非接触型基板检查装置及其检查方法

    公开(公告)号:CN107449990A

    公开(公告)日:2017-12-08

    申请号:CN201710403144.5

    申请日:2017-06-01

    Abstract: 本发明涉及一种非接触型基板检查装置及其检查方法,具备将在具有分支部位的配线图案上以非接触方式一同配置的基准传感器及信号传感器的检测信号放大的增益调整单元,生成利用差分放大器将调整了增益的各检测信号的差放大的判定用信号,将判定用信号除以预定的基准值,求变化率,将所述变化率与预先设定的阈值进行比较,进行不良判定。

    导电体图案检查装置
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107064706B

    公开(公告)日:2019-07-30

    申请号:CN201611060604.0

    申请日:2016-11-25

    Abstract: 导电体图案检查装置中,第一传感器电极与供电了检查信号的第一导电体图案电容耦合而检测第一检测信号,第二传感器电极与没有供电检查信号的第二导电体图案电容耦合而在第二导电体图案中流过了检查信号时检测其作为第二检测信号,检测信号处理部算出将第一检测信号和第二检测信号相加后的和信号、和从第一检测信号减去了第二检测信号的差信号,将差信号除以和信号,生成判定用信号。将该判定用信号与阈值进行比较,判定有无短路的缺陷。

    导电体图案检查装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107064706A

    公开(公告)日:2017-08-18

    申请号:CN201611060604.0

    申请日:2016-11-25

    CPC classification number: G01R31/024

    Abstract: 导电体图案检查装置中,第一传感器电极与供电了检查信号的第一导电体图案电容耦合而检测第一检测信号,第二传感器电极与没有供电检查信号的第二导电体图案电容耦合而在第二导电体图案中流过了检查信号时检测其作为第二检测信号,检测信号处理部算出将第一检测信号和第二检测信号相加后的和信号、和从第一检测信号减去了第二检测信号的差信号,将差信号除以和信号,生成判定用信号。将该判定用信号与阈值进行比较,判定有无短路的缺陷。

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