所述的数据取样装置包含：多数段第1可变延迟元件，其以第1延迟量依次延迟数据信号；多数段第2可变延迟元件，其以大于第1延迟量的第2延迟量依次延迟选通信号；以及多数个时序比较器，其利用由同一段的第2可变延迟元件而延迟的选通信号，对由多数段第1可变延迟元件而延迟的多数个数据信号进行取样；并且，时序比较器具备：动态D－FF电路，其根据选通信号且使用寄生电容锁存数据信号并进行输出，以及正反馈D－FF电路，其根据延迟的选通信号且使用正反馈电路将动态D－FF电路所输出的输出信号锁存并进行输出。
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