光学部件保持单元
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1922526A

    公开(公告)日:2007-02-28

    申请号:CN200580005167.6

    申请日:2005-02-17

    CPC classification number: G02B7/003

    Abstract: 本发明的目的是提供一种容易安装并且既能确保组装时的低成本以及再现性,又能提高定位精度的光学部件保持单元。通过围绕或形成可使光通过的开口部(22a、22b),横截面为非圆形的矩形凸部(8a)以及矩形孔的嵌合,和横截面为圆形的圆形凸部(11a)以及圆形孔的嵌合,将邻接的光学部件保持单元(35)导入规定的位置并可拔脱地进行连接,在三维方向定位,同时,通过矩形凸部(8a)以及矩形孔的嵌合,和弹簧销(13a)以及嵌合孔的嵌合,在旋转方向限制邻接的光学部件保持单元(35),在旋转方向上进行定位。

    显微镜和试料观察方法
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100388043C

    公开(公告)日:2008-05-14

    申请号:CN200580001606.6

    申请日:2005-02-25

    CPC classification number: G02B21/0016 G02B21/33 Y10S359/90

    Abstract: 本发明的显微镜和试料观察方法,对于检查对象的半导体器件S,设置:图像取得部(1)、包含物镜(20)的光学系统(2)、和可在包含从半导体器件(S)向物镜20的光轴的插入位置与偏离光轴的待机位置之间移动的固态浸没透镜(SIL3)。而且,以两种控制模式进行观察;第一模式,将(SIL3)配置在待机位置,根据半导体器件(S)的基板的折射率(n0)和厚度(t0)修正焦点和像差;第二模式,将(SIL3)配置在插入位置,根据基板的折射率(n0)、厚度(t0)、(SIL3)的折射率(n1)、厚度(d1)和曲率半径(R1),修正焦点和像差。由此,可获得易于对半导体器件的微细构造进行解析等必要的试料观察的显微镜和试料观察方法。

    光学部件保持单元
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100458486C

    公开(公告)日:2009-02-04

    申请号:CN200580005167.6

    申请日:2005-02-17

    CPC classification number: G02B7/003

    Abstract: 本发明的目的是提供一种容易安装并且既能确保组装时的低成本以及再现性,又能提高定位精度的光学部件保持单元。通过围绕或形成可使光通过的开口部(22a、22b),横截面为非圆形的矩形凸部(8a)以及矩形孔的嵌合,和横截面为圆形的圆形凸部(11a)以及圆形孔的嵌合,将邻接的光学部件保持单元(35)导入规定的位置并可拔脱地进行连接,在三维方向定位,同时,通过矩形凸部(8a)以及矩形孔的嵌合,和弹簧销(13a)以及嵌合孔的嵌合,在旋转方向限制邻接的光学部件保持单元(35),在旋转方向上进行定位。

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