IGBT子模组单元及其封装模块

    公开(公告)号:CN105047653B

    公开(公告)日:2018-11-20

    申请号:CN201510405002.3

    申请日:2015-07-10

    Abstract: 本发明公开了一种IGBT子模组单元及其封装模块,属于半导体器件封装技术领域,解决现有压接型IGBT封装结构中辅助发射极回路的杂散参数不一致的技术问题。该IGBT子模组单元包括:IGBT芯片;发射极钼片,其一面与所述IGBT芯片的发射极的部分相接触;集电极钼片,其一面与所述IGBT芯片的集电极接触;第一导电件,其一端与所述IGBT芯片的发射极接触;安装底座,其上设置有用于容纳所述发射极钼片的第一孔洞和用于使所述第一导电件从中穿过的第二孔洞,所述安装底座的第一孔洞的边缘上还设置有卡接部件。

    一种列车完整性的检测方法

    公开(公告)号:CN104925090B

    公开(公告)日:2017-03-01

    申请号:CN201510356905.7

    申请日:2015-06-25

    Abstract: 本发明公开了一种列车完整性的检测方法,属于列车技术领域,以解决现有技术中的列车完整性检测方法的准确程度不高,易受列车接口状态影响的技术问题。该列车完整性的检测方法包括:第一车载设备获取来自最后参考应答器组的信息;第一车载设备根据获取到的信息,结合获取到的第一运行速度和预设置的列车路线计算第一位置,其中,第一运行速度是第一车载设备获取到的列车运行速度,第一位置是第一车载设备的当前位置;第一车载设备获取来自第二车载设备的第二位置,其中,第二位置为第二车载设备的当前位置;第一车载设备结合预设置的列车路线和列车长度,根据第一位置和第二位置,判断列车是否完整。

    一种主控车载设备、非主控车载设备和列车系统

    公开(公告)号:CN105035122A

    公开(公告)日:2015-11-11

    申请号:CN201510357509.6

    申请日:2015-06-25

    Abstract: 本发明公开了一种主控车载设备、非主控车载设备和列车系统,属于列车技术领域,以解决现有技术中的列车完整性检测的准确程度不高,易受列车接口状态影响的技术问题。该主控车载设备包括:通信装置,用于获取来自最后参考应答器组的信息、获取来自所述非主控车载设备的第二位置,其中,所述第二位置为所述非主控车载设备的当前位置;处理装置,用于根据获取到的信息,结合获取到的第一运行速度和预设置的列车路线计算第一位置,其中,所述第一运行速度是所述主控车载设备获取到的列车运行速度,所述第一位置是所述主控车载设备的当前位置;检测装置,用于结合预设置的列车路线和列车长度,根据所述第一位置和所述第二位置,检测列车是否完整。

    一种列车完整性的检测方法

    公开(公告)号:CN104925090A

    公开(公告)日:2015-09-23

    申请号:CN201510356905.7

    申请日:2015-06-25

    Abstract: 本发明公开了一种列车完整性的检测方法,属于列车技术领域,以解决现有技术中的列车完整性检测方法的准确程度不高,易受列车接口状态影响的技术问题。该列车完整性的检测方法包括:第一车载设备获取来自最后参考应答器组的信息;第一车载设备根据获取到的信息,结合获取到的第一运行速度和预设置的列车路线计算第一位置,其中,第一运行速度是第一车载设备获取到的列车运行速度,第一位置是第一车载设备的当前位置;第一车载设备获取来自第二车载设备的第二位置,其中,第二位置为第二车载设备的当前位置;第一车载设备结合预设置的列车路线和列车长度,根据第一位置和第二位置,判断列车是否完整。

    一种主控车载设备、非主控车载设备和列车系统

    公开(公告)号:CN105035122B

    公开(公告)日:2017-07-28

    申请号:CN201510357509.6

    申请日:2015-06-25

    Abstract: 本发明公开了一种主控车载设备、非主控车载设备和列车系统,属于列车技术领域,以解决现有技术中的列车完整性检测的准确程度不高,易受列车接口状态影响的技术问题。该主控车载设备包括:通信装置,用于获取来自最后参考应答器组的信息、获取来自所述非主控车载设备的第二位置,其中,所述第二位置为所述非主控车载设备的当前位置;处理装置,用于根据获取到的信息,结合获取到的第一运行速度和预设置的列车路线计算第一位置,其中,所述第一运行速度是所述主控车载设备获取到的列车运行速度,所述第一位置是所述主控车载设备的当前位置;检测装置,用于结合预设置的列车路线和列车长度,根据所述第一位置和所述第二位置,检测列车是否完整。

    IGBT子模组单元及其封装模块

    公开(公告)号:CN105047653A

    公开(公告)日:2015-11-11

    申请号:CN201510405002.3

    申请日:2015-07-10

    Abstract: 本发明公开了一种IGBT子模组单元及其封装模块,属于半导体器件封装技术领域,解决现有压接型IGBT封装结构中辅助发射极回路的杂散参数不一致的技术问题。该IGBT子模组单元包括:IGBT芯片;发射极钼片,其一面与所述IGBT芯片的发射极的部分相接触;集电极钼片,其一面与所述IGBT芯片的集电极接触;第一导电件,其一端与所述IGBT芯片的发射极接触;安装底座,其上设置有用于容纳所述发射极钼片的第一孔洞和用于使所述第一导电件从中穿过的第二孔洞,所述安装底座的第一孔洞的边缘上还设置有卡接部件。

    一种列车自动运行系统的检测系统

    公开(公告)号:CN104913942A

    公开(公告)日:2015-09-16

    申请号:CN201510357145.1

    申请日:2015-06-25

    Abstract: 本发明公开了一种列车自动运行系统的检测系统,属于列车技术领域,为一种集成了实验室检测功能和现场检测功能的检测系统。该列车自动运行系统的检测系统包括获取模块,获取用户输入或现场检测的列车参数,并获取载入的列车线路数据;运行检测模块,根据所述获取模块获取的列车参数和列车线路数据,检测列车自动运行系统对列车的运行驱动功能;停车检测模块,当检测到列车的运行速度为零时,检测列车自动运行系统对列车的停车处理功能。

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